臺北高等行政法院判決
95年度訴字第03668號原 告 達司克科技股份有限公司代 表 人 甲○○訴訟代理人 張慧明 律師送達代收人 乙○○被 告 經濟部智慧財產局代 表 人 蔡練生（局長）住同上訴訟代理人 丁○○
參 加 人 丙○○上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國95年8 月23日經訴字第09506176470 號訴願決定，提起行政訴訟，經本院命參加人獨立參加訴訟，本院判決如下：
主 文原告之訴駁回。
訴訟費用由原告負擔。
事 實
一、事實概要：緣原告前於民國91年5 月16日以「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」（下稱系爭案）向被告申請發明專利，經其編為第00000000號審查，准予專利，並於公告期滿後，發給發明第190377號專利證書。嗣參加人以其有違核准時專利法第20條之1 之規定，不符發明專利要件，對之提起舉發。案經被告審查，於95年4 月25日以（95）智專三（二）04074 字第09520307900 號專利舉發審定書為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分。原告不服，提起訴願，經遭駁回，遂向本院提起行政訴訟。
二、兩造聲明：㈠原告聲明：
1.訴願決定及原處分均撤銷。
2.訴訟費用由被告負擔。㈡被告聲明：
1.駁回原告之訴。
2.訴訟費用由原告負擔。㈢參加人聲明：訴願決定及原處分均撤銷（參加人未於準備程
序及言詞辯論期日到場，依其96年8 月29日所提書狀所為記載雖無訴之聲明，但已表明被告所為之處分並無違誤，其真意應係與被告聲明相同，茲依此記載）。
三、兩造之爭點：系爭案是否有違核准審定時專利法第20條之1之規定，不符發明專利要件，而應予以撤銷？㈠原告主張之理由：
1.引證案（即91年1 月22日申請、92年11月1 日公告之第00000000號「系統層級測試裝置」發明專利案）與系爭案非屬相同之發明，自應無違專利法第20條之1 規定：
⑴系爭案審定時專利法有關發明專利應具新穎性之規定，
係列於同法第20條、第20條之1 。而其中專利法第20條之1 係有關「擬制新穎性之規定」，此等先申請案所記載之發明以法律擬制（legal fiction ）為既有技術，而使後申請案之發明不具新穎性，故此項規定，僅能適用於考量新穎性之用，不得作為考量進步性之用（83年11月25日公告之專利審查基準所揭示）。故前揭專利法第20條之1 係為實踐一發明一申請之基本原則，若主張已核准之發明專利擬制喪失新穎性時，所提出的引證資料應為一「申請在先、公開在後」之前案，其與主張已核准之發明專利不具「新穎性」者，僅需舉證在系爭案申請日前即已公開的資料即已足矣的原則不同。而判斷系爭案是否因一件申請在先的專利申請案而擬制喪失新穎性，其爭點主要在於兩者是否「構成相同之發明」。⑵依系爭案申請專利範圍第1 項所載及有關系爭案中各機
構的運作流程，依其說明書第7 頁所描述之內容，可知系爭案主要係由兩個機構進行IC的輸送，其中一者為「受測IC/ 完測IC之送料機構13」係介於「受測IC之供料機構12」、「待測IC/ 完測IC緩衝承座14」、以及「完測IC測試級別分選承置盤17」此三者之間，負責待測IC/ 完測IC的運送。另一者為「IC測試吸嘴15」係介於「待測IC/ 完測IC緩衝承座14」和「測試公板22上之IC測試插合座221 」二者之間，負責待測IC/ 完測IC的運送，而上述各機構的動作則是由「中央控制單元11」協調控制。
⑶依據引證案之申請專利說明書及圖式內容可知，其中所
揭露的積體電路測試裝置包含：一容器24，供容納至少一該種實體板為測試實體板25；一進料機21，其容納至少一該種積體電路為待測積體電路；一安裝器22，用以將該待測積體電路從該進料機21移出，而插接於該測試實體板25上指定區26（例如一積體電路腳座、或一用以電連接該待測積體電路的部位），該安裝器包含一壓接機構23，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板25上指定區26；以及一測試器27，對已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25執行測試，以分辨該待測積體電路是否適用於該種實體板25，或區別該待測積體電路適用於該種實體板25的程度。而有關引證案中各機構的運作流程，依其說明書內容第7 、10、11頁「有關安裝器22的描述」及其說明書第7 、14頁「有關出料機的描述」，再配合引證案的圖2 及圖3 可知，引證案主要係由安裝器22將該待測積體電路移出該進料機21而插接於該測試實體板25上指定區26，而完成測試的積體電路則是利用另一出料機移到該測試實體板之外。惟引證案的該出料機34僅以圖3 中的一方塊形狀表示，並以簡單的文字描述「出料機（圖3 的34），配合（或利用）該移動具或習用機械手臂，將該完成測試的積體電路移到該測試實體板25之外」，顯見引證案所揭露之技術內容，實難謂已達到足以令發明所屬技術領域中具有通常知識者所能充分瞭解之程度。
⑷此外，依據引證案專利說明書第10頁及圖2 之一實施例
中有關安裝器22的說明，亦難令人瞭解究竟是由安裝器22還是壓接機構23將該待測積體電路插接到該測試實體板25○○○區○○○○○段技術之內容事實上包含有兩種以上的意義及技術手段。反觀系爭案則明確揭示是由「受測IC/ 完測IC之送料機構13」及「IC測試吸嘴15」分別執行運送IC以及將待測IC置入測試公板22上之IC測試插合座221 內的動作。依專利審查基準之內容所載「若先前技術揭露之技術特徵包含數個意義，申請專利之發明僅限定其中一個意義，則不得認定該發明中之技術特徵由該先前技術即能直接且無歧異得知。」由上述理由明顯可見，引證案係由兩個不同的機構「安裝器22」及「出料機34」來負責待測試和完成測試之積體電路的運送，其中「安裝器22」係用以運送待測試的積體電路，而另一「出料機34」則用以將測試完成的積體電路移到該測試實體板之外；相較之下，系爭案係完全利用同一個「受測IC/ 完測IC之送料機構13」來負責待測IC和完測IC的運送，與引證案相較兩者的構成及技術手段明顯不同。原處分載稱：「受測IC/ 完測IC送料機構相同於引證案之安裝器22，用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區」，就事實之認定顯然有誤，被告據以認定系爭案違反專利法第20條之1規定不具新穎性，所為之錯誤處分自應撤銷。
⑸系爭案「由中央控制單元11適時發出控制訊號給測試平
台2 及由測試平台2 讀取測試結果之訊號到中央控制單元11者」，而引證案「測試器27，係對已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25執行測試，以分辨該待測積體電路是否適用於該種實體板25，或區別該待測積體電路適用於該種實體板25的程度」，引證案並未揭露有任何可從測試器27讀取測試結果之中央控制單元；因此、系爭案與引證案兩者之構成及運作方式顯然不同，自然非屬相同之發明。
2.原處分違反專利審查基準中新穎性審查原則：⑴何謂獨立的引證資料，在前揭舊專利審查基準中雖未明
確說明，惟依被告於93年6 月28日修正發布，並於93年
7 月1 日施行之現行專利審查基準第2 篇第3 章2.3.2之單獨比對及2.2.2 之引證文件之相關審查基準內容可知，專利之新穎性審查應採單獨比對原則。而所謂獨立的引證資料，應以引證文件中有明確記載之內容，或是該引證文件中所敘及之另一參考文件內容為限，且該參考文件在引證文件公開日之前已能為公眾得知。反之，若某一引證文件之中並未記載另一參考文件之內容，則該引證文件與另一參考文件自不得視為獨立的引證資料，在對發明專利作新穎性判斷時自不得同時引用該引證文件與另一參考文件所載之內容作為判斷之依據。
⑵由被告所為之原處分理由可知，系爭案說明書之先前技
術並未揭露「中央控制單元」為被告所不爭之事實。而遍尋引證案之申請專利說明書及其圖式內容，亦未發現有「中央控制單元」之明確記載。但被告仍以系爭案說明書中有關先前技術之說明云云推導出：「系爭案之中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作，為習知技術」之結論，再輾轉引用「引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得」，此一認定顯然是將兩個非屬同一引證資料之內容（即「系爭案說明書中先前技術之部分」與「引證案」）合併使用，並據以認定系爭案不具新穎性，此點明顯違反專利審查基準中有關新穎性審查之單獨比對原則，其未依專利審查基準中新穎性審查應單獨比對之原則所為之違法處分，至為明確。
⑶「判斷發明有無新穎性時，應以發明之技術內容比對是
否相同（含能由熟習該項技術者直接推導）為準」，此點雖為舊專利審查基準所揭示；但其中有關何謂「能由熟習該項技術者直接推導」之說明或例示，在舊專利審查基準中雖然付之闕如，惟在被告於95年5 月所出版之「專利爭議案件審查訓練教材（2006年版）」第130 頁下緣註4 則有明確的例示：『舊審查基準所稱：「含能由熟習該項技術者直接推導」在概念上與新基準「能直接無歧異得知的內容」並無差異』；同樣地在該審查訓練教材中更有明示：『必須注意的是，所謂「能直接且無歧異得知的內容」是很小的範圍，推導之距離過遠，即屬進步性之範疇。實務上曾有將公知技術認為是可以直接推導的範疇，但並非公知技術即屬可直接無歧異推導。應思考的是，系爭案申請專利範圍未見於證據的技術特徵，在沒有證據的教示下，是否可以直接想到該技術特徵，而不會想到別的技術特徵；若有多種技術特徵皆為容易被想到，則非屬可直接無歧異推導的內容。』由前揭相關審查基準可知，所謂「形式上明確記載」應以在引證文件所公開的內容中確有文字或是圖式記載者為限，至於「形式上雖然未記載但實質上隱含的內容」，實務上則有案例可供參酌（如臺北高等行政法院判決92年度訴字第4502號）。
⑷依現行專利審查基準，請求項中所載之發明與引證文件
中所載之先前技術有下列情事之一者，即不具新穎性：①完全相同；申請專利之發明與先前技術在形式上及實質上均無任何差異。
②差異僅在於文字的記載形式或能直接且無歧異得知之
技術特徵。惟若先前技術揭露之技術特徵包含數個意義，申請專利之發明僅限定其中一個意義，則不得認定該發明中之技術特徵由該先前技術即能直接且無歧異得知。例如先前技術揭露之技術手段包含一技術特徵「彈性體」但未記載「橡膠」之實施例，而申請專利之發明中所記載之相對應技術特徵為「橡膠」，由於「彈性體」包含「橡膠」及「彈簧」等概念，故不得認定該發明中之「橡膠」由該先前技術中之「彈性體」即能直接且無歧異得知。
③差異僅在於相對應之技術特徵的上、下位概念。
④差異僅在於參酌引證文件即能直接置換的技術特徵。⑸依前揭專利審查基準之內容可知，若先前技術揭露之技
術特徵包含數個意義，申請專利之發明僅限定其中一個意義，則不得認定該發明中之技術特徵由該先前技術即能直接且無歧異得知。雖然系爭案與引證文件未必要完全相同才不具新穎性，但前揭②～④的數種態樣，仍需要以有「差異」之存在為基礎，而就一般經驗法則可知，如有所謂的「差異」自應有可以互為比較的相對應之事物或標的。反之，若系爭案與引證文件彼此未見相對應之事物可供比較（如其中一者有事物A 而另一者卻未見相對的事物A ），則此兩造即應屬不同。而系爭案的「中央控制單元」係系爭案之申請專利範圍中所明確記載之技術特徵，而引證案或系爭案說明書中先前技術形式上皆未載明任何對應的事務或標的亦為不爭的事實，故系爭案與引證案自應非屬相同之發明。參加人於補充舉發理由說明書第2 頁（94年5 月26日補充) 所稱「中央處理單元乃為具有通常知識者基於先申請案形式上明確記載之技術內容，．．．云云」已與事實不符。系爭案之「中央控制單元」形式上即然並未記載於引證案之專利說明書及其圖式之中，被告未作任何查證即予苟同，並認定「引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得」，其就事實之認定顯然有誤。
⑹另參臺北高等行政法院判決94年度訴字第2445號之判決
意見：「若先前技術揭露之技術特徵對系爭案差異部分之內容並未有何教示或指導，而須由熟習該項技術者以先前技術為基礎，經由邏輯分析、推理或試驗而可預期思及者，則已屬進步性判斷範圍，而非新穎性之判斷範圍」；因此被告於處分理由中主張系爭案所揭「中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作」，為習知技術，引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得，實有錯將「進步性」之判斷結果，認定系爭案不具「新穎性」之不當判斷。
3.原處分有不備理由之違法：⑴「自動化」係有別於以人力為主的處理程序，故就所屬
技術領域中具有通常知識者皆知，達成自動化應需透過機械或是器具加以實現，反之機械或是器具則不一定已具備「自動化」之功能。例如一般所稱自動機的控制系統，並非一定需要有「中央控制單元」，1997年第5 期之「機床電器」第3 頁即揭露：自動機控制系統分三類①按時間控制的系統；②按行程控制的系統，系統中沒有中央控制機構，各部件按照行程來動作；③混合式控制系統；即足以證明，自動化機械並不必然即有「中央控制單元」。又例如：傳統以人力灌溉的方式改以風車驅動水車進行自動灌溉的方式亦為自動化的另一簡單例子，此例即無所謂中央控制單元的利用。因此「自動化」僅為一概念之稱呼，其實現的方式及手段繁多，故所謂「自動化」實已包含多個意義，實在不應將「自動化」與「當然有中央控制單元」劃上等號。而系爭案具體指出設有一中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作，且該中央控制單元11可適時發出控制訊號給測試平台2 及由測試平台2 讀取測試結果之訊號；反觀該引證案或系爭案說明書中先前技術形式上均未載明相同之技術，自然不應據此認定依據引證案之內容即可直接想到系爭案申請專利範圍中之「中央控制單元」的技術特徵，而不會想到別的技術特徵，所以系爭案申請專利範圍中之「中央控制單元」的技術特徵自應非屬可依引證案即可直接無歧異推導的內容。
⑵由前述的說明應可瞭解，引證案雖已揭示藉由機器自動
化來取代習用的人工作業，但並不代表其當然有「中央控制單元」，若「中央控制單元」確為必要元件，則引證案即以「自動化」為訴求之主要目的，卻又未何在其專利說明書中揭示「中央控制單元」，因此用以實現機器自動化的方式或是技術手段，並不必然需要「中央控制單元」，此一道理不辯自明。被告僅憑補充舉發理由說明書第2 頁（94年5 月26日補充）所稱「欲達成機器自動化，除了所提出各構件外，殊不可免一定具備中央處理單元，以整合各構件進行自動化作業，故此中央處理單元乃為具有通常知識者基於先申請案形式上明確記載之技術內容，即能直接且無歧異得知實質上單獨隱含或整體隱含後申請案之發明中相對應的技術，因此中央處理單元係可由引證案推導得知，而不具新穎性．．．云云」片面之詞，未令參加人就引證案中確未揭露之「中央控制單元」確為自動化必需之元件的理由進一步舉證，亦未加以求證，即予率斷「引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得」，其原處分理由主觀認定「自動化當然需要中央控制單元」，對於論理過程亦未盡詳述之責，顯然有違論理法則，以及「處分不備理由」之違法。
4.本件之爭點在於有無專利法第20條之1 擬制喪失新穎性規定之適用。又判斷系爭案是否因為一件申請在先的專利申請案而擬制喪失新穎性，其爭點主要則在於兩者是否「構成相同之發明」。惟要對前後案之技術特徵作比較，必也前案之技術特徵已明確揭示，否則根本無從為比對。而本件引證案，如前所指陳除了中央控制單元沒有揭示外，尚有如下揭示不明之處：
⑴如引證案專利說明書第16頁「包含一加熱器（未示於圖
2 、3）」。⑵如引證案專利說明書第12頁「一測試信號識別器（未示於圖）」。
⑶如引證案專利說明書第11頁「該移動具（未示於圖2 、3）」。
⑷如引證案專利說明書第11頁「該測試器可以包含一測試連接器（未示於圖）」。
⑸如引證案專利說明書第11頁「該安裝器22包含一移動具
（因為可以採用習知常見的機械手臂，故未示於圖2 、
3 ，但示於圖6)」惟經檢視，此一移動具並未見揭露於於引證案專利說明書的「圖6 」。
⑹在引證案的圖2 及圖3 皆只是以簡單的方塊及箭頭表示機構，無從得知其實際架構為何。
⑺引證案的圖6 則只見到了以複雜之線條繪製的平面機構，沒有任何立體的透視圖可茲確定其架構為何。
在引證案所揭露內容嚴重不完整情形下，被告竟仍認為發明所屬技術領域中具有通常知識者，能依引證案直接且無歧異推得系爭案之內容，誠屬匪夷所思。相較之下，系爭案之圖式及文字內容則顯得極為清楚與明確；若認為引證案所揭露的內容足以令發明所屬技術領域中具有通常知識者能直接且無歧異得知系爭案之內容，實有違常理。
5.引證案之所以無法揭示完全，有其背景原因。原告係一機械製造公司，開發設計系爭案之IC（即晶片）測試處理機，係受威盛電子股份有限公司（下稱威盛公司）與矽品精密工業股份有限公司（下稱矽品公司）委託，其間矽品公司及威盛公司就將相關概念申請專利，矽品公司於91年1月22日申請，獲准第560615公告號「系統層級測試裝置」新型專利（即本件引證案）。威盛公司於91年1 月29日申請，獲准第548414公告號「自動化積體電路整機測試系統、裝置及其方法」發明專利。然而由於威盛公司主要係從事晶片的設計，矽品公司則是從事晶片的封裝測試，對於機械的製造並無概念，所以申請專利的內容都無法揭示完整明確之架構。而原告分別於91年3 月22日申請，獲准第562938公告號「IC測試處理機」發明專利（即系爭案），以及於91年5 月16日申請，獲准第562943公告號「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」發明專利。之後，在機械製造完成，進行交機、驗收及訓練時，矽品公司竟讓鴻勁公司之人員冒充矽品公司人員，參與驗收訓練，趁機剽竊並仿製原告之機械，而後以低價提供給矽品公司及日月光集團之福雷公司。甚而鴻勁公司也於91年7 月12日申請專利，獲准第551550公告號「IC檢測機之運送裝置」新型專利。原告爰對鴻勁公司提出民事侵權訴訟。鴻勁公司則利用本件參加人名義，以矽品公司之專利為引證案，對原告之專利提出舉發。
6.關於原告與引證案的專利所有人矽品公司間之爭議，茲有證據可以證明，即當矽品公司委託原告研發機械時，矽品公司之晶測研發部主管賴銀炫簽署有保密切結書給原告，而賴銀炫即是引證案專利發明人之一。由此顯見引證案根本就是矽品公司人員違反保密協議，將原告的設計搶先申請的專利。
7.矽品公司由於並非機械製造廠商，而且是在倉促間將原告的設計搶先申請專利，所以其第560615公告號「系統層級測試裝置」新型專利於91年1 月22日申請時，僅有5 個揭示不全的圖示及相關說明，於92年6 月23日才補充圖6 、圖6a、圖6b及相關說明，此可參引證案公告說明書。而該圖6 、圖6a、圖6b就是鴻勁公司提供的仿製機械的位置配置圖，此可將引證案圖6 與鴻勁公司第551550公告號「IC檢測機之運送裝置」新型專利說明書之圖示第1 圖比較，即可看出其中的相似性。且從該圖示除了可以看出矽品公司與鴻勁公司間的密切關係外，進一步也可看出，縱使矽品公司在引證案之專利說明書中，補充該圖6 之機械配置示意圖，仍無從讓人可以清楚瞭解該機械的架構究竟是什麼。若該圖6 的機械配置示意圖，已足以清楚揭示機械架構的技術特徵，則鴻勁第551550號新型專利說明書除了第
1 圖外，何以尚須有從第2-1 圖到5-4 圖等12個機械構造之立體圖示。
8.依現行專利審查基準第2 篇第3 章：「2.2.2 引證文件」之規定，故本件之引證案由於揭示不全且圖示尤其不清楚，因此只能參酌實質上隱含之內容為判斷，視所屬技術領域中具有通常知識者能否依引證案內容直接且無歧異的推知系爭案知的內容。原告之前以系爭案及第562943號「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」發明專利為引證案，對於鴻勁公司第551550號「IC檢測機之運送裝置」新型專利提出舉發，主張其不具新穎性。被告則以（95）智專三（二）04099 字第09520277160 號審定書為舉發不成立之處分，主要理由在於整體裝置與構造之技術特徵不同。若是如此，則被告之判斷顯然前後矛盾。原告與鴻勁公司第551550號專利都是在引證案之後，而引證案之圖6 又顯然是參考了鴻勁專利的第1 圖，又判斷新穎性必須全部要件全部相同，如果從引證案可以直接且無歧異的推知特定的整體裝置與構造之技術特徵，那系爭案與鴻勁公司第551550號專利應該要有相同的整體裝置與構造之技術特徵。然而，被告既認為系爭案與鴻勁公司第551550號專利整體裝置與構造之技術特徵不同，那麼從較為抽象的引證案可以推知的具體特定的整體裝置與構造，顯然就不是那麼直接且無歧異了。換言之，既然從抽象的引證案也可能可以推得鴻勁公司第551550號專利技術特徵，而被告又認為系爭案與鴻勁公司第551550號專利技術特徵不相同，那被告認為從引證案可以直接且無歧異的推得系爭案的技術特徵，顯然前後處分矛盾，於法不合。
9.雖然系爭案與引證案創作目的一樣，但結構不同。系爭案第2 圖可知為真空吸附的方式，而從引證案第4 、5 圖可知並非吸附的方式，而是使用彈簧夾取待測的IC片，且從引證案圖6 難以看出其結構，引證案的待測區從圖式無法看出其結構。
10.從引證案圖式可以看出係以彈簧壓制，被告認為是吸嘴已超出其專利說明書的記載內容。
11.即使從測試機台而言，引證案的測試實體板及測試的環境也沒有具體揭露是否與系爭案為相同的結構。
12.原告主張鴻勁公司如果是下位概念的話，系爭案也是屬於下位概念。原來創作概念都是一樣的，只是大家各自找人去申請，寫法或許有所出入。
㈡被告主張之理由：
1.原告起訴理由書第5 頁第3 段訴稱「系爭案係完全利用同一個受測IC/ 完測IC之送料機構13來負責待測IC和完測IC的運送，與引證案相較兩者的構成及技術手段明顯不同」；起訴理由書第6 頁第1 段及第7 頁第2 段主要訴稱系爭案之中央控制單元未見於引證案，並訴稱舉發案未依審查基準新穎性審查原則審查云云。惟上開理由屬於事實認定，原處分已敘明：系爭案之發明重點在於「測試平台」，依其說明書所述之先前技術第1 圖，可知系爭案請求項1中所揭機台中之「受測IC之供料機構12」、「受測IC/ 完測IC之送料機構13」、「待測IC/ 完測IC緩衝承座14」、「IC測試吸嘴15」、「測試埠口16」、「完測IC測試級別分選承置盤17」等，分別相同於其說明書所揭第1 圖習知技術之「待測IC預排入的供料機構11' 」、「可運送該IC到各站之送測IC/ 完測IC輸送機構12' 」、「待測IC/ 完測IC緩衝區121'」、「測試IC輸送臂13' 上之測試夾頭13
1 ' 吸取IC」、「測試區2'」、「完測IC放置盤14' 」，而系爭案請求項1 中所揭機台中之「中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作」，雖於先前技術中並未載明，然從其說明IC測試之過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件，但非系爭案要改良之處。
從上所述，可知系爭案請求項1 之「機台1 」所述皆為習知之構件。系爭案與引證案同為IC測試裝置之技術領域，系爭案請求項1 揭示有一機台1 ，該機台提供一中央控制單元11、受測IC之供料機構12、受測IC/ 完測IC之送料機構13、待測IC/ 完測IC緩衝承座14、IC測試吸嘴15、測試埠口16、完測IC測試級別分選承置盤17；一測試平台2 ，該測試平台係設置有組裝架161 、電源供應器21、測試公板22、基本開機啟動環境（即主機板）23、IC測試插合座
221 、輸出/ 輸入系統231 。按判斷發明有無新穎性時，應以發明之技術內容比對是否相同（含能由熟習該項技術者直接推導）為準，相同即不具新穎性。查系爭案所揭「中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作」，為習知技術，引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得；受測IC之供料機構12相同於引證案之進料機21，其容納待測積體電路；受測IC/ 完測IC之送料機構13相同於引證案之安裝器22，用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區。
2.原處分已敘明由系爭案說明書第6 頁第3 段之說明可知系爭案之發明重點在於「測試平台，利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境（即主機板Mainboard ）組成一測試平台來替代習用的測試頭部份」，而系爭案其「工作型態屬於現實環境測試，能對該IC作最詳細的測試作業，可提高IC測試的正確性」之目的與引證案「可以模擬終端使用者的狀態以進行測試，確保積體電路的使用品質」目的相同。而原處分亦詳細說明系爭案請求項1 已揭示相同於引證案（含能由熟習該項技術者直接推導），故引證案足以證明系爭案請求項1 ，係與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容相同者，而不具新穎性。
3.引證案使用壓接機構23可以直接推導系爭案的吸嘴。因為系爭案於專利說明書中所記載的習知技術，已經說明是用吸取IC並壓入測試頭的方式，所以吸取IC並壓入測試頭的方式屬於習知技術。從引證案的壓制機構可以直接推導系爭案的測試吸嘴的機構。
4.系爭案改良部分在於現實環境的測試平台，其他都是屬於習知的構件，關於現實環境的機台部分已經揭露。
5.就測試公板已於引證案揭露於舉發答辯時沒有爭執。
6.舉發引證案雖然有些習知的構件沒有寫出來，也是屬於可以直接推導的範圍。系爭案的申請專利範圍有2 項，第1項當中的構件有些雖然在舉發引證案當中沒有明示出來，但是屬於習知技術的話，這個就是熟知該樣可以推導，凡是在舉發的引證案當中，說明書或圖式當中，有揭露的技術內容都可以拿來作為系爭案前案的引證資料，不見得是完全一件比一件，因為這個是用擬制喪失新穎性。而直接推導是單一無歧異的。壓接機構系爭案是用吸嘴吸起來再壓下去。
7.壓接機構直接推導是用吸起來再壓接進去，習知技術也是用吸起來之後再壓接進去，總而言之，系爭案主要改良重點是測試公板，就好像在實體環境一樣在測試，不用單獨模擬，兩個技術內容針對兩個發明的目的都是一樣的。
㈢參加人主張之理由：
1.原告之專利範圍中有關機台之部分係為上位概念之專利：⑴專利審查基準中有關新穎性之判斷基準：「新穎性之審
查應以每一請求項中所載之發明為對象，而就界定該發明之技術特徵與引證文件中所揭露先前技術之事項逐一進行判斷。」⑵原告之專利範圍中有關機台部分之描述，其不論中央控
制單元、送料機構、緩衝承座、測試吸嘴、測試埠口以及分選承置盤等均為總括之概念，並無詳細之結構特徵以作為限制要件，因此係為上位概念之專利。
2.就原告主張有關引證案揭示不明之處：⑴引證案之專利說明書及圖式均充分揭露其實施之具體手
段，被告亦認為引證案已揭露必要技術構成而准予專利，因此引證案並無揭示不明的問題。
⑵縱使引證案尚有揭示不明之處，原告可對引證案提出舉
發程序，請求撤銷其專利權，惟與引證案已揭露系爭案請求項所載之事實並不生影響。
3.就原告與引證案專利權人「矽品公司」之爭執部分：⑴依專利法第72條第1 項之規定，係任何人得附具證據，
向專利專責機關舉發之，本件之參加人係完全依法提出舉發。
⑵有關引證案專利權之問題及多方之糾紛，原告可向被告提出舉發，惟該爭執部分完全與系爭案無關。
4.就訴外人「鴻勁科技股份有限公司」所有之第551550號新型專利舉發不成立案：
⑴訴外人「鴻勁科技股份有限公司」所有之第551550號新
型專利舉發案，其所引證之文件為系爭案，而非以「矽品公司」所有之專利作為引證案，因此舉發案所引用之證據係不相同。
⑵根據專利審查基準「上位概念發明之公開並不影響下位
概念發明之新穎性」。訴外人「鴻勁科技股份有限公司」所有之第551550號新型專利案，其專利請求項係為下位概念之專利，因此不僅與系爭案之情形不同，且與本系爭案無關。
⑶據聞原告對訴外人「鴻勁科技股份有限公司」提出之民
事侵權訴訟案，臺灣高等法院高雄分院早已作成二審宣判，並判決「鴻勁科技股份有限公司」並無侵害原告之專利已完全確定，因此原告之專利權應予撤銷，以免其繼續濫用該專利遂行其商業目的。
理 由
一、按凡利用自然法則之技術思想之高度創作，而可供產業上利用者，固得依系爭案核准時專利法第19條暨第20條第1 項之規定申請取得發明專利。惟若「申請專利之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容相同者，不得取得發明專利」復為同法第20條之1 所明定。而判斷申請專利之發明，是否為申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式所載之內容揭露，應以發明之技術內容比對是否相同，如兩者在形式或實質上均無差異，固屬相同；若其差異僅在於文字記載或描述，而其實質之技術內容並無差異，或其差異之技術內容，依該發明所屬技術領域中具有通常知識者基於先前技術形式上明確記載之技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容者，仍不能謂二者之技術內容為不相同。
本件參加人係主張系爭案之技術內容已可見於申請在先而在其後始公告之引證案，或可由引證案直接推導，系爭案有違核准審定時( 即90年10月24日修正公布) 專利法第20條之1規定而提起本件舉發。
二、系爭案依其專利說明書之記載，其申請專利範圍為：
1.一種應用於高頻IC測試之IC測試處理機，其主要包括：一機台：該機台提供一中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作、受測IC之供料機構、受測IC/ 完測IC之送料機構、對應測試埠口數目設置之待測IC/ 完測IC緩衝承座及至少一IC測試吸嘴及測試埠口以銜接測試平台、完測IC測試級別分選承置盤；一測試平台：該測試平台係設置於前述機台之測試埠口內之組裝架上，包含一電源供應器、一測試公板與基本開機啟動環境（即主機板），其測試公板為該受測IC製造商之合作廠之支援產品，並在該接合位置焊設一IC測試插合座，以插入受測IC；電源供應器及基本開機啟動環境為提供該測試公板（插入受測IC後）可維持系統正常運作之元件，該基本開機啟動環境內含一輸出/ 輸入系統, 可由機台之中央控制單元外接排線至輸出/輸入系統，以由中央控制單元適時發出控制訊號給測試平台及由測試平台讀取測試結果之訊號到中央控制單元者。
2.如申請專利範圍第1 項所述之應用於高頻IC測試之IC測試處理機，其中該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者。
三、系爭案於其專利說明書第5 頁已載明習知IC測試處理器主要係利用一機台與測試頭測試儀器所組成，該機台至少應具備有得將待測試IC預排入的供料機構，及可運送該IC到各站之送測IC/ 完測IC輸送機構，利用送測IC/ 完側IC輸送機構將
IC 送 到待測IC/ 完測IC緩衝區上，並將IC移入測試區後，由測試IC輸送臂上之測試夾頭吸取IC並壓入測試頭進行測試，測試頭並產生測試數據給機台，之後再同樣以測試IC輸送臂將IC搬至待測IC/ 完測IC緩衝區，再由送測IC/ 完測IC輸送機構將IC依測試數據配送到所屬的完測IC放置盤的等級內者。…。習用IC測試處理器所用之測試頭儀器屬於模擬環境，而非現實環境測試，因此若干無法模擬的功能就無法測試得到…。系爭案利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境組成一測試平台來替代習用的測試頭部分等語。其說明書第1 圖習知技術亦揭明「待測IC預排入的供料機構11'」、「可運送該IC到各站之送測IC/ 完測IC輸送機構12' 」、「待測IC/ 完測IC緩衝區121'」、「測試IC輸送臂13' 上之測試夾頭131 ' 吸取IC」、「測試區2'」、「完測IC放置盤14' 」等構件。分別相當於系爭案請求項1 中所揭機台中之「受測IC之供料機構12」、「受測IC/ 完測IC之送料機構13」、「待測IC/ 完測IC緩衝承座14」、「IC測試吸嘴15」、「測試埠口16」、「完測IC測試級別分選承置盤17」等。
系爭案請求項第1 項中所揭機台中之「中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作」，雖於前揭圖示並未載明，但由系爭案專利說明書所記載習知技術之機台供料機構、輸送機構、測試區以及由測試IC輸送臂上之測試夾頭吸取IC並壓入測試頭進行測試，測試頭並產生測試數據給機台，之後再同樣以測試IC輸送臂將IC搬至待測IC/ 完測IC緩衝區，再由送測IC/ 完測IC輸送機構將IC依測試數據配送到所屬的完測IC放置盤的等級內之IC測試作動過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件。因此，中央控制單元，亦非系爭案改良之處。從而，系爭案申請專利範圍第1 項關於一機台：該機台提供一中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作、受測IC之供料機構、受測IC/ 完測IC之送料機構、對應測試埠口數目設置之待測IC/ 完測IC緩衝承座及至少一IC測試吸嘴及測試埠口以銜接測試平台、完測IC測試級別分選承置盤等均屬習知構件，其改良部分仍在其測試平台。
四、次查，引證案係一種對積體電路作系統層級測試的裝置，依其申請專利範圍之界定，已揭示有容器、進料機、安裝器、測試實體板、壓接機構、測試器及轉向器等。其中系爭案系爭案「受測IC之供料機構12」相同於引證案「進料機21」，以容納待測積體電路；「受測IC/完測IC之送料機構13」相同於引證案之「安裝器22」，用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區；系爭案待測IC/完測IC緩衝承座14，依前所述，已屬習知技術；另依引證案所揭露具有中繼轉運功能之「轉向器」亦可直接推導而得系爭案待測IC/ 完測IC緩衝承座14之技術內容。系爭案「IC測試吸嘴15」由系爭案專利說明書第5 頁第11行起，敘述「由測試IC輸送臂上之測試夾頭吸取IC並壓入測試頭進行測試，測試頭並產生測試數據給機台…」可證「IC測試吸嘴15」已屬習知技術。另由引證案所揭示之「壓接機構23，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板之指定區」之記載，以及申請專利範圍第7 項關於壓接機構係籍由…機械驅動…者揭示，參照前揭習知技術，熟習該項技術者亦能由引證案直接推導「IC測試吸嘴15」之技術內容，原告主張從引證案第4 、
5 圖可知並非吸附的方式，而是使用彈簧夾取待測的IC片，從引證案圖6 難以看出其結構，引證案的待測區從圖式無法看出其結構一節，非為可採。另系爭案「測試埠口16」相同於引證案之容器24以供容納實體板。而系爭案「完測IC測試級別分選承置盤17」相同於引證案之第二種容料器35、第三種容料器36，係供容納實體板。因此，系爭案申請專利範圍第1 項所界定之機台技術內容相同於引證案。
五、再查，關於系爭案技術改良之測試平台部分，系爭案之「測試公板22」相同於引證案之實體板25；「基本開機啟動環境23」相同於引證案之測試器27；引證案為自動化系統，而電源供應器為驅動元件之基本必要條件，故系爭案之「電源供應器21」為熟習該項技術者得由引證案直接推導而得者；系爭案IC插合座221 相同於引證案之指定區26；系爭案「輸出/ 輸入系統231 」功能相同於引證案之測試器27與測試實體板25間測試信號關係；「組裝架161 」得由引證案專利說明書第11頁第4 行所載技術直接推導而得（其技術內容具體說明，詳舉發審定書所載）。因此，系爭案申請專利範圍第1項所揭之「測試平台」亦相同於引證案。而系爭案申請專利範圍第2 項所述「該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者」，其僅為界定電源供應器之來源，可由熟習該項技術者由引證案直接推導而得。因此，系爭案之技術內容已可見於申請在先而在其後始公告之引證案，或可由引證案之技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容，系爭案之申請自有違前揭專利法第20條之1 規定。
六、原告雖主張引證案的出料機34僅以圖3 中的一方塊形狀表示，並以簡單的文字描述「出料機（圖3 的34），配合（或利用）該移動具或習用機械手臂，將該完成測試的積體電路移到該測試實體板25之外」，顯見引證案所揭露之技術內容，實難謂已達到足以令發明所屬技術領域中具有通常知識者所能充分瞭解之程度。但查，系爭案之技術內容已可見於申請在先而在其後始公告之引證案，或可由引證案之技術內容直接且無歧異得知，已如前述。至於引證案的出料機34是否已達到足以令發明所屬技術領域中具有通常知識者所能充分瞭解之程度，未在前述比對範圍，與判斷結果無關。而引證案安裝器22用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區，該安裝器包含一壓接機構，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板上指定區（申請專利範圍第
1 項參照），已說明係由安裝器包含一壓接機構，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板上指定區。原告主張依據引證案專利說明書第10頁及圖2 之一實施例中有關安裝器22的說明，難令人瞭解究竟是由安裝器22還是壓接機構23將該待測積體電路插接到該測試實體板25上指定區，顯非可採。
而引證案之出料機係配合安裝器將該完成測試的積體電路移到該實體板之外，其主要係要根據測試結果，將該完成測試的積體電路放到不同位置( 引證案專利說明書第14頁第5 行以下參照) ，且係於申請專利範圍第15項中加以界定，但引證案申請專利範圍第1 項並未界定有出料機之構件。再依引證案專利說明書圖式第3 圖所示，其安裝器將該待測積體電路從進料機移向該測試實體板25，測試完成後再移向轉向器33，再移向出料機34。足見安裝器於測試完成後仍係以同一構件即其本身所包含之移動具或習用機械手臂將完測IC移到該測試實體板25之外( 安裝器原係以該移動器或習用機械手臂將待測IC從進料機移到測試實體板上之指定區，此部分可參專利說明書第11頁第5 行以下) 。此由引證案專利說明書第14頁第5 行以下記載其出料機須配合移動具或習用機械手臂將完測IC移到該測試實體板25之外，亦可以加以佐證。因此，引證案安裝器包含移動具可將待測積體電路從進料機移向該測試實體板25，測試完成後再將完測IC移出該測試實體板25，其與系爭案「受測IC/ 完測IC之送料機構13」技術手段並無不同。原告主張引證案係由兩個不同的機構「安裝器22」及「出料機34」來負責待測試和完成測試之積體電路的運送，其中「安裝器22」係用以運送待測試的積體電路，而另一「出料機34」則用以將測試完成的積體電路移到該測試實體板之外；系爭案係完全利用同一個「受測IC/ 完測IC之送料機構13」來負責待測IC和完測IC的運送，與引證案相較兩者的構成及技術手段明顯不同一節，非屬可採。
七、又系爭案「由中央控制單元11適時發出控制訊號給測試平台2及由測試平台2讀取測試結果之訊號到中央控制單元11者」之技術內容部分。依系爭案專利說明書所記載習知技術之機台構件作動過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件，系爭案中央控制單元，並非系爭案改良之處，已如前述。而引證案「不管是圖2或圖3所示，本案對一種積體電路執行系統層測試的作業裝置中，該測試器27對已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25提供一測試輸入信號，而從已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25接收一測試輸出信號，並且根據該測試輸出信號發出一指示信號，以顯示該待測積體電路是否適用於該測試實體板。該測試器27更可以包含一測試信號識別器，用以輸入一信號設定值，並且根據該測試輸出信號是否符合該信號設定值而發出不同的該指示信號，以顯示該待積體電路是否適用於該種實體板」 (專利說明書第12頁第1行以下參照)。引證案既已揭露從已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25接收一測試輸出信號，並且根據該測試輸出信號發出一指示信號，以顯示該待測積體電路是否適用於該測試實體板，參照前述系爭案中央控制單元，並非系爭案改良之處，已屬習知之必要構件，則熟習該項技術領域之人亦可由引證案上述技術之說明直接推導而得系爭案可從測試器27讀取測試結果之中央控制單元。原告主張引證案未揭露此部分技術，系爭案與引證案兩者之構成及運作方式顯然不同一節，仍非可採。
八、又專利之新穎性審查固應採單獨比對原則，但關於前揭專利法第20條之1 兩發明是否相同則應就申請專利之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容加以比對，且如有差異之技術內容，依該發明所屬技術領域中具有通常知識者基於先前技術形式上明確記載之技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容者，仍不能謂二者之技術內容為不相同，已如前述。因此，關於系爭案所載之習知技術內容自非不得作為引證案是否可直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容判斷上之參酌依據。原告主張被告仍以系爭案說明書中有關先前技術之說明推導出：「系爭案之中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作，為習知技術」之結論，再輾轉引用「引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得」，顯然是將兩個非屬同一引證資料之內容合併使用，並據以認定系爭案不具新穎性，明顯違反專利審查基準中有關新穎性審查之單獨比對原則，被告認系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得，實有錯將「進步性」之判斷結果，認定系爭案不具「新穎性」之不當判斷部分，亦非可採。
九、又本件係以系爭案之技術內容與引證案所附說明書或圖式載明之內容是否相同或可由引證案直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容作為判斷基礎。至於引證案之技術內容中縱有系爭案所未具有之構件，並不影響系爭案與引證案所附說明書或圖式載明之內容是否相同或可直接推導之判斷。因此，關於引證案「包含一加熱器（未示於圖2 、3 ）」、「一測試信號識別器（未示於圖）」、引證案專利說明書第11頁「該移動具（未示於圖2、3 ）」、引證案專利說明書第11頁「該測試器可以包含一測試連接器（未示於圖）」、引證案專利說明書第11頁「該安裝器22包含一移動具（因為可以採用習知常見的機械手臂，故未示於圖2 、3 ，但示於圖6)」之差異，尚不影響上開結論之判斷。
十、關於原告主張矽品公司於91年1月22日申請，獲准第560615公告號「系統層級測試裝置」新型專利，威盛公司於91年1月29日申請，獲准第548414公告號「自動化積體電路整機測試系統、裝置及其方法」發明專利，原告分別於91年3月22日申請，獲准第562938公告號「IC測試處理機」發明專利（即系爭案），以及於91年5月16日申請，獲准第562943公告號「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」發明專利，牽涉其等研發技術之搶先申請專利，事屬另案爭議，無從於本件加以論究。而原告對於鴻勁公司第551550號「IC檢測機之運送裝置」新型專利所提出舉發，被告以（95）智專三（二）04
099 字第09520277160 號審定書為舉發不成立之處分，其被舉發案並非系爭案，該舉發案係基於被舉發案與舉發案各自不同申請專利範圍或申請書之技術內容比對所為之判斷，案情有異，自無從於本件援引比附。原告主張從抽象的引證案可能可以推得鴻勁公司第551550號專利技術特徵，而被告又認為系爭案與鴻勁公司第551550號專利技術特徵不相同，那被告認為從引證案可以直接且無歧異的推得系爭案的技術特徵，顯然前後處分矛盾，於法不合部分，非屬有據。
、從而被告以系爭案有違核准審定時專利法第20條之1 規定，而為舉發成立，應撤銷專利權之處分，於法核無違誤。訴願決定予以維持，亦屬妥適。原告主張前詞，請求撤銷訴願決定及原處分，為無理由，應予駁回。
據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依行政訴訟法第98條第1項前段，判決如主文。
中 華 民 國 96 年 9 月 13 日
第四庭審判長法 官 陳國成
法 官 陳秀媖 法 官 陳忠行上為正本係照原本作成。
如不服本判決，應於送達後20日內，向本院提出上訴狀並表明上訴理由，如於本判決宣示後送達前提起上訴者，應於判決送達後20日內補提上訴理由書（須按他造人數附繕本）。
中 華 民 國 96 年 9 月 13 日
書記官 王英傑