臺灣高雄地方法院民事判決 94年度智字第21號原 告 Electro S.
科學工業有限公司法定代理人 Nicholas .訴訟代理人 黃章典律師
呂 光律師複代理人 張哲倫律師
吳文淑律師徐瑞如律師被 告 萬潤科技股份有限公司兼法定代理 盧鏡來人訴訟代理人 林石猛律師
邱基峻律師黃致穎律師黃清江律師蔡明哲律師陳豐裕律師當事人間專利權損害賠償事件，本院民國100 年3 月31日言詞辯論終結，判決如下：
主 文被告就其型號RK-T2000之電容測試機、RK-T6600之六軌電容測試機、RK-L50電感測試機，或其他一切侵害原告中華民國第207469號發明專利之產品，不得自行或使第三人直接或間接為製造、為販賣之要約、販賣、使用或為上述目的而進口或其他一切相關之侵權行為。
被告不得自行或使第三人直接或間接陳列或散布各式型號為RK-T2000之電容測試機、RK-T6600之六軌電容測試機、RK -L50 電感測試機，或其他一切侵害原告中華民國第207469號發明專利之產品之廣告、型錄、標貼、說明書、價目表或其他具有促銷宣傳性質之文書、亦不得於報章雜誌或其他任何傳播媒體為廣告行為。
被告應連帶給付原告新台幣柒億元及自民國九十四年十一月四日起至清償日止，按年息百分之五計算之利息。
本判決第三項於原告以新台幣參億元或同額之滙豐（台灣）商業銀行股份有限公司台北分行出具之保證書為被告供擔保後，得假執行。但被告如以新台幣柒億元為原告供擔保後，得免為假執行。訴訟費用由被告負擔。
事實及理由
一、原告主張：原告為發明專利第207469號電路元件裝卸裝置之專利權人（下稱系爭專利權），專利期間自民國89年11月11日至105 年4 月29日，且將此專利技術用於各項電子產業之生產銷售。詎被告萬潤科技股份有限公司（下稱萬潤公司）竟未經伊之授權或同意，自90年1 月起在其所製造並銷售之型號RK-T2000之電容測試機、RK-T6600及RK-T6700之六軌電容測試機、RK-L 50 電感測試機上（下稱T2000 、T6600 、T6700 、L50 ），使用上開專利技術，並經鑑定比對結果，其設計及整體裝置功效均已落入系爭專利權之範圍而侵害原告之權利。原告自得依專利法第84、85條之規定，請求被告萬潤公司不得再為製造販賣等相關侵權行為，並應賠償新台幣（下同)7億元。又被告盧鏡來為被告萬潤公司負責人，依公司法第23條及民法第28條規定，自應就被告萬潤公司之上開侵權行為負連帶賠償責任。爰依上開專利法等規定，提起本訴，並聲明請求為命：（一) 被告就其型號RK-T2000之電容測試機、RK-T6600之六軌電容測試機、RK-L50電感測試機，或其他一切侵害原告中華民國第207469號發明專利之產品，不得自行或使第三人直接或間接為製造、為販賣之要約、販賣、使用或為上述目的而進口或其他一切相關之侵權行為。（二）被告不得自行或使第三人直接或間接陳列或散布各式型號為RK-T2000之電容測試機、RK-T6600之六軌電容測試機、RK -L50 電感測試機，或其他一切侵害原告中華民國第207469號發明專利之產品之廣告、型錄、標貼、說明書、價目表或其他具有促銷宣傳性質之文書、亦不得於報章雜誌或其他任何傳播媒體為廣告行為。（三）被告應連帶給付7 億元及自起訴狀繕本送達翌日起算按年息百分之5 計算之法定遲延利息。（四）前三項請求原告願以現金或同額之香港商香港上海匯豐銀行股份有限公司台北分行出具之保證書供擔保，請准宣告假執行。
二、被告則抗辯：被告所製造販賣之系爭機器，並無落入系爭專利權之範圍，即無侵害原告權利之情事，原告所稱之鑑定比對，或為原告所自行委任或其鑑定之過程及方法並不適當而有瑕疵或因其專利權範圍已有更正，即不得採為認定被告有侵權之論據，原告之請求，並無所據。又縱認被告有侵權情事，原告所主張計算損害之方式亦與事實不符等語。並聲明：（一）原告之訴駁回。（二）如受不利判決願供擔保免為假執行。
三、兩造不爭執事項：㈠原告為發明專利第207469號電路元件裝卸裝置之專利權人，
專利期間自民國89年11月11日至105年4月29日，且將此專利技術用於各項電子產業之生產銷售。其專利權之範圍，自96年8月15日由原有之19項減縮更正為17項。有專利證書、專利說明書即更正說明資料在卷可稽。（卷㈠第14、78-129、附件4-49頁、卷㈢P225-226、卷㈣第163-182頁）㈡被告萬潤公司自90年1 月起，即有製造並銷售之型號RK-T20
00之電容測試機、RK-T6600之六軌電容測試機及RK-L50電感測試機（下稱系爭3 件機器）之情事。（卷㈠第15-25 頁、卷㈣P86 ）㈢被告萬潤公司於94年間曾就系爭專利權向智慧財產局提出舉
發案，經智慧財產局於96年間審定後，認為本件專利原19項請求項中之請求項1 及12不具進步性，原告乃於96年8 月15日依據智慧局之指示更正本件專利範圍，即刪除原獨立請求項1 及12，並將其餘部分附屬於原獨立請求項1 及12之附屬請求項改寫為獨立請求項形式，嗣智慧局於97年間為舉發不成立之處分，被告萬潤公司乃提出訴願，經經濟部訴願委員會於98年間基於程序理由將原處分撤銷，由智慧財產局另為適法之處分，經智慧財產局於98年間重新審定後，仍為舉發不成立之處分，嗣經被告於98年間再度提起訴願，再經經濟部於99年間駁回被告所提之訴願，被告於99年間對智慧局所作出之舉發不成立及經濟部作出之駁回決定，向智財法院提起行政訴訟，經智財法院於99年12月2 日駁回本案被告所提起之行政訴訟，被告未於期限內提起上訴，該舉發案已終局確定，確認本件專利請求項1 至17均具進步性，其專利權仍為有效，有經濟部智慧財產局第0000 00000NO1 號專利舉發審定書及經濟部訴願委員會經訴字第09 806109060號訴願決定書在卷可憑。（卷㈠第257-314 頁、卷㈡第19-44 頁、卷㈢第293-317 頁、卷㈤第12-22 、180- 194頁）。
㈣被告盧鏡來於上開系爭機器製造及銷售期間為萬潤公司之董事長。有萬潤公司之登記資料在卷可稽。（卷㈠第頁）。
四、本件爭點：
（一）被告所有之系爭機器是否侵害原告修正後系爭專利權之範圍?
（二）專利權之侵權賠償責任，是否以故意或過失為必要? 被告是否有故意或過失?
（三）被告盧鏡來是否應與被告萬潤公司負連帶賠償責任?
（四）系爭機器如有侵害原告之專利權，原告得請求之損害賠償金額若干為適當?
五、被告所有之系爭機器是否侵害原告修正後系爭專利權之範圍?茲分述如下：
（一）本件專利權之範圍，依據中華民國發明專利證書號數207460號，其專利之範圍如附表一所示，即包括19個請求項，於被告舉發程序階段，智慧局於96年7 月5 日審查意見通知函，表示本件原專利19個請求項中之2 個請求項即第1及第12項不具進步性，原告乃於96年8 月15日依據智慧局之指示更正本件專利範圍，即刪除原獨立請求項第1 及第12，並將其餘部分附屬於原獨立請求項1 及12之附屬請求項，改寫為獨立請求項形式，並調整各項請求項之編號，即更正後之專利權範圍，依據中華民國發明專利證書號數207469，專利名稱為「電路元件裝卸裝置」之第00000000
0 號專利申請案，96年8 月15日中文申請專利範圍更正本之專利範圍，如附件二所示，此有專利更正申請書、第000000000 號申請案中文申請專利範圍可證。嗣智慧局於97年間為舉發不成立之處分，被告萬潤公司乃提出訴願，經經濟部訴願委員會於98年間基於程序理由將原處分撤銷，由智慧財產局另為適法之處分，經智慧財產局於98年間重新審定後，仍為舉發不成立之處分，嗣經被告於98年間再度提起訴願，再經經濟部於99年間駁回被告所提之訴願，被告於99年間對智慧局所作出之舉發不成立及經濟部作出之駁回決定，向智財法院提起行政訴訟，經智財法院於99年12 月2日駁回本案被告所提起之行政訴訟，被告未於期限內提起上訴，該舉發案已終局確定，確認本件專利請求項1 至17 均 具進步性，其專利權仍為有效，此有經濟部智慧財產局第000000000NO1號專利舉發審定書及經濟部訴願委員會經訴字第09 806109060號訴願決定書在卷可憑。
（卷㈠第257-314 頁、卷㈡第19-44 頁、卷㈢第293-317頁、卷㈤第12-22 、180- 194頁），並為兩造不爭執，已如前述。
（二）專利權更正後之17項請求項範圍，與更正前之範圍是否有變動?本件專利範圍之更正，係刪除原來的請求項第1 及12，剩餘的各依附項之性質，項次及依附關係，在不變更原有之依附關係下分別成為如下狀況：⑴原分別依附於第1 項之原第2 、3 、6 、7 及11項分別成為獨立項，其項次分成為第1 、2 、5 、6 及10項。⑵分別依付第12項之原第13、14項分別成為獨立項，其項次分別成為第11、12項; 原依附於原第12項之依附項第17項亦成為獨立項，其項次仍為17，以免影響更正後第12、13、14、15、16項必須自成一群組之撰寫實務。即原來的19項變成17項，剩下的17項即為更正後之專利權範圍，而其他的17項於專利範圍更正前與更正後係相同，並未變更等情，業據鑑定人吳洲平於本院證述明確（本院卷十一第58頁），且鑑定人陳英本於本院亦證述：更正前第2 項是附屬項，解讀時，要把第1項的要件與第2 項的要件全部加起來一起解讀，更正後刪除第1 項，現在的第1 項就等於更正前的第2 項加上第1項，所以更正後的第1 項等，屬於同一範圍，更正後1、2、5 、6 、10、12、17項就等於更正前的2 、3 、6 、7、11、14、17項，這是正確的，又更正後的3 、4 、7 、
8 、9 、13、14、15、16跟更正前比較，內容完全沒有變動，只有條項變更等語（本院卷十一第11頁反面）。參以智慧財產法院99年度行專訴字第68號判決，亦認為本件原告於96年8 月15日更正申請專利範圍，經智慧局審查認為該更正本與公告本比較，為申請專利範圍減縮之更正，並未超出申請時原說明書或圖式所揭示之範圍，且未實質擴大或變更申請專利範圍，符合現行專利法第64條第1 項第
1 款及第2 項之規定准予更正，且系爭專利權之更正，既將原來已有請求之專利權，僅形式由原為附屬項改為獨立項，其權利範圍並無任何變動，當然亦可准予更正，此有該院上開判決可佐。綜上，足證系爭專利權更正後之17項請求項範圍，與更正前之範圍係屬相同，並無變動。被告抗辯：原告將該申請專利範圍擴張過廣云云，亦不足採。
（三）系爭專利更正是否改變結構特徵或手段功能用語特徵?本件專利元件(a）及(f）更正前後均維持結構特徵，元件
(b) 、(c）、(d）、（e)、(h）更正前後均維持手段功能用語之特徵等情，業據鑑定人吳洲平、陳英本於本院證述明確( 本院卷十一第59、14頁) ，亦即第1 項之(a) 及(f
)於更正前、後之字義仍相同，且係屬結構用語。另第1項更正後(b) 、(c）、(d）、（e)、(h）及(h) 對應更正前之附屬項，係皆屬於功能手段用語撰寫者。此外，經濟部99年2 月9 日訴願決定書第14頁亦肯認：「系爭專利之申請專利範圍更正本既未更改原文字記載型式，只是單純合併附屬項及獨立項，系爭專利之申請專利範圍係以手段功能用語表示。」等語，有該訴願決定書可證，被告抗辯：原本為結構特徵者，經更正後變成手段功能用語，或原本為手段功能用語特徵，經更正後變成結構特徵云云，自不足採。
（四）本院於95、96年間委託台灣省機械技師公會( 下稱技師公會) 鑑定被告所有系爭3 件機器，是否侵害原告之專利，經該技師公會分別95年11月3 日就RK-T6600、96年5 月7日RK-T2000、96年10月17日RK-L50作出侵害本件專利之報告，並就本件每一請求項逐項進行鑑定，結果認為：本專利申請專利範圍與系爭機器之文義讀取分析，依據各項要件比對，本專利與系爭機器之專利各項要件均相互符合，因此全要件原則可知，系爭機器已完全符合專利各項申請專利範圍之文義讀取，所以需就逆均等論再作考量。再依逆均等論分析，經審酌本專利說明書並觀察比較系爭機器，系爭機器之用途、功能及技術手段，皆與本專利之申請專利範圍相同，無實質差異，故不適用逆均等論，即落入專利權（文義）範圍。又基於專利侵害鑑定要點之鑑定流程可知，因待鑑定對象符合文義讀取（基於全要件原則），並進入逆均等論分析，故無須進一步以禁反言原則分析。綜上，系爭機器與本專利申請範圍均實質相同。亦即被告系爭機器RK-T6600及RK-T2000侵害所有請求項1 至19，而RK-L50侵害請求項第1 、第3 至6 、第12及第14至16項，此有上揭鑑定報告附於卷外可證。而台大嚴慶齡工業研究中心鑑定報告，亦表示：原告3340測試機包含本件專利原獨立請求項1 及12特徵(a) 至(g) 之結論，該報告並以原告3340測試機之特徵於本件專利對應特徵相符作為基礎，將被告RK-T6600機器及RK-L50機器之對應特徵(a) 至
(g) 與本件專利原獨立請求項1 及12特徵(a) 至(g) 相同或實質相同之結論( 本院卷一原證6 、7)。
（五）原告雖於技師公會作成上述95、96年鑑定報告後進行專利更正，即刪除本件專利之原獨立請求項1 及12，惟查，技師公會95、96年報告，仍足以證明被告系爭機器侵害更正後所有請求項1 至17。技師公會95、96年報告之鑑定，實係針對本件專利原19各請求項逐一進行鑑定，因此原告雖刪除了原請求項1 及12，該刪除並不影響技師公會對被告的RK-T6600及RK-T2000所為侵害更正前請求項2 至11，及13至19( 即更正後請求項1 至17) 之認定，亦不影響技師公會對被告RK-L50所為侵害更正前請求項第1 、第3 至6、第12及第14至16( 即更正後請求項2 、5 至10及12至14) 之認定，此亦據鑑定人吳洲平於本院證述：本件專利更正後，技師公會有接到法院的囑託，伊有從頭再比對過一次，然後伊等發現結論仍然是跟95年、96年的結論是相同的，也就是原來的專利有19項，刪掉了2 項，其他的權利範圍都一樣，所以公會在95年、96年報告認定RK-T6600跟RK-T2000侵害系爭專利全部項次的結論，仍然適用在目前專利的請求項1 到17項，所以這2 台機器，至今仍認為侵害系爭專利的第1 項到17項全部的文義侵權；而關於RK-L 50 ，認為侵害更正前的3 、4 、6 項，而更正前的
3 、4 、6 項就是現在系爭專利的2 、3 、5 項，至今還是認為RK-L50侵害系爭專利的更正後，也就是現在專利的
2 、3 、5 項（本院卷㈩第349 、358 頁）。
（六) 被告抗辯：技師公會95、96年鑑定報告，並未遵循專利法
施行細則第18條第18項之規定，解釋本件專利申請專利範圍中之手段功能用語特徵云云。然查，鑑定人吳洲平於本院證述：伊於民國95、96年間，有參與RK-T6600、RK-T2000及RK-L50這3 個待鑑定物所進行之鑑定程序，並包括撰擬報告，本專利權係屬於以手段功能用語表示方式之發明專利，應依據專利侵害鑑定要點第33頁四、解釋申請專利範圍之原則，應將專利說明書中對應該功能之結構、材料或動作及該發明所屬技術領域中具有通常知識者不會產生疑議之均等物或均等方法，一併與待鑑定對象比對。本會鑑定確實依據專利圖式及說明書，對應該功能之結構、材料或動作進行鑑定，且技師公會在95年及96年間做鑑定的時候，已踐行專利法施行細則第18條第8 項有關於手段功能用語的侵害分析的程序等語（本院卷（十一）第59頁），則被告上開抗辯，不足採信。
（七）被告又抗辯：技師公會製作95、96年報告時，並未實際勘驗系爭機器云云。查，鑑定人吳洲平於本院證述：伊與另一位製作技師公會95、96年鑑定報告前，曾親自勘驗被告所有之RK-T6600跟RK-T2000機器等語（本院卷第57頁）。而就RK-T2000機器部分，係於96年4 月24日由兩造會同技師公會人員到現場勘驗，並作成勘驗記錄，而RK-T6600部分，亦經技師公會於95年10月2 日派員至現場勘驗，並製作繪勘紀錄表及拍攝照片，此均有技師公會96年10月17日及95年11月3 日鑑定報告可證，嗣因被告拒絕提供RK-L50機台鑑定，本院乃於96年7 月16日發函囑託技師公會依據被告網頁上產品照片作為鑑定依據，嗣被告於98 年 間，表示願意提供RK-L 50 機台鑑定，技師公會原鑑定技師之一之吳洲平於實際勘驗後，於99年1 月6 日報告初稿中認RK-L50機台侵害本件專利權，此有其補充鑑定說明書可證。被告之抗辯，自不足採。
（八）被告復抗辯系爭機器並無侵害原告之專利權，並提出中興大學及財團法人中華工商研究院之鑑定報告為證( 本院卷一第67頁至253 頁) 。惟查，
1、依中興大學於91年12月9 日所出具之鑑定報告結果，認為RK-T6600機器之構造與專利範圍相比，其中該機器除業界習用技術重疊外，其相對旋轉之對稱雙測試轉盤，待測物件導料，分配及缺漏件檢知補救之構造技術思想與結構特徵，與專利案之申請專利範圍不相同。是待鑑物即該機器之軸座構造無侵害上開專利權，此有該鑑定報告書可證(本院卷一第68頁) ，然該鑑定報告亦指出，於其請求項表列中，顯示本件專利公告版本中之請求項13、14、16至21所載之發明內容，均具體表現於被告RK-T6600機器( 本院卷一第74頁) ，然中興大學作出不侵害專利權之結論，尚有違誤。蓋依據專利侵害要點第38頁之規定，當一申請專利之範圍之所有技術特徵均已表現在被控侵權機器上時，被控侵權機器具有額外之技術特徵，並不影響被控侵權機器侵害該申請專利之範圍之事實。惟該報告卻以被告之上開機器包括本件專利申請範圍以外之技術特徵，認定不侵權，顯然違反上述規定。又依據專利侵害鑑定要點第44頁「先前技術阻卻」成立要件之規定，當申請專利範圍之所有技術特徵均可文義的或均等的表現在待鑑定物上時，即應認定待鑑定物落入該申請專利範圍中，而先前技術阻卻抗辯僅為均等論侵權之抗辯，而非文義侵權之抗辯。惟查，該報告卻以被告上開機器之特徵與本件專利申請專利範圍特徵之共通部分為習知之技術為由，認定不侵權，顯然違反上開規定。查該報告實質上已認定上開機器文義侵害本件專利公告版中之請求項13、14及16至21( 除前述請求項13現已刪除外，其餘請求項對應於目前請求項10以及12至17) ，因此機器的特徵與本專利申請專利範圍特徵之共通部分是否為習知，並不影響侵權之認定。
2、依中華工商研究院於94年間出具之鑑定報告所示，認定被告RK-T6600機器未落入系爭專利申請之專利範圍，即不為本案發明專利之申請專利範圍所涵括( 本院卷一第224 頁反面），惟該鑑定報告認定該機器包含本件專利獨立請求項1 及12之所有技術特徵(a) 至( ｇ），而依專利侵害鑑定要點第44頁規定，專利權應視為有效，鑑定時不得就專利權之有效性進行判斷。惟查，該報告認定未侵權，係因其認定所謂前案證據CH-1200 足認本件專利申請專利範圍無效，亦即如基於認定本件專利有效，其實係認定系爭機器侵權，此外，於舉發程序中，智慧財產法院亦已認定CH-1 200機器根本不具證據能力，就被告擬據所謂前案證據
CH -1200機器主張原告本件專利無效之主張，明確表示不予採納，有上開法院99年度行專訴字第47號判決第18頁可按。準此，原告亦已證明被告之機器侵害原告之本件專利，被告之抗辯，並無理由。
（九）本院嗣於98年4 月29日就專利更正後，原鑑定結果是否會有不同之問題，發函請技師公會就更正後之專利範圍再為審核，並就專利範圍更正後，技師公會原鑑定結果是否會有不同為詢問，該會於99年5 月18日為專利權更正後侵害鑑定報告，其結論為被告所有之系爭機器共3 件，與中華民國發明專利第207469號電路元件裝卸裝置更正後之申請專利範圍，實質不同而未落入專利權範圍。此有該鑑定報告附於卷外可證。惟查，上開鑑定報告有下述錯誤：
1、陳英本證述: 系爭專利請求項中之元件(a) 及(f) 於更正前、後均為以結構方式表示，及元件(b) 至(e) 、(g) 及
(h) 於更正前、後均為以手段功能用語方式表示（參筆錄第17頁）。原先於請求項中，以結構方式表示的技術特徵，亦並未改變成為以手段功能用語方式表示的技術特徵；而原先於請求項中，以手段功能用語方式表示的技術特徵，亦並未改變成為以結構方式表示的技術特徵。
2、陳英本於本院出庭作證時，原告指出99年5 月18日之鑑定報告，包含諸多錯誤，陳英本並同意重新考量作證過程所討論之事項，並製備一補充意見。在該補充意見中，陳英本承認其在99年5 月18日之報告中有下列錯誤：
⑴ 依補充意見說明⑴，陳英本承認其針對本件專利元件
（ｃ）在環座旋轉所經之路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構) 的文義侵權分析有誤，並將元件（ｃ）對應結構的解釋由原先的「四個」坐入柵板，改成「複數」個坐入柵板，陳英本因此針對RK-T6 600 跟RK-T2000機器，對元件（c)的文義讀取比對部分之結果由「不符合」改成「符合」。（陳英本99年9 月23日筆錄第21至24頁）。
⑵依補充意見⑵，陳英本承認其針對本件專利元件（e)（
在環座旋轉所經的路徑中，用以充份地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構）的文義侵權分析有誤，並將元件（e)對應結構的解釋由先的「五個端子模組」改成「複數個端子模組」。陳英本因此針對RK-T6600及RK-T2000機器，對元件（e)的文義讀取比對部分的結果，由「不符合」改為「符合」。（陳英本99年9 月23日筆錄第24、25頁）。
⑶依補充意見⑶以及陳英本證述過程，承認本件專利元件
5(d)係一結構方式撰寫的元件。然陳英本作證過程承認，其在99年5 月18日報告中未正確將元件5(d)以結構元件的方式進行分析。（陳英本99年9 月23日筆錄第31頁）。
3、陳英本錯誤認定本件專利的技術特徵（d)既無法在任一被控侵權機器上文義讀取到亦不適用均等論：
本件專利之手段功能用語元件(d) ，即用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構，係陳英本技師於其99年
5 月報告中唯一一項認定：在侵權機器（RK-T6600及RK-T2000 ）中，既不符合文義讀取，又不符合均等論分析之元件。陳英本技師於其99年5 月報告中對元件(d) 的認定有誤。
⑴陳英本技師對技術特徵(d)的解釋不當：
陳英本技師係基於對元件(d) （用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構）的錯誤解釋，而認定侵權機器並未包含此一技術特徵。查元件(d) （除請求項5 之元件(d) 以外）係以手段功能用語撰寫，依據細則第18條第8 項規定，於解釋以手段功能用語方式記載的技術特徵時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料或動作及其均等範圍。因此判斷侵權機器是否包含元件(d) ，首先須決定說明中所敘述「對應於該功能（即用以將元件固持於其槽座中）之結構」為何。智慧局之舉發審定書及經濟部訴願委員會之訴願決定書中可知，智慧局及訴願委員會均認定元件(d) 於本件專利說明書中對應該功能之結構為：說明書第9 頁第18行至第10頁第13行，及圖5 、6 及16所揭露的真空吸板(9) 、界定於真空吸板(9) 上表面之真空吸管(11)、低壓源、及界定於測試板(8) 底部之連結管道(13)（參舉發審定書第10頁；訴願決定書第16頁），而侵權機器實均包含此等結構。
⑵查，陳英本於99年5 月報告中，卻對元件(d) 增加額外
的限制條件。即陳英本技師認為真空吸管(11)的形狀必須為360 度的完整圓形（參99年5 月報告第32、36及63等頁）。此為陳英本技師99年5 月報告與技師公會95及96年報告的最關鍵不同之處。雖然陳英本技師與吳洲平技師均證述：本件專利元件(d) 的內容在更正過程中並未有任何更動等語( 本院卷十一第26頁反面) ，而陳英本技師在其99年5 月報告中對元件(d) 的解釋卻額外限制本件專利真空吸管的形狀必須為360 度，因此與於技師公會95及96年報告對相同元件(d) 的解釋不同。技師公會95及96年報告並未限制本件專利真空吸管的形狀必須為360 度。
⑶陳英本所引用的證據無法支持其對元件(d) 的上述解釋
。蓋陳英本技師引用舉發審定書、訴願決定書及原告於舉發階段之原告舉發答辯理由書及舉發補充答辯理由書中「完整旋轉」一詞，作為其對元件(d) 新的解釋的依據（參99年5 月報告第32、36及63等頁）。就此，陳英本技師誤解舉發審定書及訴願決定書中之相關內容，並誤解原告舉發答辯理由書及舉發補充答辯理由書中相關主張。為區別本件專利的半真空吸引機構與習知半真空吸引機構，原告曾敘及：
①本件專利的半真空吸引機構具有「可在測試板之『完
整旋轉期間』以半真空吸力將元件固持於槽座中」的優點。原告解釋：在測試板旋轉的同時，可在元件預先規劃在槽座的整個期間，將半真空施加至元件，即自元件載入測試板之處起，經過元件測試區域直至元件自槽座中被噴出為止。
②又習知的半真空吸引機構，僅能在元件預先規劃在槽
座的部分期間，施加半真空至元件，例如只有在元件載入區域可施加半真空至元件（參原告98年4 月舉發補充答辯理由書第10頁）。
因此，原告所稱「測試盤完整旋轉期間」，實為「測試盤完整旋轉期間直至噴出」的簡寫。智慧局及訴願機關均知悉原告所要表達的真義，查訴願機關在其訴願決定書中敘及：「本件專利之元件位於槽座的整個期間可施與真空，並將元件固持於槽座中，直到元件被噴出」（參訴願決定書第17頁第7-9 行），智慧局在其舉發審定書亦指出：「本件專利之元件位於槽座的整個期間可施與真空，並將元件固持於槽座中，直到元件被噴出」（舉發審定書第14頁第2-4 行）。因此，無論是智慧局或者是訴願委員會，均未認定本件專利的真空吸管必須延伸360 度。
⑷依陳英本及吳洲平之證詞，證實陳英本所引用的舉發審
定書，訴願決定書、原告舉發答辯理由書及舉發補充答辯理由書中「完整旋轉」一詞將真空吸管的形狀解釋成必需為360 度並無依據。且原告代理人詢問陳英本技師，為何以上述文件中對「完整旋轉」一詞的定義不包含阻塞感應橋部分，而陳英本技師仍可據以認定真空吸管的形狀解釋成必須為360 度等語，惟陳英本技師無法提出肯定明確的回覆（參陳英本技師筆錄第52- 72頁）。
惟吳洲平技師被詢問到舉發審定書、訴願決定書及原告於舉發階段之原告舉發答辯理由書及舉發補充答辯理由書中「完整旋轉」一詞時，吳洲平技師很明確的表示上述文件中很清楚的表示「完整旋轉」被專利權人定義成「載入」、「測試」和「噴出」三個區域，而此三個區域並未構成360 度（參吳洲平技師筆錄第26頁）。吳洲平技師同時亦證述：原告的舉發答辯理由書及舉發補充答辯理由書中並未拋棄權利範圍而限制真空吸管必需為
360 度，因此無禁反言適用的餘地（參吳洲平技師筆錄第26-27 頁）。
⑸為支持其真空吸管必需只能為360 度的論點，技師公會
聲稱根據本件專利的圖3 、3a、3b及6 所示，真空吸管
(11) 確實有經過阻塞感應橋而構成360 度的圓（參99年5 月報告第64及65頁等）（按：阻塞感應橋係用以偵測未被噴出之元件）。事實上這些圖式並未能支持陳英本技師的論點。這些圖式並未顯示360 度的真空吸管。
圖3 、3a及3b並未顯示真空吸管(11)位於接近阻塞感應橋處。圖3 、3a及3b並未顯示任何真空吸管。查圖6 僅顯示測試板(8) 及包含真空吸管(11)的真空吸板(9) 之斷面，但說明書中並未指明該斷面所在之位置，故此圖並未顯示真空吸管延伸至阻塞感應橋。
⑹吳洲平技師證述：根據專利侵害鑑定要點的規定，請求
項的文字如果夠明確，不得將發明說明書及圖式的內容引入請求項予以解讀。5(d)的括弧2 「真空吸管」這4個字，並無不明確的地方，並不需要從說明書中特別引入其他的限制條件來解釋這個屬於結構定義的真空吸管。99年5 月份報告中，第43頁把5(d)的「真空吸管」前面加入「環狀」兩個字，因為又把環狀解釋成360 度，所以待鑑定物非屬360 度，伊並不贊同，理由第一個因為請求項和說明書裡面是沒有提到「環狀」。第二個是增加沒有所謂的360 度的一個額外限制。即使說明書裡面針對真空吸管有限制360 度，即使如此，如果5(d)沒有加入360 度的限制，而5(d)也夠明確的話，還是不能引入360 度的限制（卷㈩第365-367 頁）。如果依照99年5 月份報告，真空吸管必須為360 度，但是因為5(d)是一個結構項，而沒有手段功能用語；3 件待鑑定物依照99年5 月份報告是手段功能用語。即使依照陳英本技師360 度的解釋，還有其對手段功能用語必須完全符合圖式這種要求，3 件待鑑定物也至少侵害第5 項。亦即依照陳英本技師自己加入360 度的額外的限制，其報告起碼針對第5 項，也應該構成專利侵害。（卷㈩第367-368頁）。伊不贊同99年5 月報告的36頁，關於元件(d)，引入了一個未見於說明書的限制，叫做「完整旋轉期間」，並在比對的時候他說「待鑑定物非屬360 度完整旋轉期間」，所以認為「不符合」。理由同前，因為請求項和說明書裡面完全沒有這樣的限制，這樣解讀也造成縮小了系爭專利的權利範圍。（卷㈩第368 頁）q.系爭專利除了第5 項的(d) 之外其他的元件都是手段功能，現在針對第5 項以外的元件(d) ，手段功能用語的元件(d) 部分，假設遵照99年5 月份報告的意見，就是說第5 項以外的元件(d) 的真空吸管必須為360 度，因為它是手段功能語言，這個時候仍應該考慮360 度的均等範圍，而當被告承認待鑑定物是330 度的時候，99年5月份報告並沒有去考慮到360 度的均等範圍，亦即沒有遵照施行細則第18條第8 項，考慮360 度的均等範圍。
（卷㈩第369-370 頁）r.原證93號，系爭專利第3 圖中，標示了載入、測試、噴出三個區域加起來並不構成360度，而完整旋轉期間，亦包括上述三個階段，依據系爭專利說明書，第17頁第3 行談到說，要把元件噴出，因為元件有用真空源吸附住，當你要把它噴出的時候，空氣的壓力必須使槽座的元件向上跳出，所以為了達成噴出的目的，噴出的力道一定比吸入的力道大。因應這個原理，在元件載入、測試跟噴出完畢之後，是不是大部分的元件，除了少數有變形之外，它會卡在槽座中，大部分的元件都會在噴出區域被噴出，而不會繼續留在槽座中，所以到了阻塞感應橋這個區域，並沒有必要對元件施加真空的吸力，因為阻塞感應橋原來的設定就是此區域沒有待測試的材料。( 卷㈩第37 1-372頁）99 年5月份報告第65頁最上面，提到環狀真空吸管確實有經過阻塞感應橋，因此該報告認為真空吸管必須為360 度，陳英本技師認為在他看了圖6 、圖3A、圖3B，而得出「真空吸管是360 度」。然從圖3A、圖3B、圖6 並不能看得出來「真空吸管是環狀，而且為360 度」，伊認為陳英本技師是誤解。（卷㈩第374-375 頁）等語，足見吳洲平明確表示本件專利說明書( 含圖式) ，裡面完全沒有要求真空吸管必須為360 度（參吳洲平技師筆錄第11頁）。且吳洲平技師確認從本件專利圖3 、3A、圖3B、圖6 完全看不出來元件(d) 的真空吸管必須為360 度，陳英本技師係誤解。
⑺陳英本技師證述時亦承認本件專利圖3 、3A及圖3B並未
顯示真空吸管，他只是利用圖3 、3A及圖3B顯示阻塞感應橋的位置（參陳英本技師筆錄第51頁）。關於圖6 ，陳英本技師並未主張圖6 本身已顯示360 度真空吸管或者顯示真空吸管通過阻塞感應橋。陳英本技師證述：雖然圖6 指示單一斷面的斷面圖，他人可以推論測試板和真空吸板的斷面圖均為相同，因此真空吸管必然為360度等語，自不足採。除了圖6 確實為徑向斷面圖的事實以外，陳英本技師無法提供證據支持其前述論點。陳英本技師無法清楚解釋僅僅該斷面圖為徑向斷面圖就可推論所有的斷面皆相同（參陳英本筆錄第51- 63頁）。顯然本件專利並非所有的斷面皆相同。
⑻圖3B有助於解釋為何本件專利的真空吸管無需延伸為36
0 度。在元件被噴出後，元件的處理即已完成，因此真空已無需要。一直到空的元件槽座，再次到達裝載新的元件的裝載區域，才再次需要施加真空。參照圖3 ，當測試板通過噴出區域（具有開孔(78)以及連接到開孔(78)之噴出管(84)的區域）後，即無須透過真空將元件固持於槽座中，因為正常情況下元件應該都已被噴出，在噴出區域之後應該沒有元件位於槽座中。在此區域施加真空無任何作用。一旦測試板通過U 型阻塞感應橋並進入載入區域(19)後，才再次需要真空促使元件進入元件槽座中，並將其固持於其中。
⑼綜上，如吳洲平技師證詞所述，陳英本技師在99年5 月
報告中對元件(d) 的解釋，與智慧局與經濟部訴願委員會對元件(d) 的解釋不同。後者並未限制真空吸管必須延伸360 度。本案智財法院的行政訴訟判決書亦未限制真空吸管必須延伸360 度。如吳洲平技師證詞所言，同一專利的同一技術特徵在專利侵權訴訟中以及舉發行政爭訟中的解釋應當相同，否則必然對兩造中其中一造形成不公正（參吳洲平技師筆錄第27-28 頁），故陳英本技師對技術特徵(d) 的解釋，實不足採，而應採智慧局及訴願委員會對技術特徵(d) 的解釋。
⑽由於陳英本技師99年5 月報告對本件專利元件(d) 的解
釋有誤，而陳英本技師作出不侵權的結論大部分源自於此一不正確的解釋，因此陳英本技師99年5 月報告，尚有可議之處，果本件專利元件(d) 被正確地如智慧局及訴願委員會所解釋時，則每一被控侵權機器均包含元件
(d)的所有技術特徵。
4、99年5 月份之鑑定報告認為技術特徵(d) 不符合文義讀取有誤：
⑴ 基於對技術特徵(d) 的錯誤解釋，陳英本技師認定系爭
3 件機器並未包含相對於元件(d) 所載功能的對應結構，並進而認定侵權機器並未文義侵害本件專利的各請求項。如在其陳英本技師99年5 月報告中所承認，每一侵權機器均包含真空吸板(9) 、界定於真空吸板(9) 上表面之真空吸管(11)、低壓源、及界定於測試板(8) 底部之連結管道(13)（參99年5 月報告第32頁及第121 頁等）。亦即在陳英本技師其99年5 月報告中採用智慧局及訴願委員會對元件(d) 的正確解釋，理應陳英本技師作出技術特徵(d) 對被告系爭3 件機器均符合文義讀取的結論。
⑵ 縱認陳英本技師對技術特徵(d) 的對應結構包含360 度
的真空吸管的解釋無誤，陳英本技師認為技術特徵(d)不符合文義讀取之結論仍屬不當。查陳英本技師於其99年5 月報告中，並未依據細則18條第8 項之規定解釋以手段功能用語撰寫的技術特徵(d) 。如上所述，細則18條第8 項規定，解釋以手段功能用語方式記載的技術特徵時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料或動作及其均等範圍。陳英本技師在其99年5 月報告第12頁引用鑑定要點第33頁：「以功能界定物或方法之申請專利範圍，請求項中並未記載對應的結構、材料或動作，而係以功能手段用語或步驟功能用語表示…因此解釋申請專利範圍時，該技術特徵僅能包含發明（或新型）說明實施方式中對應於該功能之結構、材料或動作，及該發明所屬技術領域中具有通常知識者不會產生疑義之均等物或均等方法，以認定其專利權範圍」。根據專利侵害鑑定要點第29頁的流程圖，針對細則第18條所規定手段功能用語特徵解釋的均等範圍分析部分先於文義侵權分析，因此顯然與在文義侵權分析之後的均等論分析不同。如吳洲平技師的證詞亦確認針對細則第18條所規定手段功能用語特徵解釋的均等範圍分析與均等論分析不同（參吳洲平技師筆錄第16頁）。然而陳英本技師在文義讀取的分析中，完全未考量侵權機器的真空吸管，是否與被告所稱本件專利360 度的真空吸管屬均等物。陳英本技師99年5 月報告中文義讀取的分析中，並未包含細則規定之均等物分析，此顯係該報告之另一瑕疵。
⑶ 即使將本件專利的技術特徵(d) 解釋為360 度，系爭3
件機器的真空吸管為本件專利真空吸管的均等物。技術特徵(d) 的本身已清楚說明其功能為：「將元件固持於其槽座中」，系爭3 件機器的真空吸管及其他真空結構亦具有與請求項中所記載完全相同的功能。此外，系爭
3 件機器的真空結構實現該功能的手段及所實現的結果與本件專利所描述的手段實質相同，達成的結果也實質相同。系爭3 件機器的真空吸管，將元件在其預先規劃在槽座中整個期間（即自元件載入測試板至他們被噴出的期間），施加半真空至元件，並將其固持於元件槽座中。陳英本技師亦知悉系爭3 件機器的半真空吸引機構，具有從載入區域，經由電子測試、噴出及測試板移動等過程，將元件固定於槽座中的功能（參99年5 月報告第66頁右欄功能分析欄位）。如果本件專利的真空吸管，如被告指稱，係由噴出區域延伸至阻塞感應橋，此一區域的真空吸管將無功用，因為測試板旋轉到此一區域時，應該沒有元件位於槽座中，因此真空無需於此區域固持元件於槽座中。因此，系爭3 件機器在此一小區域無真空吸管的影響微不足道且並不影響系爭3 件機器的產量。
⑷原告依照本件專利所製造的測試機中的真空吸管，亦非
360 度。原告的前述3300以及3340測試機一如系爭3 件機器一樣，其真空吸管並未自噴出區域延伸到阻塞感應橋(參 本狀第參、二節)
5、陳英本技師認為技術特徵(d) 不符合均等論分析有誤⑴技術手段：陳英本技師均等論分析中的「技術手段」分析有誤。
①陳英本技師再次依據其對技術特徵(d) 對應結構「必需包
含360 度的真空吸管，並通過阻塞感應橋」的解釋進行此項分析，導致其於此之技術手段分析亦為錯誤。
②陳英本技師對系爭3 件機器操作的描述存在事實上的錯誤，99年5月報告中對系爭3件機器作出以下描述：
「測試板旋轉期間，坐落於弧形狀開口相對應之槽座中之元件，因無真空吸管導通半真空吸力，無法固定，有脫離之風險」（99年5 月報告第65頁右欄）。惟查，上述描述並非事實，侵權機器中，真空吸管經由連結管道將真空傳遞至元件直至元件自其槽座中被噴出為止。因此，在系爭3件機器中，除非元件被卡住或機器故障，元件不會一直位於槽座中被旋轉至沒有真空吸管的小區域；此外，元件不會因為此一沒有真空的小區域，而有脫離槽座的風險，於正常情形下，元件在到達此一區域前均已經被噴出。
③陳英本技師誤解訴願決定書中關於習知技術CH1200機器凹
槽(N) 部分之敘述，亦即陳英本技師將系爭3 件機器11/12圓的真空吸管，與習知技術1/3 圓的凹槽(N) 相互比擬，顯有不當。訴願委員會為區隔本件專利的真空吸管與習知技術的凹槽(N) ，作出以下說明：「本件專利之元件位於槽座的整個期間可施予真空，並將元件固持於槽座中，直到元件被噴出」（訴願決定書第17頁第7-9 頁）。前述凹槽(N) 無法實現此一功能。而侵權機器的真空吸管與本件專利的真空吸管相同，均允許在元件位於槽座的整個期間施予真空，並將元件固持於槽座中，直到元件被噴出。此實與習知技術不同，系爭3 件機器的真空吸管延伸足夠的長度，以執行本件專利真空吸管的相同功能。
④陳英本技師在其99年5 月報告中所作的陳述：「此一差異
不易為該發明所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完成」並無根據。陳英本技師所稱差異，應指系爭3 件機器11/12 圓（亦即330 度）之真空吸管與被告所稱本件專利
360 度真空吸管間之30度差異。陳英本技師並未解釋為何該發明所屬技術領域中具有通常知識者，不能輕易將侵權機器11/12 圓真空吸管延伸而成一完整的圓形。這種在度數上的延伸，在技術上並不存在困難度。就另外一個角度而言，把360 度真空吸管改成11/12 圓真空吸管，亦非困難。若陳英本技師充分了解系爭3 件機器的真正運作情況，及本件專利的半真空吸引機構，陳英本技師應該會作出侵權機器的半真空吸引機構與本件專利的半真空吸引機構實質相同的結論。系爭3 件機器的半真空吸引機構與依本件專利製作之原告型號3340機器的半真空吸引機構非常相似（參原證6 號的內容與照片）。
⑵功能與效果
陳英本技師在均等論分析的功能與效果部分係基於其所稱系爭3件侵權機器與本件專利申請專利所載之發明，在操作期間元件行為的差異。吳洲平技師與陳英本技師均證述並未實際觀察系爭3 件機器的運作（參陳英本技師筆錄第78頁以及吳洲平技師筆錄第34頁）。陳英本技師對於通過噴出區域但未自槽座中噴出之元件的行為的描述顯然錯誤。吳洲平技師作為機械工程領域的專家，證述陳英本技師對於未被噴出元件的兩種情況的描述應不會發生，且認為陳英本技師在其99年5 月報告中關於上述兩種情況的描述違反常理。即使是陳英本技師當被詢問相關問題時，亦承認此兩種情況發生的機率非常的小，也無法對此不太可能發生的情況提出說明，而只能以「此為一複雜模式」等語交代。此外，即使事實的情況真如陳英本技師所描述，系爭3 件機器的真空吸引機構與本件專利的真空吸引機構應屬均等，而系爭3 件機器與本件專利在元件(d) 的部份有均等論的適用。依照如吳洲平技師證詞中進行正確的分析，可得出陳英本技師所指稱系爭3件侵權機器與本件專利間的差異實為微不足道，而此兩者應有均等論的適用。則99年5 月陳英本技師之報告，其結論自不足採。
⑶陳英本技師99年5月報告事實分析有誤
①陳英本技師製作的99年5 月報告中描述了兩種陳英本技師
指系爭3 件機器中，元件通過噴出區域但未被噴出的情況：
①元件卡在測試盤的槽座中因此未被噴出及②元件未被卡住但也未被噴出，但陳英本技師對此兩種情況的描述有誤。根據陳英本技師99年5 月報告，在上述第一種情況中，卡在測試盤的槽座中的卡料元件會因自有施加真空至元件的區域至無施加真空的區域時變成無卡料狀況。在前述第二種情況中，未卡料但也未被噴出的元件會在經過無施加真空的區域時自槽座掉落出而刮傷測試板。陳英本技師所製作的補充意見中改變說法，指稱掉落的元件可能刮傷測試板或者真空吸板。陳英本技師製作的99年5 月報告中所描述的兩種情況皆錯誤。
②關於第一種情況，元件偶爾會卡在元件槽座中，因此而未
被噴出機構噴出。在此情況下，此元件會被阻塞感應橋偵測到。此時操作者可以將機器停下來，以人工方式將卡住的元件自測試板移除。然而，在系爭3 件機器中，卡住的元件不會因為其自有真空施加處移動至無真空施加處而變得無卡住，但99年5 月報告第67頁右欄第2 點卻認為會變成無卡住。在噴出區域，若元件沒有卡在元件槽座中，噴出空氣具有足夠之壓力，以克服經真空吸管所傳導的半真空吸力（說明書第17頁第5-6 行）。如果具有比真空吸力更大的噴出空氣壓力，仍無法將槽座中的元件噴出，此時如僅僅將真空移除，並不會讓元件變成無卡住。因此，真空是否持續施加到元件，並不影響卡住的元件的情況，且不會改變卡住的結果。
③關於第一種情況，吳洲平技師證述：當元件未被噴出時，
表示遠大於真空吸力的噴出力量仍然無法將元件噴出時，元件必然緊緊地卡在測試盤的槽座中。因此，當施加到元件上的真空吸力被移除時（元件被測試板傳送至無真空吸管區域），元件的狀態並不會改變，即元件完全不可能會變成無卡料狀態（吳洲平技師筆錄第36頁本院卷十第381至385 頁）。
④陳英本技師之證詞，無法解釋為何卡在測試盤的槽座中的
元件在遠大於真空吸力的噴出力量都無法將元件噴出時會僅僅因為真空吸力的移除（元件被測試板傳送至無真空吸管區域）且無其他額外外力施加到元件上的情況下而變成無卡料狀態。相反地，陳英本技師回答此一問題時，他僅證述：這是一個很複雜的一個模式，不是很單純的比對大小就可以解決的一個數學模式（參陳英本技師筆錄第89頁）。陳英本技師並承認在上述第一種情況下，元件當然有可能仍然維持卡住狀態，而且他也不知道相關發生的機率有多少（參陳英本技師筆錄第89頁）。
⑤關於陳英本技師99年5 月報告中所假想的第二種情況幾乎
不會發生。吳洲平技師證述：元件如果沒有卡在槽座中通常一定會被噴出，而且幾乎不可能不會被噴出（參吳洲平技師筆錄第28-29 頁）。只有在機器故障時才會有元件未被卡住但也未被噴出的情況發生，而根據原告的估計，這種機率小於千分之一。
⑥陳英本技師當被詢問到關於第二種情況的問題時，陳英本
技師無法明確的回答除了機器故障以外，為何未被卡住的元件會未被噴出( 參陳英本技師筆錄第81-85 頁）。機器故障並非機器的正常運作情況，因此機器故障的因素應該排除在鑑定之外。陳英本技師證述元件未被卡住但也未被噴出的情況可能與每個chip大小、顆粒，也有一點關係（參陳英本技師筆錄第82頁）。但為何元件的大小和顆粒或形狀會如陳英本技師所述，使得未被卡住的元件未被噴出。不正常的尺寸或許會使的元件卡在槽座中，但如果沒有卡在槽座中就應該會被噴出。陳英本技師無法解釋為何這樣的元件會未被卡住也未被噴出。此外，陳英本技師承認只有極小的情況下未被噴出的元件會掉出槽座並刮傷測試板（參陳英本技師筆錄84頁）。足見依陳英本之證詞，其在99年5 月報告中，元件未被卡住但也未被噴出之相關主張，不足採信。
⑦如果未卡住且未被噴出的元件真的掉落，掉落的元件並不
會如陳英本技師99年5 月報告及陳英本技師的補充意見所稱刮傷測試板。如果真的有未卡住且未被噴出的元件，其仍應會基於重力作用繼續留在槽座中，即使自測試板掉落，也會直接掉入收集托盤。掉落的元件不會刮傷測試板。測試板是以不易被刮傷的材質所製成，且測試板被設計成允許元件在其表面滾動進而進入槽座中。此外，掉落的元件亦不會卡住測試板，因為測試機在設計時即避免此一問題發生的可能性。吳洲平技師證述：由於元件的尺寸遠小於測試盤與機器間的距離，即使真的有元件掉落，也不會造成元件卡在機器與測試板之間並使得元件刮傷測試板（參吳洲平技師筆錄第30頁）。惟陳英本技師無法解釋何以尺寸遠小於測試盤與機器間的距離的元件會卡住並刮傷測試板（參陳英本技師筆錄第81頁）。
⑧陳英本技師在其補充意見中，指元件會掉落並刮傷真空吸
板，不但沒有任何證據證明。蓋陳英本技師並未標示照片何處有刮痕，其次，即使真空吸板上真有刮痕，該刮痕也不可能是由掉落的元件所造成。測試板基本上覆蓋整個真空吸板的表面( 真空吸板只有靠最外緣徑向約0.6 公分的部份沒被測試板覆蓋住) 。此外，由於元件的尺寸遠大於測試板以及真空吸板之間的空隙，元件無法自槽座掉落後進入測試板以及真空吸板之間的間隙。如本件專利圖6 所示，相較於元件(12)較大的尺寸，測試板(8) 以及真空吸板(9) 之間的間隙非常小。
⑷ 陳英本技師99年5月報告法律分析有誤①縱令陳英本技師99年5 月報告中的所陳述的兩個以上情況
屬實，其均等論的分析在法律上仍屬不當。陳英本技師在其補充意見說明(6) 中重複陳英本技師99年5 月報告中違反智財法院判決的均等論分析如下：
330 度對卡料無噴出之元件，於旋轉通過無真空吸管區，無法導通真空吸力，改變了元件受力狀態，可能變成無卡料狀況，於測試板下一旋轉行程時元件被噴出，減少卡料機率，真空吸管360 度的技術無此功能，陳英本技師作證期間，原告代理人向陳英本技師提示智慧財產法院的一個判決( 參原證104 號) ，其中法院指出：不可以用待鑑定物有增進本件專利的功效，率然認定為不構成均等論的適用，因為均等論的適用，跟待鑑定物有沒有增進本件專利的功效是無關的。陳英本技師亦表示同意該判決的見解(參陳英本證詞筆錄第90-91 頁) 。原告代理人並向陳英本技師表示上述99年5 月報告均等論分析中加底線部分的分析與結論( 即：真空吸管360 度的技術無此功能) 顯然違反此一判決，而陳英本技師同意重新作一個均等論分析(參陳英本證詞筆錄第95頁) 。然而陳英本技師的補充意見的均等論分析在沒有任何的說明之下，仍然保留「真空吸管36 0 度 的技術無此功能」此一違反智財法院判決（參上方加底線處）的分析與結論。前述加底線部分違反智財法院判決的原因，在於其認為系爭3 件機器的半真空吸引機構與本件專利半真空吸引機構不均等的理由，在於系爭3件機器的半真空吸引機構具有本件專利半真空吸引機構所沒有的功效，即陳英本技師所稱系爭3 件機器於元件旋轉通過無真空吸管區可使卡料元件變成無卡料，而具有360度真空吸管的機器無此功能。
②陳英本技師的上述分析亦違反專利侵害鑑定要點而屬不當
法律分析。根據專利侵害鑑定要點第41-42 頁規定：「『均等論』係基於保障專利權人利益的立場，避免他人僅就其申請專利範圍之技術特徵稍作非實質之改變或替換，而規避專利侵權的責任。」，系爭3 件機器若只稍作非實質之改變或替換則仍應被認定均等論侵權。
③陳英本技師的證詞顯示即使上述兩種情況發生其發生的機
率非常之小。因此，即使在本件專利的真空吸管被解釋成
360 度的條件之下，系爭3 件機器與本件專利的差異必屬非實質之差異。陳英本技師作證元件未被機器噴出的機率約為萬分之一( 參陳英本技師筆錄第35頁) 。換言之，即使上述情況發生，根據陳英本技師的證詞其機率至多也只有萬分之一。陳英本技師進一步證述翻滾的元件刮傷測試板的機率約千分之一或萬分之一( 參陳英本技師筆錄第84頁) 。因此，如原告民事準備書( 二十五) 狀第9 頁所述，陳英本技師的證詞證實只有千萬分之一或億分之一的元件有可能同時如前述兩種情況未被噴出且刮傷測試板。
④吳洲平技師在99年11月4 日證述如果系爭3 件機器與本件
專利的差異發生的機率之有萬分之一時，這種機率趨近於零( 參陳英本技師筆錄第31-32 頁：吳洲平技師說明刮傷測試板的機率趨近於零) ，而應認定系爭3 件機器與本件專利「均等」。吳洲平技師進一步指出如認定本件專利因為有360 度的真空吸管所以不會造成測試板被元件刮傷，而系爭3 件機器未被噴出且刮傷測試板的機率是千萬分之一或億分之一時，這兩者的差異他不認為是實質上的差異，且一般機構不會因此而認定不侵權。吳洲平技師因此認為陳英本技師異於一般侵害鑑定機構的作法「比較不合適」( 參吳洲平技師筆錄第32頁) 。因此，即使有人認為陳英本技師所描述的兩種情況的事實描述屬實，依據吳洲平技師的證詞，被告的被控侵權機器仍應被認定均等論侵害本件專利。若因如此之小的差異發生機率且對整體機器而言功能上無任何影響的情況之下，認定兩者不構成均等論侵權對原告並不公平( 參吳洲平技師筆錄第32頁) 。
⑸陳英本技師針對元件(d) 的均等論分析係基於不正確的事
實認定以及不當的法律分析，則陳英本技師製作的99年5月報告以及補充意見除了解釋申請專利範圍以及文義侵權分析的部份不應被採納外，其均等論的分析與結論也不應被採納。
⑹陳英本技師在考量系爭3 件機器的真空吸管的功能時，以
極少發生的情況，認定系爭3 見機器不侵權，這樣的情況若發生，也是屬於機器功能的異常情況。陳英本技師應考慮本件專利真空吸管設計所要達成的功能，亦即記載於技術特徵(d) 的功能：將元件固持於其槽座中。系爭3 件機器的真空吸管與本件專利的真空吸管，同樣在於元件預先規劃於槽座中的整個期間，施加半真空吸力至元件以固持元件於槽座中，直至元件被噴出。若陳英本技師依據適當的均等論分析，應會作出系爭3 件機器的真空吸管與本件專利技術特徵(d)的真空吸管採用實質相同的技術手段、達成實質相同的功能並產生實質相同的效果的結論，且侵權機器的真空吸管與本件專利技術特徵(d) 的真空吸管，並不存在實質差異。因此，依據適當的均等論分析，針對本件專利技術特徵(d) ，被告的三件侵權機器均適用均等論。
⑺綜上，陳英本技師認定本件專利的技術特徵(d) 既無法在
任一系爭3 件機器上文義讀取到，亦不符合均等論分析等情，並不足採。由於本件專利元件(d) 係99年5 月報告中唯一一項認定在被控侵權機器RK-T6600及RK-T2000中，既不符合文義讀取，又不符合均等論分析之元件。系爭3 件機器RK-T6600及RK-T2000應被認定侵害本件專利。
6、先前技術阻卻並不適用本案⑴在陳英本技師的補充意見說明(6) 中，陳英本技師提出新
的先前技術阻卻，抗辯不侵權理論。陳英本技師在沒有任何的依據之下，認為「假設真空吸管330 度與360 度的技術是用均等論，則依專利侵害鑑定流程，對真空吸管330度亦應有先前技術阻卻未侵害真空吸管360 度的專利權之判斷」。
⑵根據專利侵害鑑定要點第44頁，「先前技術阻卻」得為「
均等論」之阻卻事由；即使待鑑定對象適用「均等論」，若被告主張適用「先前技術阻卻」，且經判斷待鑑定對象與某一先前技術相同，或雖不完全相同，但為該先前技術與所屬技術領域中之通常知識的簡單組合，則適用「先前技術阻卻」；待鑑定對象適用「均等論」，且適用「先前技術阻卻」，應判斷待鑑定對象未落入專利權範圍。專利侵害鑑定要點第44頁同時規定：主張「先前技術阻卻」有利於被告，故應由被告負舉證責任。若被告未主張「先前技術阻卻」，他人不得主動提供相關先前技術資料，以判斷待鑑定對象是否適用「先前技術阻卻」。足見「先前技術阻卻」適用的先決條件為被告需先提供先前技術證據並且主張「先前技術阻卻」，其次被告需證明系爭3 件機器與該先前技術證據相同或實質相同。惟無論是99年5 月報告或者是補充意見均未指出任何被告所提出並主張先前技術阻卻的先前技術證據具有330 度真空吸管並與RK-T6600與RK-T2000機器完全相同或者實質相同，此有上開報告及補充意見附卷可證( 卷外及本院卷十二第75至78頁) 。則對於本案「先前技術阻卻」無適用的餘地。綜上，補充意見說明(6) 違反專利侵害鑑定要點的規定。先前技術阻卻抗辯並不適用本案。
7、陳英本技師認定RK-L50沒有侵害本件專利請求項2 至10，並不正確。陳英本除了認定RK-L50沒有使用元件(d) 外，尚認定：根據文義讀取及均等論分析，RK-L50沒有使用元件(c) 及元件(e) ，RK-L50確有使用此等元件，且侵害請求項2 至10。陳英本技師錯誤地認定元件(c) 無法在RK-L50的機器上文義讀取到。
⑴陳英本技師解讀元件(c) 並不足取：元件(c) 是以功能手
段用語撰寫的，即其為：「在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構」。智慧局及訴願委員會認為本件專利對應於元件(c) 的結構為：
複數個坐入柵板(108a-108d)(參舉發審定書第12頁；訴願決定書第15頁) 。在99年5 月報告中，陳英本技師認定元件(c)的說明書對硬結構是4 個坐入柵板。陳英本技師在其補充意見中承認錯誤並將元件(c) 說明書中的對應結構為「複數個坐入柵板，其數目配合複數個元件環座」。
⑵陳英本技師未能認知RK-L50包括一個坐入柵板：在99年5
月報告中，陳英本技師未能認知RK-L50在其測試板的外側，亦有一坐入柵板。陳英本技師將該機器的「坐入柵板」及「與其接附在一起的透明蓋板」合稱為「弧形封閉蓋板」（參99年5 月報告第150 頁等），認定有誤。蓋在RK-L50照片中下方的弧形黑色結構，就是坐入柵板。如該照片所示，該弧形黑色結構與測試板的（元件槽座的）單一環相鄰且位於其外側，其位置在垂直方向稍高於測試板，就如同本件專利的坐入柵板（見說明書第19頁第10及11行）。當RK -L50 運轉起來後就可以發現，該弧形的黑色結構是用來「承收一元件流路並使元件歸位於槽座中」（亦即本件專利的元件(c) ）。
⑶陳英本技師未運用鑑定要點及細則第18條第8 項之規定：
以RK-L50的透明蓋板附接到其坐入柵板無法改變以下事實：該弧形的黑色結構就是坐入柵板，其實施了本件專利的元件(c) 。添加額外的特徵（即透明蓋板）到該坐入柵板，仍無法避免侵害本件專利。因此，陳英本技師的結論（即元件(c) 沒有出現在RK-L50中）導源於未能適切地運用鑑定要點及細則第18條第8 項之規定。
① 陳英本技師忽略了鑑定要點中規定的「對應規則」，
所以未適切找到正確的結構來加以評估。根據細則第18條第8 項之規定，關於以手段功能語言表示的技術特徵，於解釋申請專利範圍時，應含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料或動作及其均等範圍（即「對應規則」）。亦即，依據鑑定要點之下篇、第三章、第二節、第2.2 點（標題為：「解析待鑑定對象之技術內容」）之規定：「解析待鑑定對象所得之元件、成分、步驟或其結合關係與申請專利範圍之技術特徵必須對應，待鑑定對象中與申請專利範圍之技術特徵無關的元件、成分、步驟或其結合關係不得納入比對內容。解析技術特徵時，通常得依申請專利範圍的文字記載，將請求項中能相對獨立實現特定功能、產生功能的元件、成分、步驟或其結合關係設定為技術特徵。」（請見鑑定要點第36頁末段及37頁首段）。
②根據鑑定要點，陳英本技師應先找出RK-L50的那一個
結構執行元件(c) 之功能（亦即，承收一元件流路並使元件歸位於槽座中），才可開始對元件(c) 進行評估。依此「對應規則」找出的結構，才是元件(c) 的對應結構，之後才可依此找出的結構進行分析比對。
RK-L50中其他不執行上述元件(c) 之功能的結構，則不應列入考慮，因為此種結構不「相應獨立」實現元件(c)的「特定功能」。
③在RK-L50中，陳英本技師將不對應的結構稱為「弧形
封閉蓋板」，該所謂的「弧形封閉蓋板」是由以下兩種結構組合而成：「黑色的弧形坐入柵板」及「透明的蓋板」，而該透明蓋板附接至該弧形坐入柵板，且RK-L50的弧形坐入柵板執行承收及歸入電子元件的功能。因此，應就該黑色的弧形坐入柵板進行分析；而該透明蓋板執行的是第二種或不同的功能，該不同的功能是防止電子元件飛離測試板。雖然該透明柵板附接至其坐入柵板，但是其功能並不對應於本件專利元件(c) 的承收及歸位的功能。因此，根據鑑定要點，該透明蓋板根本與侵害鑑定無關。陳英本技師將該黑色弧形坐入柵板與無關的透明柵板結合起來，而未單獨依該黑色弧形坐入柵板進行分析，此種分析方式，尚屬有誤。
⑷元件(c)可於RK-L50中文義讀取：
①在文義侵權分析中，陳英本技師未考慮RK-L50的蓋子是
否為本件專利柵板的均等物。由於技術特徵(c) 系以手段功能用語撰寫，文義侵權分析中，需考慮專利法細則18條所規定的「均等範圍」分析。依據專利法細則第18條的規定，於解釋手段功能用語特徵時，包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料或動作及其「均等範圍」。
②當RK-L50的適當結構（即弧形的坐入柵板）被考慮到時
，顯然此種結構均等於本件專利之複數個坐入柵板。本件專利在說明書中明確的揭露本發明思及如RK-L50，採用單一環座的設計。本件專利說明書敘述：「一個具有一或數個同心圓環座之元件裝卸裝置」( 第5 頁倒數1-
2 行) 。本件專利說明書並進一步教示柵板數目與環座數目相配合：「各柵板之配置為緊鄰並沿著其相對應的環座面板上槽做外面板側」( 第6 頁倒數8-9 行) 。因此，根據本件專利說明書，在只有包含一個環座的機器，僅需位於該單一環座外側的單一柵板以將元件承收以及歸位於槽座中。在單一環座的情況下，單一柵板與使用於複數個環座的複數個柵板符合細則18條的均等。
③RK-L50的柵板，就像本件專利的坐入柵板，也是弧形的
，而且是位於元件槽座的環座的外側且位於測試板的上方，以允許測試板可在該坐入柵板的下方輕易地轉動。
實則，RK-L50的坐入柵板就是本件專利的最外側的坐入柵板。RK-L50的坐入柵板執行與本件專利的坐入柵板記載於技述特徵(c) 相同的功能：承收及歸位元件，並以實質相同的技術手段達成實質相同的結果。就像本件專利中「該測試板以順時鐘方向旋轉且因重力各座入槽的座元件持續地以不同方向，沿著坐落柵板，翻滾於沿環座旋轉所經路徑空槽座上直到元件最後落入槽座中為止。」多個坐入柵板的差別僅在於：用超過一個坐入柵板，於同時間執行同一個功能而已；然而，每一個坐入柵板一如RK-L50的單一坐入柵板，都可獨立地執行將電子元件歸入與柵板相鄰且位於柵板內側的槽座中( 說明書第19頁第10-11 行) 。
④在99年5 月報告中，關於RK-T6600，陳英本技師認為3
個坐入柵板與4 個坐入柵板實質上相同（見該鑑定報告第62頁等）。同樣地，如上所述，一個坐入柵板也與超過一個坐入柵板實質相同。因此，RK-L50的單一柵板與技術特徵(c) 有均等論的適用。
⑤依據添加原則，RK-L50包括額外的特徵不影響其侵權事實：
Ⅰ陳英本技師在其99年5 月報告以及補充意見說明(7)
，均以：「本專利為複數個坐入柵板機構，配合複數個元件環座，設有複數個柵板，為開放式無頂蓋者；帶鑑定對象C 為僅有一個弧形蓋板機構」為理由認為RK-L50的弧型柵板不均等於本件專利的柵板。陳英本技師的上述分析包括事實上的錯誤及法律上的錯誤。
Ⅱ如本件專利圖3 以及圖10所示，與陳英本技師所稱相
反，本件專利的複數個柵板實際上包含有蓋子，如圖一所示。圖一中圈註處包含多個平行細線係表示略成矩行的透明塑膠視窗位於載入架內複數個柵板之上。
載入架與透明塑膠視窗構成複數個柵板的頂蓋。Ⅲ又RK-50 機器包含記載在本件專利申請專利範圍中之
柵板以外的特徵( 透明蓋板) 的事實不會改變RK-L50機器侵害本件專利的結論。根據添加原則，如請求項使用開放式的連接詞，例如「包含」，則可允許所添加的額外特徵沒出現在請求項中，且不因該額外特徵而排除侵害，根據鑑定要點、下篇、第三章、第二節、第2.3.3.2 點（標題：「判斷『文義讀取』之注意事項」）有如下規定：「待鑑定對象包括解析後申請專利範圍之所有技術特徵，並另外增加其他技術特徵者，其是否符合「文義讀取」，應由申請專利範圍中所記載連接詞之表達方式決定：(1) 就開放式連接詞而言，若申請專利範圍之技術特徵「包括Ａ、Ｂ、Ｃ
」，而待鑑定對象對應之元件、成分、步驟或其結合關係為「Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ」，則應判斷待鑑定對象符合「文義讀取」。」上述規定即是「添加原則」。
在本件專利的申請專利範圍，全部的連接詞是開放性的（即「包含」），且不排除添加額外的元件（例如，RK-L50的透明蓋板）。該透明蓋板的存在必並不改變RK-L50包含本件專利技術特徵(c )的事實。
⑥陳英本技師在其99年5 月報告中以CH-1200 機器的蓋板作為其分析RK-L50機器的依據，並不可採。
Ⅰ陳英本技師在製備陳英本技師99年5 月報告中關於RK
-L50機器關於本件專利的技術特徵(c) 的分析時，引用經濟部訴願決定書中對舉發證據CH-1200 機器對應本件專利柵板之結構為蓋板的描述作為其對RK-L50機器對應本件專利柵板之結構之分析為蓋板的依據，然而待鑑定機器為RK-L50機器而非CH-1200 機器。原告律師詢問陳英本技師基於什麼理由，使其認為RK-L50機器與舉發證據CH-1200 機器是如此的相似，以至於其將舉發證據CH-1200 機器當作RK-L50機器進行鑑定
(參陳英本技師作證筆錄第91-93 頁) 。又陳英本技師所引用的經濟部訴願決定書認為CH-1200 機器的蓋板定沒有本件專利元件(c) 的功能，然而卻認為RK-L50機器的蓋板具有本件專利元件(c) 的功能。因此，陳英本技師引用經濟部訴願決定書作為其認為CH-120
0 機器的蓋板與RK-L50機器的蓋板相同的依據，於理不合。由於原告代理人指出其99年5 月報告中上述矛盾之處，陳英本技師無法提出解釋，因此回覆：「到時候我們會補充說明這個部分」( 參陳英本技師作證筆錄第93頁) 。然陳英本技師未依在補充意見中說明。由於被告在99年5 月報告前所遞交法院並副本給技師公會的98年10月30日所遞交的狀子中曾提出關於上述CH-1200 機器、RK-L50機器以及本件專利元件(c
)類似的錯誤主張，似乎陳英本技師在未評估被告的相關主張是否合理的情況下，於其陳英本技師99年5月報告中，直接挪用了被告的前述主張作為其分析及結論。
Ⅱ陳英本技師在鑑定時實際觀察了RK-L50機器的坐入柵
板並拍照，但在陳英本技師99年5 月報告中的相關部分，未以其對RK-L50機器的觀察做為其分析的依據，反而引用經濟部訴願決定書對CH-1200 機器蓋板的描述作為其對RK-L50機器分析的依據。這樣不當的作法顯示其相關分析錯誤，則其製做的99年5 月報告尚有可議。
⑦陳英本技師認定本件專利元件(e) 無法在RK-L50中讀取
到，並不足採：陳英本技師之結論認為元件(e) （即電氣接觸機構）無法在RK-L50讀取到，然此等結論是導因於對元件(e) 的錯誤解釋。
Ⅰ元件(e) 是「在槽座旋轉經的路徑中，用以充份地將槽
座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構」，此為原告所呈元件列表所示，並經智慧局肯認，本件專利對應於此一元件的結構是「端子模組」(24)及「下方端子」
(2 3)（見舉發審定書第11頁第7 行），這些結構是執行該元件(e) 之功能的結構。
Ⅱ在陳英本技師99年5 月報告中，元件(e) 的對應結構被
解讀為：「數個分開排列的端子模組（以五個為佳）」（99年5 月報告第15頁元件編號1-6 欄的第2 至3 行）。陳英本技師在其補充意見中承認錯誤並將元件(e) 說明書中的對應結構修正為「複數個端子模組」。雖然其補充意見中放棄必需洽為五個端子模組的解釋較陳英本技師99年5 月報告中需洽為五個端子模組的解釋稍好，但仍為錯誤的解釋。本件專利說明書（第12頁第8 行至第13行）詳載：「本發明能將環座增至四個以上的狀況應被了解，在該狀況中端子模組亦隨著具有四個以上的上方端子，…，本發明亦能配置多於或少於五個端子模組。在所有的狀況中下方端子的數目與其搭配之上方端子的數目為相等。」因此，元件(e)的對應結構可以是任何數量的端子模組，而不需一定為複數個模組。
Ⅲ在適當解釋元件(e) 的情形下，元件(e) 可從RK-L50文
意讀取到，此因：RK-L50包含了一端子模組與對應的下方端子，而因為本件專利的端子模組(24)的數量可以是任何數目，RK-L50的端子模組及下方端子與本件專利是相同的，而且它們都是執行測試電子元件的功能。即使依陳英本技師在補充意見中所作的「複數個端子模組」解釋，RK-L50的端子模組及下方端子與本件專利的端子模組及下方端子亦屬均等（陳英本技師忽略了在進行手段功能限制條件的字面侵害分析時，應要考慮「均等範圍」。）本件專利已經思及接觸模組的數目可以是任何數，故具有對應的下方端子的一個模組必定均等於多個接觸模組。
Ⅳ基於相同的理由，根據均等論分析，元件(e) 的對應結
構即使解釋成複數個接觸模組，亦與RK-L50機器的單一模組均等。在陳英本技師99年5 月報告中，陳英本技師雖然錯誤的將元件(e) 的對應結構解釋成五個接觸模組，其亦認為機器中五個接觸模組與RK-L50機器的單一端子模組在功能及結果方面均實質相同，因此複數個接觸模組與RK-L50機器的單一端子模組在功能及結果方面也均實質相同。此外，RK-L50機器及本件專利的電氣接觸結構，亦屬實質相同，且熟習上項技藝人士，得輕易地添加額外的接觸模組至RK-L50機器。陳英本技師無法解釋為何所屬技術領域中人士具有通常知識者為何無法依照RK-L50機器先有的單一接觸模組上以相同方式增加額外的接觸模組至RK-L50機器。陳英本技師也無法解釋為何在本件專利說明書已經清楚的說明接觸模組的數量不受限制的情況下，一個接觸模組與數個接觸模組會有顯著的差異。
Ⅴ綜上，本件專利的技術特徵(e) 可以在RK-L50機器上文
義讀取到或者與RK-L50機器上的對應特徵有均等論的適用。陳英本99年5 月報告以及其補充意見中所作出的相反結論，並不足採。由於陳英本99年5 月報告以及其補充意見中認為RK-L50機器所不具備的記述特徵(c) 、(d
)以及(e) ，事實上均文義的或均等的表現在RK-L50機器上，因此RK-L50機器侵害本件專利。陳英本技師所作出不侵害的結論肇因於其錯誤的事實與法律分析。
8、陳英本技師認定元件5(d)並未文義地或均等論地包含在任一被控侵權機器中，並無理由：
陳英本的補充意見對於元件5(d)提出新的意見。補充意見中認為元件5(d)無法在對被控侵權機器上讀取到的結論是錯誤的。依照正確的解釋申請專利範圍方法，元件5(d)可在被控侵權機器上文義讀取到。因此，至少RK-T6600以及RK-T2000機器侵害本件專利請求項5 ，蓋陳英本技師認為，元件5(d)是請求項5 中其唯一認為並未包含在三件機器者，亦即如其正確的解釋5(d)，就會認定三件機器侵害請求項5 。
⑴元件5(d)並無任何不明確之處
元件5(d)抄錄如下：用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構，其包括：（①一半真空源；②一由固定盤所界定的真空吸管並連接至該半真空源，而真空吸管係與槽座之環座同心並緊鄰；以及③) 數個由可旋轉盤所界定之連接管，每槽座各一，該連接管將半真空吸力由真空吸管傳導至其對應的槽座中；①陳英本技師在其陳英本技師99年
5 月報告中，針對元件5(d)並未提出與其他以手段功能用語撰寫元件(d) 實質不同的解釋。在其補充意見中，陳英本技師修正其陳英本技師99年5 月報告並指出元件5(d)是以結構方式撰寫。然而，雖然5(d)的上述第(2) 個技術特徵並未有360 度的限制，陳英本技師仍不當地將元件5(d)中的真空吸管解釋成必需為360 度。「申請專利範圍中所載之技術特徵明確時，不得將發明（或新型）說明及圖式所揭露的內容引入申請專利範圍；申請專利範圍中所載之技術特徵不明確時，得參酌發明（或新型）說明與圖式解釋申請專利範圍；申請專利範圍之記載內容與發明（或新型）說明及圖式所揭露的內容不一致時，應以申請專利範圍為準。」就前述要點，依目前實務見解認為：Ⅰ發明說明及圖式雖可且應作為解釋申請專利範圍之參考，但申請專利範圍方為定義專利權之根本依據，因此發明說明及圖式僅能用來輔助解釋申請專利範圍中既有之限定條件（文字、用語），而不可將發明說明及圖式中的限定條件讀入申請專利範圍，亦即不可透過發明說明及圖式之內容而增加或減少申請專利範圍所載的限定條件，否則將混淆申請專利範圍與發明說明及圖式各自之功用及目的，亦將造成已公告之申請專利範圍對外所表彰之客觀權利範圍變動，進而違反信賴保護原則。…因此，於解釋申請專利範圍時，固得審酌發明說明及圖式，惟該審酌發明說明及圖式之目的係為輔助解釋申請專利範圍之不明確，尚不能藉以增加或減少申請專利範圍所載的限定條件。（原證112 號）。Ⅱ專利圖示，僅係可供理解申請專利範圍的實施例之一，屬示範性說明而已，並非可作為解釋申請專利範圍之限制。（原證113 號）。Ⅲ於申請專利範圍中所載之技術特徵不明確時，始得參酌發明說明與圖式解釋申請專利範圍，惟應禁止將發明說明與圖式之限制條件讀入申請專利範圍；申請專利範圍之記載內容與發明說明及圖式所揭露的內容不一致時，應以申請專利範圍為準。（原證114 號）。準此，解釋申請專利範圍時，應以每一申請專利範圍所記載之文字意義及該文字在相關技術中通常所總括的範圍，予以認定，說明書本身並不是定義專利權範圍的依據，定義專利權範圍的根本及唯一的依據是申請專利範圍，因此，雖然專利說明書也可以作為解釋申請專利範圍的參考，但是，基於申請專利範圍才是界定專利權範圍的根本依據，專利說明書的內容並不可讀入申請專利範圍內。而所謂參酌專利說明書來解釋申請專利範圍，應該只是對申請專利範圍中既有的限制條件（文字、用語）加以解釋，而不可以透過或依據專利說明書的內容而增加、減少申請專利範圍所記載的限制條件，以致變動申請專利範圍對外所表現的客觀專利權範圍。（原證115 號）。
②查吳洲平技師於11月4 日庭期表示其認為請求項5 元件(d)
之「真空吸管」此四字已屬明確，故不應另增「環狀」之限制（參吳洲平筆錄第17至18頁）。吳洲平技師前述證詞與前揭要點之規定實務判決之意旨相符。
③為了合理化其在陳英本技師99年5 月報告中將「環狀」的
限制條件從說明書加入到元件5(d)的文字中的作法，陳英本技師在其補充意見說明(3) 中指稱「元件5(d)不夠明確」。陳英本技師在其補充意見中認為元件5(d)不明確，惟其到庭證述：係因為原告在說明書裡面有講到環狀這個部分，所以會參考原告之圖式。真空吸管並無不明確，是因為說明書內有寫到環狀，所以才會引用等語( 陳英本筆錄第28頁) ，足證陳英本技師證述其認為元件5(d)並無不明確，換言之，陳英本技師在作證時認為元件5(d)明確。然而，陳英本技師在其補充意見說明(3) 中，卻認定元件5(d)不明確，表示因此要回到說明書、圖示及申請專利歷史檔案始能明白清楚。陳英本技師雖然明知道元件5
(d)並無不明確之處，但為了合理化其在陳英本技師99年5月報告中將「環狀」的限制條件從說明書加入到元件5(d)的文字中的作法，在補充說明中作出了與作證時相反的陳述：「元件5(d)不夠明確」。
④陳英本技師所為元件5(d)不夠明確的結論係錯誤的。根據
專利審查基準第2-1-25頁，判斷申請專利範圍之記載是否明確，應參酌下列事項：(1) 發明說明揭露之內容；(2)申請時的通常知識；以及(3) 該發明所屬技術領域中具有通常知識者於申請當時對申請專利範圍之認知。在考慮這三個因素以後，元件5(d)顯然是明確的。
⑤ 所屬技術領域中具有通常知識者基於元件5(d)的文字內容
，參酌發明說明揭露之內容以及申請時的通常知識可清楚的理解元件5(d)的意義。在補充意見書中，陳英本技師並未指出元件5(d)的哪一個字的字面意思不明確，卻認為應該將申請專利範圍中所記載的特徵（例如真空吸管）的額外資訊加入申請專利範圍中。補充意見書中認為由於真空吸管的剖面形狀( 請參看補充意見書的文字：圓管？扁平管？橢圓管？方管？有縫管？無縫管？) 以及真空吸管的延伸形狀( 請參看補充意見書的文字：長直管？環狀管？弧狀管？) 未記載於元件5(d)中，因此元件5(d)的意思不清楚( 請參補充意見說明(3))，並非事實。請求項中是否包含所記載結構元件的額外資訊，與該元件是否清楚無關。
⑥專利法細則第18條第2 項僅要求獨立請求項記載「必要技
術特徵」。如原告先前所提交的狀子中所述，本件專利發明的優點之一在於能夠在元件載入、受測試以及被噴出的測試板移動的同時施加真空至元件直到元件被噴出之後以增加機器的產量。這樣的優點可藉由半真空吸引裝置的諸如已經記載於元件5(d)的下列結構中實現：「由真空吸板所界定的真空吸管並連接至半真空源，而真空吸管係與槽座之環座同心並緊鄰；以及數個由測試板所界定之連接管，每槽座各一，該連接管將半真空吸力由真空吸管傳導至其對應的槽座中」。只要上述技術特徵包含於申請專利範圍中即足以實現上述優點。至於真空吸管的確實斷面形狀以及真空吸管是否分佈360 度均與實現上述優點無關。補充意見中所要求的形狀與實現上述優點無關，且非必要技術特徵，因此無需記載於元件5(d)中。
⑦綜上，陳英本技師的補充意見中認為元件5(d)不清楚的意
見，不但與陳英本技師作證時的證詞不同，且是錯誤的，由於元件5(d)事實上是清楚的，陳英本技師99年5 月報告以及補充意見說明(4) 中將說明書中將「環狀」的限制條件引入元件5(d)中的真空吸管，並進一步將真空吸管限制為360 度圓形的作法即不足採認。
⑵元件5(d)中的真空吸管必須是360度，不足採信。
①陳英本技師的補充意見錯誤的認定元件5(d)不清楚，並在
解釋元件5(d)時，將說明書等文件中與元件5(d)關連的所有限制條件均加入元件5(d)中。陳英本技師的補充意見說明(4) 中指稱下列文件( 包括說明書、圖示、專利答辯書、原鑑定報告附件八、補充答辯書定) 有關此部分皆敘述：「系爭5(d)半真空吸引機構的真空吸管為一環狀管(360度管) 非為弧狀管( 非360 度管) 」。陳英本技師的上述陳述並非事實。
②陳英本技師所引用的說明書以及舉發答辯理由書、舉發補
充答辯理由書及訴願決定書，均未如補充意見所敘述：「系爭5(d)半真空吸引機構的真空吸管為一環狀管(360度管
) 非為弧狀管( 非360 度管) 」。以上文件從未出現「360度」或「非為弧狀管」等詞。上述95年3 月17日原告舉發答辯理由書、97年1 月28日原告舉發補充答辯理由書以及99年2 月9 日訴願決定書均沒有敘述真空吸管必須呈360度的圓形。而陳英本技師在補充意見中所引用的97年1 月
28 日 原告舉發補充答辯理由書的最後一個部分( 第22頁第3-8 行) 明確敘及：「在被舉發案之真空吸管及連結管道可於元件位於其槽座之整個期間施予一真空，並將元件固持於其槽座中，直到元件由測試盤噴出」。前述加底線的文字恰可作為在噴出機構以及載入機構之間無需設置真空吸管以使得真空吸管形成360 度圓形的證據。類似的陳述亦見於原告所呈送至智慧局的其他舉發答辯理由書中(例如95 年3月17日原告舉發答辯理由書第6 頁倒數第5-7行) ，然而陳英本技師卻忽略這些證據，陳英本技師所引用原告在舉發階段中所遞交的舉發答辯意見書、智慧局所作的舉發審定書或經濟部訴願決定書中的用詞「測試板完整旋轉期間」意指測試板旋轉直到元件被噴出期間，並非如陳英本技師所稱意指本件專利真空吸管必須為360 度。
③陳英本技師的補充意見說明(4) 的倒數第2 句陳述：「另
，被舉發人於舉發答辯書及舉發補充答辯書中強調本件專利具環狀真空吸管與舉發證物僅三分之一圓(120度) 相比，本件專利具有進步性，合先敘明。」被告據此認定原告承認本件專利的真空吸管為360 度。上述分析不合邏輯。
如原告在民事準備(31)狀所詳述，CH-1200 機器的120 度凹槽與本件專利的真空吸管的關鍵差異在於CH-1200 機器的120 度凹槽僅能在「元件載入」時施加真空將元件固持於凹槽中，而無法延伸足夠長度至「測試」以及「噴出」區域以使得元件在受測試以及被噴出的同時機器仍然可以施加真空至元件，因此CH-1200 機器沒有本件專利可以增加產量的優點。上述理由才是本件專利相對於CH-1200 機器具有進步性的主要原因。且即使要考慮凹槽延伸的長度，原告在舉發答辯書與舉發補充答辯書中所作的相關陳述至多解釋成原告承認本件專利的真空吸管的分佈不是三分之一圓(120度) ，以及只要本件專利的真空吸管的分佈超過120 度( 例如RK-T6600以及RK-T2000機器330 度的真空吸管；及RK-L50機器270 度的真空吸管) 相對於CH -1200機器( 舉發證據三及七) 就具有進步性。由此可知，陳英本技師的上述分析並不合邏輯而不可採信。
④陳英本技師的補充意見認定元件5(d)不清楚，因此錯誤的
把說明書中以及其他相關文件中的限制條件加入到元件5(d)中。陳英本技師進一步錯誤解釋說明書中以及其他相關文件中的內容、將本件專利的真空吸管解釋成360 度，並將360 度限制條件加入元件5(d)中。基於上述原因，雖然陳英本技師承認其未針對元件5(d)進行均等論分析( 參陳英本證詞筆錄第27及31頁) ，陳英本技師仍於其補充意見中，維持99年5 月報告中系爭3 件機器並未文義亦未均等論侵權本件專利的結論。如果陳英本技師沒有將「360 度」的限制條件加入元件5(d)的真空吸管中，則元件5(d)的技術特徵可以在三件被控機器上文義讀取到( 參陳英本證詞筆錄第30頁) ，或至少有均等論的適用。如陳英本技師在其陳英本技師99年5 月報告第32及121 頁等處對被控侵權機器的描述中所承認，所有的系爭3 件機器均包含本件專利元件5(d)的真空吸板、界定於真空吸板上的真空吸管、低壓源以及界定在測試板下方的連結管道等技術特徵。
此外，就前述針對手段功能用語請求項之元件(d) 相關之理由，縱使將元件5(d)中之「真空吸管」解釋為360 度之真空吸管，被告系爭三件機器之對應結構與元件5(d)有均等論之適用，故被告系爭三件機器仍侵害請求項5 。
9、綜上，本院認技師公會99年5 月之鑑定報告及陳英本之補充說明，並不足採。
(十) 被告所有系爭3 件機器確已侵害原告更正後系爭專利權之範圍，堪予認定。
六、專利權之侵權賠償責任，是否以故意或過失為必要? 被告是否有故意或過失?
（一）專利權之侵權賠償責任，是否以故意或過失為必要?按侵害專利權亦屬侵權行為之一種，以因故意或過失不法侵害他人之專利權，致生損害者，始構成專利法第84條第
1 項前段之規定，而得請求損害賠償。（最高法院93年台上字第2292號、95年台上字第1177號判決意旨、司法院98智慧財產法律座談會第13、14號法律問題研討結果參照），則原告主張專利權侵害之賠償責為無過失責任云云，自不足採。專利權之侵權賠償責任，仍以故意或過失為必要。
（二）被告就本件專利權之侵害，是否有故意或過失?
1、原告主張：縱認專利法上損害賠償責任係採過失主義，原告之本件專利早於89年11月11日即已經智慧財產局核准公告，公告本中包含申請專利範圍、說明書及圖式等資料，且依被告公司網站所示，被告於89年間即已開始產銷產品RK-L50及RK-T2000，而被告亦於92年3 月間即知悉原告之專利，並委請中興大學鑑定，雖中興大學作出系爭機器並無侵害原告專利之報告，惟該鑑定報告第4 頁以下之列表，詳載待鑑定物與本件專利更正前請求項13之所有特徵、附屬項14、16至20之特徵或結構均屬相同。此外，該表第一列末欄並詳載「以測試功能而言，每一組測試轉盤均具備供料、測試及分類貯存所需之附屬組件。故待鑑定物各組測試轉盤與專利案之特徵相同。」，如系爭3 件機器之設備，包含一請求項中之所有特徵，其應被認定已侵害該請求項。因此，該鑑定報告適得證實其侵害該等請求項，足證被告係故意侵權，故被告主張信賴報告而無過失，並不足採等語。被告則抗辯：被告製造系爭機器所憑之技術既已經智財局核發第193153號經片測試機（三）之發明專利，且於製造、銷售前曾就有無侵害原告專利一節送請中興大學鑑定，經鑑定無侵權疑慮後，始進行系爭機器之製造，是以被告乃信賴智財局及鑑定機構之專業判斷，足見被告已盡相當注意義務，且無故意或過失，自無令負賠償責任之理等語。
2、查，原告為發明專利第207469號電路元件裝卸裝置之專利權人，專利期間自民國89年11月11日至105 年4 月29日，則本件專利於89年11月11日即已經智慧財產局核准公告，公告本中包含申請專利範圍、說明書及圖式等資料，已如前述，則專利權既有專利公報及專利權簿之登記制度，故若無特殊情事，果專利權之侵害行為既已存在，應可推認侵害人有過失。被告抗辯：原告未曾明確公開系爭專利範圍，被告自無故意或過失侵害系爭專利之意圖，而與侵權行為要件無涉云云，自不足採。
3、又依被告公司網站所示，被告於89年間即已開始產銷產品RK-L50及RK-T2000，而被告於92年3 月間即知悉原告之專利，並將RT-K6600委請中興大學鑑定，雖中興大學作出系爭機器並無侵權之報告，惟該鑑定報告第4 頁以下之列表，詳載待鑑定物與本件專利更正前請求項13之所有特徵、附屬項14、16至20之特徵或結構均屬相同。此外，該表第一列末欄並詳載「以測試功能而言，每一組測試轉盤均具備供料、測試及分類貯存所需之附屬組件。故待鑑定物各組測試轉盤與專利案之特徵相同。」如受指控侵權之設備，包含一請求項中之所有特徵，其應被認定已侵害該請求項。亦即前述中興大學之鑑定報告認定待鑑定物侵害本件專利目前之專利請求項第11、12、13、14及17項，此等請求項之內容均與先前中興大學鑑定時之請求項特徵內容相同。惟中興大學之鑑定結論認為上開系爭機器與申請專利範圍特徵重疊部分，係屬市面常見之習用結構，固認為系爭機器與申請專利範圍主要項部分之特徵不同，整體不符全要件原則，故系爭機器並無侵害原告之專利權等情，有該鑑定報告可證（本院卷一第68至75頁）。嗣被告於94年間再將RT-K6600再送中華工商研究院鑑定，該鑑定報告第54頁第貳點待鑑定物之構成要件欄位，明列待鑑定物有7項構件及特徵，而其所列7 項特徵幾與本件專利第12項專利申請範圍相同，且該鑑定報告於待鑑定物之圖示欄位所揭示待鑑定物產品照片之特徵，亦與本件專利第12項專利申請範圍之要件相符，惟該鑑定報告係本件專利與第三人所產銷之所謂CH-1200 機器為比對對象，並作出本件專利所主張之申請專利範圍第1 項及第12項之權利範圍因落入習知技術之範疇，致不得主張該項權利範圍，即本件專利係屬無效之論點，而認為上開機器並未侵害原告之專利權。有該研究報告書可證（本院卷一第189 至254 頁）。惟上揭報告著重描述專利有效性之論點，並以專利係屬無效而作成不侵權之結論。被告雖於94年間就系爭專利權向智慧財產局提出舉發案，經智慧財產局於96年間審定後，認為本件專利原19項請求項中之請求項1 及12不具進步性，原告乃於96年8 月15日依據智慧局之指示更正本件專利範圍，即刪除原獨立請求項1 及12，並將其餘部分附屬於原獨立請求項1 及12之附屬請求項改寫為獨立請求項形式，嗣智慧局於97年間為舉發不成立之處分，被告萬潤公司乃提出訴願，經經濟部訴願委員會於98年間基於程序理由將原處分撤銷，由智慧財產局另為適法之處分，經智慧財產局於98年間重新審定後，仍為舉發不成立之處分，嗣經被告於98年間再度提起訴願，再經經濟部於99年間駁回被告所提之訴願，被告於99年間對智慧局所作出之舉發不成立及經濟部作出之駁回決定，向智財法院提起行政訴訟，經智財法院於99年12月2 日駁回本案被告所提起之行政訴訟，被告未於期限內提起上訴，該舉發案已終局確定，確認本件專利請求項1 至17均具進步性，其專利權仍為有效，已如前述，足見本件專利是否為習知技術，具有爭議性。
則被告在知悉此種專利權存在，又依據上揭不侵權之鑑定報告，及舉發過程中智慧財產局曾認定本件專利原19項請求項中之請求項1 及12不具進步性，而為既有的技術或知識，被告主觀上雖可認為自己之行為不侵害他人之專利權，而可阻卻故意，但該專利權在尚未經撤銷確定前，仍應以有效專利處理，惟被告未注意此，仍製作及銷售系爭機器，仍應論以過失論。
七、被告盧鏡來為被告萬潤公司之董事長，原告主張被告盧鏡來應與被告萬潤公司就本件侵害專利權之行為，負連帶損害賠償責任，有無理由?
（一）原告主張依據公司法第23條第2 項之規定，公司負責人對於公司業務之執行，如有違反法令致他人受有損害時，對他人應與公司負連帶賠償之責。公司負責人本應就公司侵權行為負責，所謂公司業務之執行應採廣義之解釋，亦即應包括合理推知屬公司負責人之責任範圍內之事項。準此，盧鏡來當然知悉系爭機器之製造與銷售，自應與被告萬潤公司負連帶侵權行為賠償責任等語。被告則抗辯：按公司法第193 條、第208 條意旨，公司意思之決定係由公司董事會，於不違背公司股東會決議之前提下，以合議方式決定。則股份有限公司之業務執行決定權，並非操之於董事長1 人之手。可知若公司存有侵權行為，其亦非公司董事長所得單獨授意，自不能僅以其為公司負責人為由，強令其負擔連帶責任，原告仍應就公司負責人實施何種侵害行為舉證等語。
（二）按公司負責人對於公司業務之執行，如有違反法令致他人受有損害時，對他人應與公司負連帶賠償之責。公司法第23條第2 項定有明文。次按，公司法第23條所謂公司業務之執行，指公司負責人處理有關公司之事務而言。最高法院65年台上字第3031號判例參照。復按公司法第23條規定，公司負責人對於公司業務之執，如有違反法令致他人受有損害時，對他人應與公司負連帶賠償責任，此一公司負責人對第三人之責任，乃係基於法律之特別規定，與一般侵權行為之構成要件不同（最高法院90年台上字第382 號判決意旨參照）。再按，公司法第23條所定董事對於第三人之責任，乃基於法律之特別規定，異於一般侵權行為，就其侵害第三人之權利，原不以該董事有故意或過失為成立要件。而所謂公司業務之執行應採廣義解釋，亦即應包括合理推知屬公司負責人之責任範圍內之事項。準此，盧鏡來當然知悉系爭3 件機器之製造與銷售，自應依據上開條文及說明，負侵權行為責任。
（三）查，被告盧鏡來被告萬潤公司之代表人，有公司登記資料可證( 94執全字第3250號卷內聲證3)，而萬潤公司未經原告專利權人之授權，即製造並在網路上公開販賣系爭機器，有網路下載資料及公證書可證、京華商信事業有限公司調查報告及其所附照片、機器型錄證（本院卷一第15至41頁、94執全字第3250號卷內聲證3)，而被告萬潤公司製造並公開販賣系爭機器，自屬被告盧鏡來執行職務之行為，盧鏡來當然知悉系爭3 件機器之製造與銷售，該行為已侵害原告之專利權，致原告受有損害，則被告盧鏡來自應與被告萬潤公司負連帶賠償之責。
八、系爭機器如有侵害原告之專利權，原告得請求之損害賠償金額若干為適當?
（一）按專利法第85條第1 項第2 款之規定，依前條請求損害賠償時，得就下列各款擇一計算其損害：二、依侵害人因侵害行為所得之利益。於侵害人不能就其成本或必要費用舉證時，以銷售該項物品全部收入為所得利益。同法第85條第3 項復規定，依前二項規定，侵害行為如屬故意，法院得依侵害情節，酌定損害額以上之賠償。但不得超過損害額之三倍。次按如侵權行為人無法就其製造銷售侵權產品具體支出之成本或必要費用舉證時，侵權人侵害專利權所製造銷售侵權產品之全部收入之所得利益，即應作為認定損害賠償金額之依據。又整體公司營運之利潤率，並非具體作為侵害系爭專利權之行為所必要之成本或必要費用所計算得出。
（二）查，依據勤業眾信聯合會計師事務所所出具之「萬潤科技股份有限公司特定機型之銷售金額依協議程序會計師執行報告」（下稱「勤業執行報告」），其查核確認被告自90至92年間銷售RK-T2000之銷貨收入共為新台幣（下同）38,943,632元，被告自92年至94年銷售RK-T6600之銷貨收入共為288,969,769 元及自90年至96年銷售RK-L50機器之銷貨收入共為404,413,763 元，則以上總額共732,327, 164元。
（三）被告雖提出90年至94年之財務報表，並主張其該等期間之淨利潤率分別為百分之23、10、9 、10、7(平均為百分之
11.8) ，並擬以此作為成本及必要費用之證明云云。惟查，專利法第85條第1 項第2 款所謂之成本或必要費用，係指具體成本及必要費用，亦即費用之支出係作為侵害本件專利權之行為所必要者，並非凡名為某某費用者皆屬必要費用。因被告整體公司營運之利潤率，並非具體作為侵害本件專利權之行為所必要之成本或必要費用所計算，故依上開利潤率並不得作為計算損害賠償之標準。況專利法第85條所規定專利侵權損害賠償，實係指毛利潤率，則依上開淨利潤率計算本件損害賠償額，亦非合理。
（四）被告又主張，依據「營利事業同業所得額利潤標準」就90年至94年淨利率為百分之10為淨利之計算標準云云。查，以同業淨利率為計算基礎，除非所有其他同業亦同樣係於侵權之情況下，從事製造銷售，否則渠等必須為其製造銷售系爭物品支出一定之專利技術權利金或研發費用，故而其他同業之淨利率乃是於扣除此等權利金或研發費用後之獲利率，侵權人無庸支付此類金額，其獲利率理當較諸其他同業更高。以同業淨利率為基礎計算損害，可能會過低評估其應支付之損害額。準此，以未區分是否具有研發費用成本之同業利潤標準，計算被告本件侵害專利權所得之利益，自屬不當。
（五）被告復主張其已提出第一次憑證之銷售發票，惟被告所提出之該銷售發票係為作為其銷售總額之說明，然就銷售總額業已由勤業執行報告查核完成，該銷售發票之提呈與成本及必要費用無關。被告另主張其需支出電腦程式開發及促進產品銷售之成本，然其未曾舉證以實其說，此部分之主張自無可採。再者，本院數次請被告就其成本及必要費用提出相關證明，被告均未提出，則依據專利法第85條第
1 項第2 款之規定，由於被告並未就其成本及必要費用舉證，故本件應以被告銷售系爭機器（RK-T2000、RK-T6600及RK-L50）之全部收入即000000000 元為所得利益。
（六) 原告又主張：被告係惡意侵害原告本件專利，故其損害賠償額應依專利法第85條第3 項之規定酌定為損害之三倍。
實則，被告之惡意實屬重大，其先行商借原告依據本件專利所製作之機器，復依據該機器進行抄襲，此外其向來知悉本件專利之存在，並於本件專利訴訟之前即已就本件專利提起異議，其顯然明確知悉其三件機器侵害本件專利等語。然查，本院認被告在知悉本件專利權存在，又依據上揭不侵權之鑑定報告，及舉發過程中智慧財產局曾認定本件專利原19項請求項中之請求項1 及12不具進步性，而為既有的技術或知識等情，被告主觀上雖可認為自己之行為不侵害他人之專利權，而可阻卻故意，但該專利權在尚未經撤銷確定前，仍應以有效專利處理，惟被告未注意此，仍製作及銷售系爭機器，仍應論以過失論，已如前述，足見被告並非惡意或故意侵害原告之本件專利，原告依據專利法第85條第3 項請求本院酌定損害賠償額3 倍之賠償，自屬無據。
九、 被告製造及銷售系爭機器，侵害原告之專利權，則原告依
據專利法第84條第1 項之規定，請求被告就其型號RK-T2000之電容測試機、RK-T6600之六軌電容測試機、RK-L50電感測試機，或其他一切侵害原告中華民國第2074 69 號發明專利之產品，不得自行或使第三人直接或間接為製造、為販賣之要約、販賣、使用或為上述目的而進口或其他一切相關之侵權行為。被告不得自行或使第三人直接或間接陳列或散布各式型號為RK-T2000之電容測試機、RK- T660
0 之六軌電容測試機、RK -L50 電感測試機，或其他一切侵害原告中華民國第207469號發明專利之產品之廣告、型錄、標貼、說明書、價目表或其他具有促銷宣傳性質之文書、亦不得於報章雜誌或其他任何傳播媒體為廣告行為。
及原告依據專利法第85條第1 項第2 款，請求被告連帶給付7 億元及自起訴狀繕本送達被告之翌日即94年11月4日起至清償日止，按年息百分之5 計算之利息，為有理由，應予准許。
十、兩造陳明願供擔保請准宣告假執行及免為假執行，原告既受勝訴判決，本院爰分別酌定擔保金准許之。
十一、結論：原告之訴為有理由，依民事訴訟法第385 條第1 項前段、第78條、第85條第2 項，第390 條第2 項、第392條第2項，判決如主文。
中 華 民 國 100 年 6 月 3 日
民事第三庭法 官 朱玲瑤以上正本係照原本作成。
如對本判決上訴，須於判決送達後20日內向本院提出上訴狀。如委任律師提起上訴者，應一併繳納上訴審裁判費。
中 華 民 國 100 年 6 月 3 日
書記官 張家瑜