最 高 行 政 法 院 判 決 九十年度判字第二三○三號
原 告 鴻友科技股份有限公司代 表 人 甲○○訴訟代理人 乙○○被 告 經濟部智慧財產局代 表 人 陳明邦右當事人間因發明專利異議事件,原告不服行政院中華民國八十八年八月二十四日台八十八訴字第三二一六○號再訴願決定,提起行政訴訟。本院判決如左:
主 文原告之訴駁回。
訴訟費用由原告負擔。
事 實緣原告於民國八十五年十月二十九日以其「光源亮度誤差之補償方法與裝置」向被告申請發明專利,經被告編為第00000000號審查,准予專利。公告期間,致伸實業股份有限公司以本案係運用申請前既有之技術或知識,而為熟習該項技術者所能輕易完成,不具進步性,有違修正前專利法第二十條第二項規定等語,檢附美國第0000000號專利案(以下稱引證一)及第0000000號專利案(以下稱引證二)等公告影本,對之提起異議。案經被告審查,為「本案異議成立,應不予專利。」之審定,發給(八七)台專(判)○五○一七字第一二七三八一號專利異議審定書。原告不服,提起訴願、再訴願,遞遭決定駁回,遂提起本件行政訴訟,茲摘敍兩造訴辯意旨如次:
原告起訴意旨略謂:一、按,本案之技術特徵在於,於一透射式掃描器中加裝一輔助定位片A,該輔助定位片包含透光區2、透光區4及掃描區5,如此一來即可藉由透光區2取得偵測光源信號,由透光區4取得色調校正信號,並藉由此二信號來對取自掃描區之影像進行光源亮度之補償,而光源亮度之補償則可藉以防止光源不穩所造成掃描文件品質異常的現象。如此一來,針對一般無法進行光源亮度補償的透射式掃描器則可藉由加設本案之輔助定位片,再配合一光源補償的軟體,即可遂行光源亮度補償之功能。另外,輔助定位片A更可直接設計在透射式掃描器中,使透射式掃描器一出廠即具光源亮度補償之功能,藉以提昇透射式掃描器之附加功能,進而提昇品質。由於本案所提之輔助定位片或將之直接做在掃描器的技術,在透射式掃描器的技術領域係前所未有,且可提昇透射式掃描器之技術,具進步性,因此獲致智慧財產局前一任委員之認可而暫准予以發明專利,並公告三個月。然而,此一標新之作,在諸多競爭對手的眼裡卻無意中樹立標竿,成為眾矢之的。是以,於公告期間,有如致伸公司之異議人者,竟以巧言惑眾,舉二引證案提出異議。本案之技術定位乃在於透射式掃描器上,如獲准專利,其專利權限亦只限於透射掃描器上,無法擴展至反射式掃描器,因此與反射式掃描器的技術已能完全區分開來。但是,智慧財產局審查委員、經濟部訴願委員、行政院再訴願委員卻一口咬定本案係運用異議案中的引證案二的參考白板的習用技術,為熟知本技術人士能輕易完成,無功效上的增進,不具進步性為由,對本案加以核駁。二、專利法之立法意係在於鼓勵創作發明。而所提出的發明若符合專利法第二十條的規定,則可依法取得專利。其中較常為人所爭議的一點卻是在進步性上。本案之專利性存在與否,就在於異議引證案二的參考白板是否可以證明本案之透光區不具進步性。前任諸委員或審查委員皆認為參考白板與本案之透光區相近似,因此核駁本案。智慧財產局的審定書中第四點及第五點係用來核駁本案者。而在經濟部之訴願決定中對智慧財產局的審定第四點已認定為不同技術手段而不予採用,但對審定書的第五點卻加以論述如下:『其主要專利特徵在於利用影像感測器之多餘感測點,來感測設置掃描裝置之參考板,藉此得到光源變異之參考信號,用此信號來補償光源亮度誤差。本案與引證二案之補償裝置設計相似,其差異在於本案強調其係透射式掃描,而引證二案之發明及專利範圍對補償裝置設計-參考白板-並未限定用於穿透式或反射式掃描裝置。又引證二案補償的方法係利用感測掃描參考板所產生的信號
(Ai),經由放大器及一回授電路產生一參考電壓( VERFi),作為數位類比轉換器的參考電壓,當掃描區所產生的信號為Ci,j時則輸出之信號XiJ=Ci,J*(Range/VERFi),Range 為數位類比轉換器的輸出範圍,此方式與本案所提補償的方法 Xi,j=Ci,j*(A1/Ai )相類似。...』訴願決定,採用了智慧財產局審定書的說法,也認為參考白板並未限定用於穿透式或反射式掃描裝置中。並進一步推論引證案二的補償方法與本案的補償方法相類似。再訴願決定中仍持續採用訴願決定,可知完全不理會原告在再訴願中對於參考白板並不適用於透射式掃描裝置的論述,卻仍是將矛頭指向補償方法相似上面。三、就原告所知,異議引證二的參考白板是一張貼在反射式掃描裝置掃機體內部,位於掃描區旁,可參考附件四之示意圖。附件四之示意圖係參考異議引證二的證據四所繪出的,其為一剖面圖,可對應到異議引證二的圖三。從圖中可看到上蓋、機體、光機、參考白板WB、掃描區d及文件。其中參考白板係位於機體內部及掃描區d的左側。光機裡面設有光源及電荷耦合元件(CCD ),於描掃時,光源會先投射至參考白板,由電荷耦合元件(CCD )讀取反射回來的參考信號,藉以補償文件之掃描。描掃區d在結構上係對應至一透明的玻璃板,掃描文件時,文件的圖樣面必須朝下,這樣光機才能夠掃描文上上的圖樣。而參考白板WB由於是貼在機體的殼內,殼本身當然是不透光的,所以參考白板絕對不可能做成透光的。更廣意的說,參考白板係不等效一透光區。也正因此,所以原告在訴願及再訴願中一再強調,異議引證二之參考白板WB與本案的透光區絕無相提並論的空間。反觀本案的透射式描掃裝置結構,光源是設在上蓋,電荷耦合元件(CCD)是設在機體裡,透光區是用來給上蓋的光源穿透過去,然後再作為補償參考信號之用。與異議引證二相比之下,在結構上顯然不同。而如此而達成的光源補償效果,在透射式掃描又是前所未有的,所以對穿透式掃描而言,已造成功效上的增進。任何發明或創作通常都是利用先前的技術去改進而來的,而只要與習用技術有所不同(新穎性),且可有具體功效之增進(進步性),加上實用即可專利之。例如半導體製程的專利有一大堆,同樣製程中的一道小製程(例如平坦化、插塞、微影等)改良又有一堆,那些後提出的發明,有那一個不是根據先前技術而加以改良的。或許改良只是加了一道小步驟,因為具功效上之增進,所以可獲准專利。任何發明都是基於之前的發明或創作加以改進的,而利用他人的發明創作加以改進而成為另一發明創作,亦繫乎科技之進步,豈可因為原告之申請案可能是利用先前發明,而以後知後覺者之心態解讀出發明之所在後,再以其已知之觀點來對本案加以核駁,如此之審定或決定實有欠公正客觀。就專利範圍而言,原告在申請專利範圍中已將權限設定在透射式掃描,與異議引證二的習用技術已能加以區分,若獲准專利,其權限亦只在於此。至若說本案有採用類似到習用技術的補償方法,就專利排他性的角度觀之,若本案欲實施,且補償方法係為他人之專利,也應取得專利權人之同意才能實施本案。亦即本案之發明,說明了也是利用前人的發明創作而為之發明,屬於發明中的發明,所以在實施時,當然必須顧及以前發明的專利才算合法。因為本案獲得專利後欲實施也需有之前發明專利的同意才行得通,所以縱使獲准專利,在實施時亦無僥倖的餘地。本案由於有特徵,在此之前並無相同的技術出現,雖然參考白板被前審諸多委員指鹿為馬,硬是說與本案的透光區一樣,但是透光區究竟與參考白板係分屬透射式及反射式的技術,二者並無法相互轉用。透光區在透射式掃描裝置中所產生的功效增進,並無法由參考白板來取代,所以功效確立無疑。由於為前所未有,且具功效增進,專利性又有何不足?之前諸多委員的論述都強調,參考白板並未限定用在反射式或透射式,這樣的說詞極為不清楚。重點在於,異議的引證二有沒有指出”參考白板是用(或可用)在透射式掃描裝置上”的明確語句。原告從頭到尾檢視引證二,並未發現類似的用語。倒反的前諸委員憑什麼說,參考白板並未限定用在反射式或透射式,在引證二裡也未有”參考白板並未限定用在反射式或透射式”的語句,所以這樣的說詞,實在很難令人心服。也因此,原告能說,參考白板根本只用在反射式掃描,而不是用在(也不能用在)透射式掃描。就掃描器發展的歷史而言,早期的掃描器都是反射式的,引證二為早期的技術,所以那時引證二的發明人根本沒想到透射式掃描。若有想到透射式掃描,那麼也絕對不會用參考白板,而說明定會用類似本案透光區的作法。而因為引證二的發明人未想到,原告想到了,並加以實現,在技術上算是補足引證二的不足,可以與引證二在光源亮度補償的技術上相互輝映。四、原告要再三強調的是,本案所用的補償方法雖然都在光源亮度補償上,但是由於反射式與透射式機體結構上本來就不同,所以在本案的補償方法中採用了透光區來取得參考信號。這與參考白板只在反射式掃描器上取得的參考信號是互不相同的。另外,本案於再訴願中所提更正是根據原申請專利範圍所載加以併項而得的,併項後的範圍應可與習用技術有所區分,再訴願之決定指示不可更正,但根據專利審查基準及專利法施行細則中逐項審查的規定,若附屬項有專利性,應通知申請人為修(更)正,或由申請人自提修(更)正,雖然再訴願並不接受原告所提之修正,但是若本案仍具專利性,則應通知智慧財產局准予更正,如此才合理。五、綜上所述,請求判決撤銷原處分、訴願決定及再訴願決定等語。
被告答辯意旨略謂:一、本案是一發明專利案,故依法即需具有技術思想之高度創作,且其若是運用習知之技術或知識,則必須非為熟習該項習知技術者所能輕易完成者,先予敍明。查本案實質之補償裝置與引證二相似,而本案所提之補償方法與引證二亦相類似,故本案在技術方法上並無實質之發明創新,自不合發明之要件。退一步而言,即使本案強調之透射式掃描與引證一之反射式掃描有所不同,但透射式掃描為已習知者,故本案僅係整體裝置之局部構件上有所變更,但其運作方法係已習知,不符發明專利之要件。二、在技術手段上,就影像掃描裝置而言,其掃描方式為反射式或透射式者皆為已習知者,由此可知,實際之掃描方式不必然造成其補償裝置有不易思及之顯著差異,況引證二之補償裝置之參考白板並未限定用於穿透式或反射式掃描裝置,引證二中亦已述明循環反射現象係由光源投射到掃描文件所產生,循環反射現象亦會發生在穿透式掃描裝置,故引證二所提之補償方式必然亦適用於本案。故本案仍係運用申請前既有之知識、技術,為熟習該項技術者所能輕易完成者,不合發明專利之要件。三、綜上所述,被告原處分並無違法,敬請駁回原告之訴等語。
理 由依修正前專利法第二十條第二項規定,發明係運用申請前既有之技術或知識,而為熟習該項技術者所能輕易完成時,雖無同條第一項所列情事,仍不得申請取得發明專利。本件原告於八十五年十月二十九日以其「光源亮度誤差之補償方法與裝置」係包含光度偵測裝置以及影像感應裝置,方法為:提供一初始光源信號、藉由光度偵測裝置偵測初始光源信號,以得致偵測光源信號、藉由影像感應裝置接收偵測光源信號,以產生參考光源信號、藉由影像感應裝置接收初始光源信號投射至被掃描物所得致之被掃描物光源信號,以產生影像感應信號、藉由參考光源信號,以遂行補償影像感應信號之動作等情,向被告申請發明專利,經被告編為第00000000號審查,准予專利。公告期間,致伸實業股份有限公司以本案係運用申請前既有之技術或知識,而為熟習該項技術者所能輕易完成,不具進步性,有違專利法第二十條第二項規定等語,檢附美國第0000000號專利案及第0000000號專利案等公告影本,對之提起異議。案經被告審查,為「本案異議成立,應不予專利。」之審定,發給(八七)台專(判)○五○一七字第一二七三八一號專利異議審定書。原告不服,乃循序提起本件行政訴訟,主張如事實欄所載。經查:(一)、本件被告以引證一利用光纖(彈性光傳輸裝置)偵測起始光源信號,由影像感測器產生亮度參考信號,以補償由被掃描物產生之影像掃描信號。在補償方法上,本案僅將掃瞄方式單純地由反射變成透射,在補償裝置上,本案將引證一之光纖變更成更廣泛未界定之光度偵測裝置,或更進一步之透光材質形成之透光區。本案設計之掃描方式由反射變更成透射,在光信號之偵測及接收上之對應變更亦顯而易知。引證二將起始光源信號經由參考板得到偵測光源影像,再由影像(線)感測器接收產生參考信號,用以補償被掃描光源信號之亮度位準。本案補償裝置將引證二之參考板變更成更廣泛且未界定之光度偵測裝置,係易於完成者;補償方法之設計與引證二之差異甚微,僅在於本案強調透射式掃描,但引證二設計並未限定其掃描方式係反射或透射。引證一及引證二足證本案係運用申請前既有之知識或技術,為熟習該項技術者所能輕易完成,乃依修正前專利法第二十條第二項規定,為本案異議成立,應不予專利之審定。(二)、原告主張引證一並無透光區相關技術,引證二之參考白板裝置係用以反射光信號,不會變成透射光信號,本案用於透射式掃描技術,非一般反射式掃描技術可輕易思及,且用於透射式掃描,元件之設計皆有獨立性,與反射掃描不同,引證一及引證二無法證明本案不具進步性等語。惟引證一利用光線傳導裝置接收光源投射之光線,再傳導到影像感測器上,藉此補償光源亮度誤差,為反射式掃瞄裝置,引證一與本案之基本結構雖皆為有光源亮度誤差補償之影像掃描裝置,然本案係在於使用穿透式光源及在掃描裝置上設置一無遮蔽之透光區域及一透明之透光區域,利用光線穿透此二區域成像於影像感測器,得出參考信號,與引證一屬不同之技術手段。引證二利用影像感測器之多餘感測點,感測設置於掃描裝置之參考板,藉此得到光源變異之參考信號,同此信號補償光源亮度誤差。本案與引證二補償裝置設計相似,僅本案強調透射式掃描,然引證二對補償裝置設計:參考白板,並未限定用於穿透式或反射式掃描裝置。引證二補償方法係利用感測器掃描參考板所產生之信號,經由放大器及回授電路產生之參考電壓,作為數位類比轉換器的參考電壓,當掃描區所產生之信號為Ci,j時,則輸出之信號Xi,j=Ci,j* (Range /VREFi ),Range 為數位類比轉換器之輸出範圍,此方式與本案所提補償方法Xi,j=Ci,j*(AI/Ai)相類似。本案與引證一雖屬不同技術手段,惟引證二已足證明本案係運用申請前既有的技術或知識,為熟習該項技術者所能輕易完成,仍不得申請取得發明專利。又引證二述明循環反射現象係由光源投射到掃描文件所產生,循環反射現象亦會發生於穿透式掃描裝置,引證二所提用補償方式當然適用於本案。引證二利用感測器掃描參考板所產生之信號,經由引證二所稱 Correction part 及Subtraction part運算得出Normalization part所需的 VREFi,Normalization part 係可由A/D converter(數位類比轉換器),完成其功能,因此當掃描區產生的信號為 Ci,j,數位類比轉換器的輸出範圍為Range時,則輸出之信號Xi,j*=Ci,j* (Range/VREFi),此方式與本案所提補償方法 Xi,j=Ci,j*(AI/Ai)相似。本案係運用申請前既有之技術、知識,為熟習該項技術者所能輕易完成,不得申請取得發明專利,至原告於再訴願時所提申請專利範圍修正本,其未經被告審查,尚非本件行政救濟程序所得審究,併予指駁。(三)、綜上所述,引證資料足證本案係運用申請前既有之知識或技術,為熟習該項技術者所能輕易完成,矧且本件事證業據訴願機關經濟部於一再訴願程序中,曾先後送請工業技術研究院光電工業研究所,基於其專業知能提供審查意見,均認本案係運用申請前既有之知識或技術,為熟習該項技術者所能輕易完成在案,有該研究所八十七年十二月二十八日(八七)工研光企字第○三五一號函及八十八年五月四日(八八)工研光企字第○一二○號函所附意見書附於訴願卷可稽。按其所提供意見,客觀公正,自堪採憑。原告所訴各節核屬其主觀之見,尚非可採。是被告為為本案異議成立,應不予專利之審定,揆諸首揭規定,洵無違誤,一再訴願決定遞予維持,俱無不合。原告仍執前詞爭訟,其訴為無理由,應予駁回。
據上論結,本件原告之訴為無理由,爰依行政訴訟法施行法第二條、行政訴訟法第九十八條第三項前段,判決如主文。
中 華 民 國 九十 年 十二 月 六 日
最 高 行 政 法 院 第 四 庭
審 判 長 法 官 葉 振 權
法 官 黃 璽 君法 官 吳 錦 龍法 官 劉 鑫 楨法 官 吳 明 鴻右 正 本 證 明 與 原 本 無 異
法院書記官 陳 盛 信中 華 民 國 九十 年 十二 月 六 日