臺北高等行政法院判決
94年度訴字第02543號原 告 甲○○訴訟代理人 謝宗穎（兼送達代收人） 律師複 代理 人 趙怡婷 律師被 告 經濟部智慧財產局代 表 人 蔡練生（局長）住同上訴訟代理人 丙○○
參 加 人 八目科技有限公司代 表 人 乙○○（總經理）上列當事人間因新型專利異議事件，原告不服經濟部中華民國94年6 月2 日經訴字第09406128870 號訴願決定，提起行政訴訟，經本院命參加人獨立參加訴訟。本院判決如下：
主 文原告之訴駁回。
訴訟費用由原告負擔。
事 實
一、事實概要：緣參加人八目科技有限公司前於91年12月11日以「單軸精密量測機構造」向被告申請新型專利，嗣於92年7月11日申請修正申請專利範圍，案經被告編為第00000000號審查，准予專利。公告期間，原告以該專利案有違審定時專利法第98條第1項第1款、第2項及第105條準用第22條第3項規定，不符新型專利要件，對之提起異議，案經被告審查，於93年11月23日為「異議不成立」之處分。原告不服，提起訴願，經遭訴願決定駁回，遂向本院提起行政訴訟。
二、兩造聲明：㈠原告聲明：
1.訴願決定、原處分均撤銷。
2.被告對於系爭案應為異議成立之處分。
3.訴訟費用由被告負擔。㈡被告聲明：
1.駁回原告之訴。
2.訴訟費用由原告負擔。㈢參加人聲明：
1.駁回原告之訴。
2.訴訟費用由原告負擔。
三、兩造之爭點：系爭案是否有違前揭專利法第98條第1項第1款、第2 款及第2 項及第105 條準用第22條第3 項之規定，而不符新型專利要件？㈠原告主張之理由：
1.異議證據之技術內綜合引證1 至引證4(按引證1係91年3月21日公告之第00000000號「曝光機之曝光框及底片之定位結構」新型專利案，引證2為90年5月11日公告之第00000000號「曝光機之電路板對位裝置」新型專利案，引證3為2001年1 月10日穩昇創意有限公司發行之「電路板製造設備與物料」採購指南復刊第5 期第121-123 頁；第122 頁所揭示川寶科技股份有限公司E2000-5KMD系列半自動曝光機之相關照片，引證4 係2000年1 月10日穩昇公司發行之「電路板製造設備與物料採購指南」復刊第4 期第249 頁所揭川寶科技股份有限公司E2000 系列影像對位半自動曝光機。）之相關技術內容及對等之組合，系爭案不具有『產業上利用性』詳述如下：
⑴系爭專利是一專門用來量測電路板底片或成品之電路平
面尺寸與孔距等之量測機（引證資料之曝光機具有此功能），其技術內容係：
①在一機體上設有一桌面，該桌面為一透明板面（係相當
於引證1底框、引證2曝光框之玻璃面或引證3、4之玻璃曝光面），②桌面之上方設有一監視器（係相當於引證1、2之顯示
介面），③桌面底部設有一距離量測機構（係相當於引證1之曝光
框下方設置兩具攝像機、引證2之CCD 影像拾取系統或引證3、4之CCD 影像對位檢測系統），④該距離量測機構可往復橫向移動，包括有光學尺（係
相當於引證2之CCD影像拾取系統或引證3、4之CCD影像對位檢測系統的一個量測影像點對一般工業影像辨識及量測軟體的結合，該影像點可由一或數個CCD 的畫素組成，由一般工業影像辨識軟體所規範，並請參考原證1 及原證2 配合引證1 到4 推論出之下表之相關敘述（以下係對光學尺與CCD 的解釋）：
系爭案爭議特徵係光學尺引證案之等效特徵：A.LED 點光源之對特定位置量測效果B.量測相關其他固定構造及量測系統- 主要為相位差測距功效相等之說明如下：A.CCD 點狀畫素之對特定位置量測效果 (相等效果構成)。B. 藉由伺服或步進馬達轉動距離讀取及配合量測軟體顯示點與點間距離 (相等效果構成)⑤雷射定位器：係相當於引證2之CCD 影像拾取系統或引
證3 、4之CCD 影像對位檢測系統的一個量測影像點對一般工業影像辨識及量測軟體的結合，該影像點可由一或數個CCD 的畫素組成，由一般工業影辨識軟體所規範，並請參考原證1及原證3 配合引證1 到4推論出之下表之相關敘述（以下係對雷射定位器與CCD 的解釋）：
系爭案專利爭議特徵係雷射定位器引證案之等效特徵：A.雷射二極體點光源之對特定位置標示效果B.量測相關其他固定構造及量測系統-主要為定基準點。
功效相等之說明：A.藉由量測軟體讀出及CCD點狀畫素之對特定位置標示效果 (相等效果構成)B. 藉由量測軟體讀出及標示CCD 畫面中的基準點 (相等效果構成)⑥兩CCD攝影機等，其中該兩CCD攝影機係對焦於量測點
，並可將影像傳送到監視器（係相當於引證1之兩具攝像機可相向或相背移動，且藉一氣壓缸昇降對焦，並將該攝像機之訊號傳至一顯示介面），⑦因此得知，系爭專利透過距離量測機構之往復移動來
達到由下而上取像技術之作法、結構特點均已完全在引證1 、2 、3 、4 對等組合及原證1 至3 之補強證據中揭露出。
⑵因為一般工業影像辨識軟體廣泛應用於CCD影像量測系統
，故系爭專利的創作僅需加強影像辨識軟體對CCD的結合即可辦到光學尺與雷射定位器之功能，雖然依系爭專利說明書之圖面判斷，系爭專利的光學尺與雷射定位器係可橫向配置，但是不同高度的幾何空間點係可透過軟體投影的方式投射於CCD 的量測面。因此系爭專利的技術之光學尺與雷射定位器功能係為包含於引證1 、2 、3、4 對等對CCD 的上位化應用中，即CCD 用普通影像辨識及量測軟體即可上位化包括光學尺與雷射定位器之功能，因此依據專利審查基準對產業上利用性的定義，「非可供營業上利用之發明」（多餘裝置增加成本使得形成個人習慣之應用而不具營業營利之目的）。
2.綜合引證1至引證4之相關技術內容及對等之組合，該系爭案不具有『進步性』，詳述如下：
⑴系爭專利是一專門用來量測電路板底片或成品之電路平
面尺寸與孔距等之量測機（引證資料之曝光機具有此功能），其技術內容係：
①在一機體上設有一桌面，該桌面為一透明板面（係相
當於引證1底框、引證2曝光框之玻璃面或引證3、4之玻璃曝光面），②桌面之上方設有一監視器（係相當於引證1、2之顯示
介面），③桌面底部設有一距離量測機構（係相當於引證1之曝
光框下方設置兩具攝像機、引證2之CCD影像拾取系統或引證3、4之CCD影像對位檢測系統），④該距離量測機構可往復橫向移動，包括有光學尺、雷
射定位器、兩CCD攝影機等，其中該兩CCD攝影機係對焦於量測點，並可將影像傳送到監視器（係相當於引證1之兩具攝像機可相向或相背移動，且藉一氣壓缸昇降對焦，並將該攝像機之訊號傳至一顯示介面），⑤據此得知，系爭案透過距離量測機構之往復移動來達
到由下而上取像技術之作法、結構特點均已完全在引證1 、2 、3 、4 對等組合中揭露出。
⑵系爭專利之距離量測機構於橫移時係利用平行設置之光
學尺計算出移動之距離，同時該CCD攝影機會自動讀取兩量測點的影像，並計算出兩量測點的相對中心位置，不會因量測物件的量測點中心放設位置偏移而發生錯誤，然而，由引證3之半自動曝光機述及之特點得知，該CCD影像對位在曝光前先作對位檢查，100％保證對位精度，利於數據化品質掌控；CCD影像對位系統保障在曝光製造中最重要的孔偏及層間對位問題，以及由引證四之影像對位半自動曝光機述及之特點可知，其CCD影像對位系統，輔以1 mil以內高重覆度曝光框，可依客戶的容許偏移量設定對位精度，確保無對位不良品產品。因此，原處分書中指出系爭專利利用光學尺、雷射定位器等構件以計算CCD 移動距離之作法，較引證資料所能達成之功效更具進步性，顯然與事實不相符。因為一般工業影像辨識軟體廣泛應用於CCD 影像量測系統，故系爭專利的創作僅需加強影像辨識軟體對CCD 的結合即可辦到光學尺與雷射定位器之功能，雖然依系爭專利之說明書圖面判斷，系爭專利的光學尺與雷射定位器係可橫向配置，但是不同高度的幾何空間點係可透過軟體投影的方式投射於CCD 的量測面，因此系爭專利的技術之光學尺與雷射定位器功能係為包含於引證1 、2 、3 、4 對等對CCD的上位化應用中，即CCD 用普通影像辨識及量測軟體即可上位化包括光學尺與雷射定位器之功能，且又再依據專利審查基準對進步性的定義，「組合新型，係指將複數個既有之構成要件組合而成之新型而言」，要求「增進某種功效」，相關引證案解決使用於同族或同類事項，故可視為以上位概念表達的發明即系爭案之光學尺與雷射定位器功能為同類於或包含於上位概念的CCD 用普通影像辨識及量測軟體，故系爭專利不具進步性。（於引證2 之CCD 影像拾取系統與引證3 、4 之CCD 影像對位檢測系統即具有；一般影像量測業界常見之影像辨識及量測軟體）。
⑶進一步言，即使系爭專利使用精密伺服馬達做單軸移動
量測，該類精密馬達皆包括旋轉位移的計數編碼裝置，為該領域人員可輕易思及而與CCD或普通影像辨識及量測軟體即可上位化包括光學尺與雷射定位器之功能，無法產生新效果，同理系爭專利不具進步性。
⑷系爭專利在機體之桌面上設有氣孔，以與真空吸引機之
吸氣管連通，俾吸固欲量測之底片或電路板之技術特點，係與引證3之曝光框輔以吸真空溝槽相當，故而推知，系爭專利於機體之桌面上具有複數個氣孔，該等氣孔與真空吸引機之吸氣管連通之作法乃熟知該技藝人士輕易轉用，未有任何進步性之處。至此可知，系爭專利於申請專利範圍揭露之組件、技術內容及功效係已揭露於引證資料對等組合中，不具有任何進步性，顯已違反系爭案核准審定時專利法第98條第2項之規定。
⑸根據專利審查基準之第2-2-19頁中述及『某一技術領域
之既有技術、知識被轉用至其他技術領域，如此之轉用，對熟習該項技術者而言，可產生某一新功效或增進某種功效，或可克服其他技術領域中之問題技術者，此種轉用視為非能輕易完成。惟如此之轉用，如係於類似或相近之技術領域中進行，而未能產生某一新功效或增進某種功效，則此種轉用，視為熟習該項技術者所能輕易完成且未能增進功效者』，由此可知，系爭專利於其申請專利範圍界定之內容，乃運用引證1至4之技術予以組合，係為熟悉該項技術者所能輕易完成且未能增進功效性，顯有違反系爭專利核准審定時專利法第98條第2項之規定，不應給予專利。據前揭審查基準對產業利用性的定義，系爭案更為「非可供營業上利用之發明」（多餘裝置增加成本使得形成個人習慣之應用而不具營業營利之目的）。
3.被告仍應先行通知原告補送證據件之期限，迨原告逾期未補件，始再課原告逾期未補件之不利益，詎被告逕以函通知原告已逾補件期限，且課予原告補充證據之規費支出義務，使原告受到不利，顯有違背法令：
⑴按最高行政法院78年判字第437號判例：「原告於訴願程
序中提出與本案系爭裝置相似之實物，既經證明與發本案時所提出刊物上登載之照片所指物品為同一物，則該物即係原告舉發本案之同一基礎事實之證據，顯非另一獨立之新證據，其提出自不受專利法施行細則第29條第4項自異議或舉發之日起一個月內補提理由及證據之限制。」（原證4）， 實已清楚揭示，倘異議人或舉發人，於異議或舉發程序中提出同一基礎事實之證據，其提出即不受專利法施行細則關於自異議或舉發之日起一個月內補提理由及證據之限制，亦不受任何時間上之限制。⑵且被告 (89)智專字第8940037號命令亦稱：「以往實務
上認為上述補提理由及證據之一個月期間係屬法定不變期間，但於補提新理由及新證據時才有此限制，並不及於補強理由及補強證據。詳言之，若逾一個月補提之證據與原引證證據係同一基礎事實之證據，則屬補強證據，參照最高行政法院78年度判字第437號判例，不受上述法條關於補提理由及證據法定期間之限制。例如，補提證據與原提證據分別為同一製造業者所印製、開發的型錄及具有相同型號之實物，顯然二者具有關連性，其所補提者屬補強證據，故其補正雖逾法定期間，仍應予受理。…」，更重申前揭最高行政法院之判例，明言倘補提之證據與原引證證據係同一基礎事實之證據，即屬補強證據，其提出即不受補提理由及證據法定期間（一個月）之限制。
⑶再按訴願決定書引申之最高行政法院89年度判字第1957
號判決要旨：「異議人依專利法第102條第1項提起異議，雖於異議之日起逾一個月，始補提理由及證據，惟如專利主管機關尚未處理完畢時，仍應就其補提之證據為實體上之審酌，不得因其逾期補提而不予受理。經查原告於87年3月31日提起異議，專利法第102條第2項所規定之一個月期限，應於同年4月30日屆滿，被告於同年4月27日發函通知原告應於同月30日以前補提異議理由書及書證，原告於同年5月1日始補提異議理由書及證據，雖已逾期一日，惟被告當時尚未就該異議事件為決定，非不得就原告所補提之異議理由書及證據，為實體上有無理由之審究，被告卻於87年5月25日，以原告補提理由及證據逾期為由，決定不予受理，揆諸前開說明，自有未洽。」，並非被告即可逕行通知原告已逾補件期限之依據，訴願決定書所引據之判決意旨，與本案事實並不完全相符，自不得比附援引，更何況，前揭裁判案例事實中，被告亦曾先行發文通知異議人補件期限，然被告於本件異議程序中，卻逕以乙紙通知，告知原告「異議證據7 已逾補件期限」，若欲補件，「請依法辦理異議補充證據」（於此補充程序，原告必須另行繳納新台幣2000元之規費，被告此舉，顯使原告受有額外支出之負擔及不利益）。本案與前揭案例事實皆係須補提異議證據，惟前案中被告尚且發文通知異議人補件期限，於本案中且逕自通知原告已逾補件期限，亦顯然有違行政程序法第6 條：「行政行為，非有正當理由，不得為差別待遇」之規定，而有違背法令，被告異議審定書應予撤銷。
⑷綜上，原告於異議程序補提補強證據，依前揭最高法院
判例及被告命令所揭示，均不應予以補件之限制，原告本擬提出之異議證據7，係異議證據6影像對位半自動曝光機之相關照片資料，係同一基礎事實之補強證據，縱逾一個月之期間，被告亦不得拒絕原告提出，仍應加以審議，惟被告卻逕自函知原告已逾補件期限，致原告如欲補充證據尚須另行繳納2000元之規費，明顯使原告受有不利益，被告此舉實已逾越法律及判例之意旨，亦明顯違反其自行發布之命令，復有行政行為，無正當理由而為差別待遇之違法，應予撤銷；原訴願決定未審酌上情，逕以案情與本件並不完全相同之最高法院裁判意旨，為駁回原告訴願之理由，亦顯有漏未審酌事實之違法，而應撤銷。
4.綜上所述，被告指出系爭專利利用光學尺、雷射定位器以計算CCD移動距離更具進步性，顯與事實不符；而系爭專利於桌面上設有複數個氣孔，以與真空吸引機之吸氣管連通，更是熟知該項技藝人士所能輕易轉用，不具任何進步性之處易言之，系爭專利乃運用引證1 至4 之技術予以組合，為熟悉該項技術者所能輕易完成且未能增進功效性，因此，被告於異議審定書提出，以及訴願機關於訴願決定書之理由，根本不足以證明該系爭案具進步性之事實，顯已違反專利法第98條第2 項規定，甚至未予說明何以引證3結合引證1 或引證2 ，仍無法證明系爭案不具進步性，亦有決定不備理由之違法，復又違法限制原告得隨時於異議程序中提出證據之權利，亦顯有瑕疵。
㈡被告主張之理由：
1.原告所提引證1至引證4並無揭露有系爭案之距離量測機構所包括之使用單軸移動滑軌平行設置的光學尺及雷射定位器等構件，且系爭案之技術係將CCD攝影機對焦於雷射定位器所投射之標線上進行對位，與引證3、4之僅採CCD影像對位特性不同，難稱系爭案之光學尺及雷射定位器之運用屬習用CCD之「上位化」。引證2CCD影像拾取系統與系爭案雷射定位器所界定的技術內容不同。雷射定位器與光學尺都是共同作用提供兩量測影像移動距離的運算，與引證案CCD影像拾取系統的技術內容不同。更遑論以引證1至引證4之組合證明系爭案藉光學尺輔助、修正量測物件放置位置偏差之設計，及CCD移動距離之計算不具進步性。
故起訴理由主張顯不可採。
2.至於起訴理由所稱之證據7，從93年1月20日提出異議申請起至被告通初答辯前仍未得見，卻反據原證4、5、6對「補強證據」之補送規定一再爭執，實無理由。蓋專利爭議案件事涉兩造權益，並不能因一造之拖延或自誤而延宕審定，本異議案被告既有於93年3月2日以（93）智專一（二）15114字第09340306440號函知原告得依「補充證據」型式送審，即被告審定處分前仍受理證據7之補件。原告在被告審定前（93年11月23日，距通知隔達10個月）仍未以補充證據形式送被告審查。原告以尚未證明存在之證據一再起訴，並無理由。被告自無違反原證4、6最高行政法院判例之意旨。
3.需從4個引證案證明系爭案不具進步性的判斷，表示系爭案的結構設計並非易於思及。且引證1到引證4沒有光學尺及雷射定位器的揭露。
㈢參加人主張之理由：
1.引證1到4都是曝光機的設計，與系爭案量測機的目的、功能不同。所以不能作為進步性的判斷依據。
理 由
一、系爭案係於91年12月11日申請新型專利，被告於92年9月3日審定准予專利，則系爭案有無應不予專利之原因，應以核准審定時所適用之自90年10月24日修正公布之專利法為斷，合先敍明。
二、按「稱新型者，謂對物品之形狀、構造或裝置之創作或改良。」、「凡可供產業上利用之新型，無下列情事之一者，得依本法申請取得新型專利：一、申請前已見於刊物或已公開使用者。... 」、「新型係運用申請前既有之技術或知識，而為熟習該項技術者所能輕易完成且未能增進功效時，雖無前項所列情事，仍不得依本法申請取得新型專利。」為系爭案核准審定時專利法第97條、第98條第1項第1款及第2項所明定。依系爭案專利說明書之記載，其申請專利範圍為：
1.一種單軸精密量測機構造，主要係在一機體上設有一桌面，而在桌面上方設有一監視器，以及在桌面底部設有一距離量測機構等所組成；其特徵在：其中之距離量測機構係設置於桌面底部由下而上取像，使用單軸移動滑軌平行設置之光學尺讀取長度資料，以計算CCD攝取兩量測影像的中心相對位置，獲得兩量測點的長度；且桌面為一透明板面，在其上具有複數個氣孔，該等氣孔與真空吸引機之吸氣管連通；距離量測機構係設於桌面底部可往復橫向移動，其至少包括有光學尺、雷射定位器及CCD攝影機等，該CCD攝影機係對焦於量測點，並可將影像傳送到監視器上者。
2.如申請專利範圍第1項所述之單軸精密量測機構造，其中在桌面上方之機體上設有一壓平機構，該壓平機構係可自動上下移位，且經程式控制而可具有多段的停止高度者。
3.如申請專利範圍第2項所述之單軸精密量測機構造, 其中之CCD攝影機得以二具CCD攝影機的倍率不同且對焦於同一量測點者。
4.如申請專利範圍第1 項或第2 項所述之單軸精密量測機構造，其得於機體近桌面適當處設有一個以上的溫度感應器，當其取得桌面附近的環境溫度資料後，其配合電腦內建之溫度補償程式的運算，以可隨時自動調整與補償量測時因溫度變化所產生的誤差者。
三、依原告93年1 月20日異議申請書之記載，原告於申請異議時，並未主張系爭案不具產業利用性，原告於審理時始另主張系爭案有不具產業利用性之事由，業未經被告審查，核屬得否另案提出舉發問題，尚無從於本件加以審究。另原告已不爭執引證1 至引證4 均不能證明系爭案不具新穎性，爭點限縮於以引證1 至引證4 證明系爭案不具進步性（95年6 月13日準備程序筆錄參照），本件自應就該爭點據以審究。原告雖主張系爭案在一機體上設有一桌面，該桌面為一透明板面係相當於引證1 底框、引證2 曝光框之玻璃面或引證3、4之玻璃曝光面；桌面之上方設有一監視器，係相當於引證1 、
2 之顯示介面；桌面底部設有一距離量測機構，係相當於引證1 之曝光框下方設置兩具攝像機、引證2 之CCD 影像拾取系統或引證3 、4 之CCD 影像對位檢測系統；系爭案距離量測機構可往復橫向移動，包括有光學尺、雷射定位器、兩
CCD 攝影機等，其中該兩CCD 攝影機係對焦於量測點，並可將影像傳送到監視器，係相當於引證1 之兩具攝像機可相向或相背移動，且藉一氣壓缸昇降對焦，並將該攝像機之訊號傳至一顯示介面因此，系爭案透過距離量測機構之往復移動來達到由下而上取像技術之作法、結構特點均已完全在引證
1 、2 、3 、4 對等組合中揭露出。另由引證3 之半自動曝光機述及之特點得知，該CCD 影像對位在曝光前先作對位檢查，100 ％保證對位精度，利於數據化品質掌控；CCD 影像對位系統保障在曝光製造中最重要的孔偏及層間對位問題，以及由引證四之影像對位半自動曝光機述及之特點可知，其
CCD 影像對位系統，輔以1 mil 以內高重覆度曝光框，可依客戶的容許偏移量設定對位精度，確保無對位不良品產品，因此，原處分書中指出系爭專利利用光學尺、雷射定位器等構件以計算CCD 移動距離之作法，較引證資料所能達成之功效更具進步性，顯然與事實不相符。系爭專利的技術之光學尺與雷射定位器功能係為包含於引證1 、2 、3 、4 對等對
CCD 的上位化應用中，即CCD 用普通影像辨識及量測軟體即可上位化包括光學尺與雷射定位器之功能。另系爭案在機體之桌面上設有氣孔，以與真空吸引機之吸氣管連通，俾吸固欲量測之底片或電路板之技術特點，係與引證3 之曝光框輔以吸真空溝槽相當，系爭專利於申請專利範圍揭露之組件、技術內容及功效係已揭露於引證資料對等組合中，不具有任何進步性等等。
四、經查，引證1 係提供一種曝光機之曝光櫃及底片之定位結構曝光框之定位結構，引證2 係有關一種曝光機之電路板對位裝置，引證3 係引證2 第122 頁所揭川寶科技股份有限公司E2000-5KMD系列半自動曝光機之相關照片，上述引證均無系爭案獨立項所揭示光學尺、雷射定位器等構件可提供兩量測影像移動距離之計算，亦無於桌面上設複數個氣孔以真空吸引機之吸氣管連通俾吸固欲量測之底片或電路板之結構揭露。引證4 係2000年1 月10日穩昇公司發行之「電路板製造設備與物料採購指南」復刊第4 期第249 頁所揭川寶科技股份有限公司E2000 系列影像對位半自動曝光機，僅揭露E2000系列影像對位半自動曝光機之外觀及CCD 之功能，並無作為精密量測之相關構件可供比對。系爭案由雷射光定位標示第一量測點位置，電腦自動讀取光學尺數據, 同時CCD 自動擷取量測影像並計算出第1 測量點與光學尺的相對中心位置；當移動定位量測第2 點位置，電腦自動讀取光學尺數據量測影像，同時CCD 自動再度擷取量測影像，並計算出第2 測量點與光學尺的相對中心位置；兩中心點相對位置經電腦計算即計算出長度距離，用以獲得精密的量測值。而引證2 之
CCD 影像拾取系統或引證3 及4 之CCD 影像對位檢測系統，均未揭露以光學尺、雷射定位等構件作為CCD 移動距離計算之功效，引證2 需分別於玻璃面、下底片，電路板、上底片設穿孔，對位孔供對位銷穿伸及設標靶方可供攝像機疊合影像以控制伺服滑台作動，系爭案係將CCD 攝影機對焦於雷射定位器所投射之標線上進行對位，與引證3 、4 之僅採CCD影像對位特性不同，自不能謂CCD 用普通影像辨識及量測軟體即可上位化包括光學尺與雷射定位器之功能。因此，縱將引證3 所揭示之吸真空溝槽結構與其他引證組合，仍不足以證明系爭案經由光學尺、雷射定位等構件作為CCD 移動距離計算，可獲得精密的量測值不具功效之增進。原告主張系爭案光學尺與雷射定位器功能係為包含於引證1 、2 、3 、4對等對CCD 的上位化應用中，系爭案不具進步性一節，核非可採。
五、又原告於93年1 月20日異議申請書所主張之異議證據7 係引證4 影像對位半自動曝光之相關照片，並於異議申請書載明後補，則原告本應依其申請書之陳明自行後補，並毋須被告再行通知，原告主張被告以93年3 月2 日函文通知原告之前，從未以任何書面指示或通知原告補件之期限，使原告遭到被告之突襲，顯非可採。又因原告嗣後均未再行補提該異議證據，則被告於93年3 月2 日以（93）智專一（二）15114字第09340306440 號函通知原告關於異議證據七已逾補件期限，若欲補件請依法辦理異議辦理補充證據等語，原告於審定前如補提該證據，被告仍得依法加以審究。而原告在被告93年11月23日作成審定前，距其上述通知已達8 個月，仍未以補提該異議證據送被告審查。被告因此認本件異議並無異議證據7 ，於法亦無違誤。原告既於審定前迄未提出異議證據7 ，與最高行政法院78年判字第437 號判例所指已提出與舉發本案之同一基礎事實之證據者，情形顯有不同，自難援引作為有利原告判斷之論據。至原告所指若另行辦理異議補充證據，尚須繳納2000元之行政規費，明顯使原告受到不利益部分，應屬原告已補異議提證據時再作爭執事項，本件原告既迄未提出該異議證據，並無原告未繳納2000元行政規費而遭被告不予審酌之問題。因此，被告以原告迄審定前未提出異議證據7 而認本件異議案並無提出異議證據7 之判斷，並無違誤。
六、另原處分已說明利用運算程式控制壓平機構以上下移位且具有多段的停止高度者，或利用溫度補償程式以作誤差比對或校正乃一般習知技術，系爭案並無異議理由所指違反核准審定時專利法第105 條準用第22條第3 項部分，兩造就此亦未再爭執，亦不另贅論。從而被告以系爭案未違反核准審定時應適用之專利法第105 條準用第22條第3 項、第98條第1 項第1 款、第98條第2 項之規定，而為異議不成立之審定，於法並無不合，訴願決定予以駁回，亦屬妥適。原告主張前詞，請求撤銷訴願決定及原處分，並命被告對於系爭案應為異議成立之處分，為無理由，應予駁回。
據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依行政訴訟法第98條第3項前段，判決如主文。
中 華 民 國 95 年 9 月 28 日
第三庭審判長法 官 陳國成
法 官 吳東都法 官 陳秀媖上為正本係照原本作成。
如不服本判決，應於送達後20日內向本院提出上訴狀並表明上訴理由，如於本判決宣示後送達前提起上訴者，應於判決送達後20日內補提上訴理由書（須按他造人數附繕本）。
中 華 民 國 95 年 10 月 3 日
書記官 王英傑