臺北高等行政法院判決
97年度訴字第0088號原 告 甲○訴訟代理人 乙○○律師被 告 經濟部智慧財產局代 表 人 王美花（局長）住同上訴訟代理人 丁○○
參 加 人 元帑科技股份有限公司代 表 人 丙○○訴訟代理人 紀冠伶律師上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國96年11月16日經訴字第09606077830 號訴願決定，提起行政訴訟，並經本院命參加人獨立參加被告之訴訟，本院判決如下：
主 文原告之訴駁回。
訴訟費用由原告負擔。
事 實
一、事實概要：參加人前於民國89年11月7 日，以「觸控面板之測試裝置及方法」向被告申請發明專利，經被告編為第00000000號審查，於91年7 月16日准予專利，並於同年8 月11日公告，期滿後發給發明第161102號專利證書（下稱系爭專利）。嗣原告於92年9 月3 日，以系爭專利有違核准時專利法第20條第1項第1 款、第2 項及第22條第3 項、第4 項規定，對之提起舉發。案經被告審查，依職權將舉發條款更正為同法第20條第1 項第1 款、第2 項及第71條第3 款規定，並於95年10月19日，以（95）智專三（二）04059 字第09520855840 號專利舉發審定書為「舉發不成立」之處分。原告不服，提起訴願，經經濟部以被告漏未審酌原告以部分證據之結合論究系爭專利不具進步性之主張為由，以96年4 月4 日經訴字第09606064980 號訴願決定書撤銷原處分，由被告另為適法處分。被告遂重行審查，復以同年7 月5 日（96）智專三（二）04059 字第09620376550 號專利舉發審定書為「舉發不成立」之處分。原告仍不服，提起訴願，經經濟部以同年11月16日經訴字第09606077830 號訴願決定駁回，即向本院提起本件行政訴訟。本院認本件撤銷訴訟之結果，參加人之權利或法律上利益將有可能受損害，爰依職權裁定命獨立參加被告之訴訟。
（一）原告聲明：
１、訴願決定及原處分均撤銷。
２、訴訟費用由被告負擔。
（二）被告聲明：
１、駁回原告之訴。
２、訴訟費用由原告負擔。
三、兩造之爭點：系爭專利是否有違核准時專利法第20條第1 項第1 款、第2項、第22條第3 項、第4 項規定，不符發明專利要件？
（一）原告主張：
１、原告於93年11月10日提出之舉發補充說明第4 至7 頁，指出系爭專利內容說明不清楚之處，而構成說明書或圖式不載明，實施為不可能或困難，系爭專利之說明書及圖式無法支持其申請專利範圍，且無法使熟悉該項技術者瞭解其創作內容且可據以實施，違反核准審定時專利法第22條第3 項、第4 項規定，且不具產業利用性。
２、位置回饋部分：
（１）原告所提出之引證案一（即86年1 月11日公告、第00000000號「觸控式螢幕板測試方法及裝置」發明專利案）發明說明第8 頁第10至12行內容，其實施例之工作平台20可為巿面上抓筆式繪圖機構造之引用。眾所皆知，繪圖機發明已久，其應用技術相當成熟，只要稍懂AUTO CAD繪圖者，均可讓繪圖機在一固定面隨意操作上，作間隔劃點、線、面。
（２）繪圖機雖靠雙軸來移動位置，但其所抓的筆可控制昇降，始可隨意繪出所要的點、線、面，故作業上也是
X 、Y 、Z ，與系爭專利相同。之所以能精確的對位，必有位置回饋方能有效偵知，此為極向軸正確走位必設之結構技術，任何熟悉技藝者由引證案一第一圖所示繪圖理想值與A ／D 實際值計算其實際偏移量，即可簡單看出所指即為系爭專利所指位置回饋訊號，兩者本為同等功能之不同表述。
（３）引證案四（即87年10月21日申請、92年7 月1 日公告、第00000000號「座標測量機器」發明專利案）、引證案五（即72年3 月17日公開、日本昭第00-00000號專利案）、引證案六（即73年1 月14日公開、日本昭第59-7531 號專利案）、引證案七（即80年6 月1 日公告、第00000000號「伺服馬達控制裝置」發明專利案），以及引證案八（即86年10月11日公告、第00000000號「伺服馬達定位控制及位置記錄晶片裝置」新型專利案）亦可證明位置回饋應用技術。
（４）綜上，系爭專利之位置回饋只能歸在習知技術，並非其主要專利技術。
３、啟始復位部分：
（１）如眾所知一般繪圖機均有精準的啟始復位功能，工作台面亦有尺標可供正確對位置放，只要將待繪標的觸控面板或紙張擺好位置，除非軌道積塵或機件勞損，否則其移動，無論是劃線、點位，均不會產生錯位。
（２）系爭專利雖標榜其結構上設有位置回饋，但如其說明書內文第10頁所述，在對待測觸控面板50正式進行測試之前，必須先進行標準面板測試動作，最終結果仍須由電腦設備20輸入操作者所預先設定的測試參數，例如測試起始點位置、測試點間距、測試面積、測試容許誤差及測試壓力等，方能進行之後的測試。且如第11頁內容所述，為避免待測試觸控面板50的定位誤差，必須先進行原點校正步驟：即先將電腦設備根據前述標準面板的測試標準點中第一測試標準點，始能決定待測觸控面板50的第一測試點。
（３）綜上，系爭專利的啟始定點方式與引證案一相比，不但明顯較為複雜、不易一次對位，且所應用之位置回饋又與引證案一大同小異，則有何進步可言？
４、壓力回饋部分：
（１）依引證案一說明第9 頁，參閱第四圖並配合第五圖，其U1、U2：（於圖中央處）為介面IC（積體電路），主要功能控制點距測試機2 之開關及自動調整測試筆
23 之 觸控筆頭24接觸觸控式螢幕板5 之筆壓。又U5（於圖中右側方）為PWM(脈波寬度調節電路) ，以控制測試筆23之觸控筆頭24的筆壓大小。足見引證案一亦有筆壓的控制，依當時技術，要設有壓力回饋顯非難事，此亦有引證案四至八可證。
（２）引證案一係主要用來測試觸面板的檢測機，如其說明第二圖、第三圖所示，其下筆的壓力可經由觸控螢幕受力產生相對的反應訊號，如第六至八圖所示。而經由介面卡而傳回電腦中分析運算，亦屬一種壓力反饋的形式。惟被告卻認定引證案一不具有壓力回饋，完全錯誤。
（３）系爭專利之專利範圍第1 項並未提及如何利用電壓材料構成一壓電感應元件（322 ），僅以上位概念提及壓力回饋，其界定範圍明顯包含如引證案一可達到壓力回饋的習知技術。
５、功能作用部分：
（１）如引證案一說明第10頁所述，其所設結構可作不同功能的測試：（１）壽命測試、（２）螢幕薄膜的線性測試、（３）工作區偏差度測試、（４）測試密度調整、（５）下筆的重量測試、（６）螢幕板薄膜的穩定度測試、（７）螢幕板薄膜下筆穩定時間測試、（８）有效工作區測試，唯有透過此完整的測試，觸控面板產品之可靠度方可信任。
（２）系爭專利所設之觸控式螢幕板測試方法及裝置，僅能用來間隔點位測試，所能處理的檢測範圍十分有限，功能作用均比引證案一遜色。其觸控式螢幕板受檢測時是採間隔跳點方式，產品的可靠度堪虞。充其量僅為加快檢測的投機生產行為，完全罔顧消費者的權益，與引證案一相較，乃明顯退步，則其結構不具新穎性及進步性。
（二）被告主張：
１、系爭專利之申請專利範圍第一項部分：
（１）系爭專利之申請專利範圍第一項獨立項所界定之觸控面板測試裝置，其主要結構為電腦設備、點壓測試機及一量測控制介面卡，與引證案一之主要結構為電腦設備、點距測試機及一筆壓調整控制介面卡等裝置雖然相似，然系爭專利之位置回饋控制、壓力回饋控制及測量質比對等並未揭示於引證案一中。
（２）引證案一之說明書第五圖雖提及U3位置解碼電路，然其說明書中對U3之電路並未明確揭示其將位置回饋信號予電腦設備，與系爭專利利用滑軌移動時所產生之位置回饋信號予電腦設備者不同。
（３）引證案一在筆壓壓力控制部分僅揭示筆壓調整介面可設定測試筆之筆壓，與系爭專利利用電壓材料構成一壓電感應元件，量測實際之測試壓力，將受測試壓力下所產生之電壓變化傳回電腦設備之方式不同，其量測值比對之方式亦不同。
（４）綜上，系爭專利申請專利範圍第一項獨立項之技術特徵與引證案一不同。又其利用位置回饋控制、壓力回饋控制及測量質比對觸控面板進行測試，亦與引證案一之技術手段不同，且系爭專利可得到觸控面板更明確之位置及壓力值，自具新穎性及進步性。
２、系爭專利之申請專利範圍第八項部分：
（１）引證案一之觸控式螢幕板測試方法，僅揭示對待測面板依原電腦設定之型號資料對待測面板作邊界測試校正，並未揭示系爭專利申請專利範圍第八項所載以測量標準面板得到測試標準值，及以待測觸控面板第一測試點校正等方法，故二案所使用觸控面板測試方法不同。
（２）以系爭專利之測試方法進行測試校正，當於測試機具或待測面板作變動調整時，即以標準面板進行重新校正測試裝置後再進行實際測試，可修正測試裝置因機器本身及人為之誤差問題，而得到較精準之量測結果，故其申請專利範圍第八項獨立項亦具新穎性及進步性。
３、系爭專利之申請專利範圍第二至七項及第九、十項等附屬項，因其分別依附之第一項及第八項獨立項具新穎性及進步性，各該附屬項自具新穎性及進步性。
（三）參加人主張：
１、引證案一部分：
（１）鈞院94年度訴字第654 號判決認定認定引證案一不足證明系爭專利不具新穎性及進步性：
①引證案一之電腦設備、點距測試機及筆壓調整控制介
面卡裝置雖與系爭專利相似，但系爭專利之位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對之技術內容並未揭示於引證案一中。且引證案一在筆壓壓力控制部分，僅揭示筆壓調整介面可設定測試筆之筆壓，與系爭專利利用電壓材料構成一壓電感應元件，量測實際之測試壓力，將受測試壓力下所產生之電壓變化傳回電腦設備之方式，以及其量測值比對之方式均有差異，系爭專利上述位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對之技術內容可得到觸控面板更明確之位置及壓力值，可改善習知技術對邊界位置及測試點定位不精確之缺點，具有功效之增進。
②引證案一之觸控式螢幕板測試方法，僅揭示對待測面
板依原電腦設定之型號資料對待測面板邊界測試校正，並未揭示系爭專利申請專利範圍第八項所載以測量標準面板得到測試標準值，及以待測觸控面板第一測試點校正等方法，故二案所使用觸控面板測試方法不同。且以系爭專利之測試方法進行測試校正，當於測試機具或待測面板作變動調整時，即以標準面板進行重新校正測試裝置後再進行行實際測試，可修正測試置因機器本身及人為之誤差問題，而得到較精準之量測結果，故申請專利範圍第八項獨立項具有新穎性及進步性。
③至系爭案申請專利範圍第二至七項及第九、十項等附
屬項，因其分別依附之第一項及第八項獨立項具新穎性及進步性，各該附屬項自難謂不具新穎性及進步性。
（２）引證案一所揭示之「邊界測試」，係為測出待測觸控面板的長寬大小（參引證案一之專利說明書第6 頁第12行），而「立即進行測試」中所提及之「電腦會依據程式自動算出左上、右上、左下、右下四個點座標為校正點」之校正方式（參引證案一之專利說明書第
6 頁倒數第4 行），亦與系爭專利特徵之待測觸控面板第一測試點校正不同。系爭專利之特徵係針對面板對應於標準面板之第一測試標準點所測得之測量值進行比對，並非針對待測觸控板之長寬大小或特定左上、右上、左下、右下四個點進行校正；且無論在引證案一的申請專利範圍或說明書中，均未提及待測觸控面板第一測試點校正之特徵，故系爭專利採用待測觸控面板第一測試點校正的方式進行測試，可得到較引證案一更為精確的定位。
（３）系爭專利說明書第5 頁第2 段業已載明引證案一之缺點包括點壓測試機環境條件的改變等，均可能影響既有測試標準值與實際測試值的誤差，故系爭專利採用現場測量標準面板的方式以得到測試標準值之特徵，係針對引證案一的缺點所進行之改良，足證兩者具有明顯之差異。
２、國立台灣科技大學蕭弘清教授之鑑定報告，係以系爭專利與引證案一皆具有測定觸控式螢幕板設備及校正方法相同，點距測試方式相同，控制介面卡測量轉換連線方式相同等特徵，認定「兩者之整體設計方式、技術運用告成功效皆實質相同」，核與前開確定判決認定之事實不符，且該鑑定報告就引證案一明顯未揭露系爭案所具有之「位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對之技術內容」之事實隻字不提，再證該鑑定報告內容之偏頗，要無足取。
３、引證案二部分：
（１）引證案二之中譯專利範圍內容為：「依據電腦指令作動作而在受測panel Ｘ- Ｙ面上移動附有突起物的筆末端roller，再依照程式的設定在受測panel 面上接觸轉動，並且對一定間隔的點加壓，當筆末端對panel 加壓時加壓點的電位變化使座標檢出裝置能偵測出該點的座標值，座標值資料經類比／數位轉換送至電腦顯示於螢幕表示。」
（２）系爭專利之專利範圍與引證案一、二之比較如下：┌──────────┬─────┬─────┐│ 系爭專利 │ 引證案一 │ 引證案二 │├──────────┼─────┼─────┤│ 電腦設備 │ 有 │ 有 │├──────────┼─────┼─────┤│ 點距測試機 │ 有 │ 有 │├──────────┼─────┼─────┤│ 筆壓調整控制介面卡│ 有 │ 無 │├──────────┼─────┼─────┤│ 位置回饋控制 │ 無 │ 無 │├──────────┼─────┼─────┤│ 壓力回饋控制 │ 無 │ 無 │├──────────┼─────┼─────┤│ 量測值比對 │ 無 │ 無 │└──────────┴─────┴─────┘
（３）引證案二之觸控面板的試驗裝置及試驗方法，其雖同樣揭示有電腦設備、點距測試機等類似結構。然引證案二之申請專利範圍、說明書及圖示，不僅未提及系爭專利所揭示之筆壓調整控制卡，亦未提及上述位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對等特徵，故引證案二之技術內容核與系爭專利明顯不同。
（４）引證案二與系爭專利獨立項第八項（觸控面板測試方法）相較，引證案二並未揭露測量標準面板以得到測試標準值，作為待測觸控面板第一測試點校正，或是以相同之測試參數測試標準面板與待測面板等之特徵，足證系爭專利具有新穎性。且以系爭專利之測試方法進行測試校正，可避免因更換欲測試之不同尺寸面板時，因點壓測試機於固定面板之固定點及測試筆調整之誤差而導致影響測試結果，與引證案二相較，系爭專利於測試機具或待測試面板變動調整時，即以標準面板進行重新校正測試置後，再進行實際測試，可修正測試裝置因機器本身及人為之誤差問題，可得到較精準之量測結果，故具有進步性。
４、引證案一及引證案二之結合，皆未揭示系爭專利之特徵及技術手段，非熟悉該項技術者可輕易完成，故引證案一及引證案二之結合無法證明系爭專利不具進步性。
５、引證案三部分：引證案三為億尚精密工業股份有限公司出具予日製產業股份有限公司之發票憑證及訂單，其中發票及英文訂單之品名為「Linearity Characteristic MeasurementFacility」，而中文訂購單之品名規格為「機器設備Touch panel 觸控面板性能量測機」，無法確認該機器設備之實際結構、技術特徵與系爭專利之差異。
６、引證案一、二及三之結合並無揭示系爭專利之特徵及技術手段，非熟悉該項技術者可輕易完成，無法證明系爭專利申請範圍第一、八項不具進步性。
７、引證案四至八部分：
（１）引證案四包含：一起重台加型基部，該基部由一聚合物構成且具有二單獨之支柱、一Y 軸橫桿、一X 軸橫桿及一Z 軸載運器。引證案五為有關於將抓取齒輪的齒溝與別的齒輪的齒溝相互齒合的抓取方法。引證案六包含：控制馬達連結構件、進給螺桿、單元本體、作業軸、荷重變換器、放大器、壓入頭及零件組成。引證案七為一種伺服馬達控制裝置，將複數個伺服馬達之驅動運動加以控制，使移動體移轉至棧械座標系之任意位置。引證案八包括：模擬數位差動分析產生器、雜訊濾波器、倍率乘法器、同步及總合邏輯電路、第一可程式化計數器、上升／下降計數器、計數器及第二可程式計數器。
（２）引證案四至八皆未揭示系爭專利之位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對等技術特徵。且引證案四之公告日晚於系爭專利申請日，引證案五至八之技術領域與系爭專利觸控面板之測試裝置及方法明顯不同，故無法證明系爭專利申請專利範圍第一、八項不具新穎性及進步性。
８、系爭專利之專利說明書及申請專利範圍，已以實施例詳述說明方法及步驟，原告所提不清楚之處均為熟習此項技藝者配合當時之技術，即能瞭解並據以實施，要無原告所指諸多不清楚及疑點部分。
理 由
一、本件應適用之法律規範：
（一）系爭專利申請日為89年11月7 日，被告於91年7 月16日審定准予專利，則系爭案有無應不予專利之情形，自應以核准審定時所適用之90年10月24日修正施行之專利法為斷。
（二）按利用自然法則之技術思想之高度創作，且可供產業上利用之發明，得依核准審定時專利法第19條、第20條第1 項之規定申請取得發明專利。而發明有違反同法第20條第1項第1 款規定（申請前已見於刊物或已公開使用者）、第
2 項規定（發明係運用申請前既有之技術或知識，而為熟習該項技術者所能輕易完成者），以及第71條第3 款規定（說明書或圖式不載明實施必要之事項，或記載不必要之事項，使實施為不可能或困難者），任何人得附具證據，向專利專責機關舉發之，同法第72條第1 項定有明文。準此，系爭專利有無同法第20條第1 項第1 款、第2 項及第71條第3 款所定情事而應撤銷其發明專利權，依法應由舉發人（即原告）附具證據證明之，倘其證據不足以證明系爭專利有違前揭專利法之規定，自應為舉發不成立之處分。
（三）專利說明書之充分揭露：按申請發明專利，專利申請權人應備具說明書，記載有關之先前技術、創作之目的、技術內容、特點及功效，使熟習該項技術者能瞭解其內容並可據以實施，並載明申請專利範圍，具體指明申請專利之標的、技術內容及特點。如說明書或圖式不載明實施必要之事項，或記載不必要之事項，使實施為不可能或困難者，即為不予專利或撤銷專利權之事由（核准審定時專利法第22條第1 項、第3 項、第
4 項、第71條第3 款規定參照）。準此，申請專利範圍每一請求項之記載均應明確，使該發明所屬技術領域中具有通常知識者由申請專利範圍之記載，參酌申請時之通常知識，即可明確瞭解其意義，而對其範圍不會產生疑義。
（四）產業上利用性之判斷：依核准審定時專利法第20條第1 項第1 款規定，申請專利之發明應具產業上利用性。所謂產業上利用性，係指發明之客體能在產業上製造或使用，且能產生積極、有益之效果。而是否具有產業上利用性，應以在申請日所提出的說明書、圖式及申請專利範圍所公開之發明本身及整體技術內容為判斷對象，而非實施發明所生產之物，且以所屬技術領域之技術人員能否實現為判斷能否實施之標準。
（五）新穎性之判斷：
１、核准審定時專利法第20條第1 項第1 款規定，申請前已見於刊物或已公開使用者，不得申請取得發明專利。此乃發明專利之新穎性要件，亦即在發明專利申請案之申請日之前，大眾經由刊物公開或使用公開所能得知之先前技術，將使系爭專利不具新穎性。
２、有關專利要件，新穎性之判斷較進步性為優先，且判斷新穎性時，係以具有同一性的發明為參考對象，並採「單獨對比」原則，即將發明專利申請案之申請專利範圍與每一份引證資料中所公開與該申請案相關的技術內容單獨地進行比較。又因附屬項包含獨立項所有的技術內容與特徵，如獨立項之發明具有新穎性，則該附屬項之發明亦具新穎性；倘獨立項之發明不具新穎性時，仍應對該附屬項之發明為新穎性之判斷。
（六）進步性之判斷：
１、核准審定時專利法第20條第2 項規定，發明係運用申請前既有之技術或知識，而為熟習該項技術者所能輕易完成者，不得申請取得發明專利，此乃發明專利之進步性要件。所謂「申請前既有之技術或知識」，係指所有已公開之技術或知識，必須其所揭示之內容足以教示或建議熟悉該項技術者，依據申請當時之技術水準能輕易完成某發明專利之申請標的時，該公開之技術或知識始為一具有證據力之引證案。亦即以發明專利申請案所屬技術領域於申請當時之技術水準，將申請案之發明與技術水準中公然知悉或實施或記載於刊物中之發明（即引證發明）相比較，並就該技術領域基於引證發明是否容易思及或完成申請案之發明，予以邏輯的推斷。
２、判斷進步性時，應整體判斷申請案之發明解決課題之技術手段、目的及效果，並得將其與數引證資料內容的組合（包含將數引證資料之某部分，或同一引證資料的不同部分加以組合）進行比對判斷。又因附屬項包含獨立項所有的技術內容與特徵，如獨立項之發明具有進步性，則該附屬項之發明亦具進步性；倘獨立項之發明不具進步性時，仍應對該附屬項之發明為進步性之判斷。
二、原告係以系爭專利說明書無法使熟悉該項技術者能瞭解其內容並可據以實施，且系爭專利不具產業上利用性、新穎性及進步性，違反核准審定時專利法第20條第1 項第1 款、第2項、第71條第3 款為由，提起舉發，原處分與訴願決定審定原告之舉發不成立，原告不服而提起本件行政訴訟（見經濟部智慧財產局第00000000 N02 003號舉發卷《下稱舉發卷第
3 冊》第262 至266 頁之專利舉發審定書，經濟部第Z000000000號訴願卷《下稱訴願卷》第45至55頁之訴願決定書），是本件應審酌者厥為系爭專利有無核准審定時專利法第20條第1 項第1 款、第2 項、第71條第3 款所定不予專利之情形？
三、系爭專利之技術內容：
（一）系爭專利之申請專利範圍共10項，其中第一項、第八項為獨立項，餘第二至七、九、十項為附屬項（見經濟部智慧財產局第00000000 N02號舉發卷《下稱舉發卷第1 冊》第
173 至192 頁之專利說明書）。其獨立項之內容如下：
１、申請專利範圍第一項：一種觸控面板之測試裝置，用以測試觸控面板，包括「電腦設備」、「點壓測試機」及「一量測控制介面卡」：
（１）「電腦設備」，用以輸入測試參數，並接收位置回饋值與壓力回饋值，且根據前述測試參數、前述位置回饋值與前述壓力回饋值，產生並送出決定測試點與測試壓力之控制信號後，接收測量值，並根據前述測量值之比對，以得到測試結果，並將前述測試結果儲存與輸出。
（２）「點壓測試機」，用以接收前述控制信號，並根據前述控制信號決定前述測試點與前述測試壓力，對前述觸控面板進行測量，以得到測量信號、壓力回饋信號以及前述位置回饋值，並將前述位置回饋值傳回至前述電腦設備，且傳送前述測量信號與前述壓力回饋信號。
（３）「一量測控制介面卡」，連接於前述點壓測試機，用以接收前述測量信號與前述壓力回饋信號，並將前述測量信號轉換成前述測量值，且將前述壓力回饋信號轉換成前述壓力回饋值，傳回至前述電腦設備。
２、申請專利範圍第八項：一種觸控面板測試方法，藉由電腦設備，控制點壓測試機，用以測量待測觸控面板，包括下列步驟：
（１）將已知測試結果之一標準面板放置於前述點壓測試機中，並輸入測試參數於前述電腦設備；
（２）前述電腦設備根據前述測試參數，決定前述標準面板上之複數測試標準點後，控制前述點壓測試機，於前述測試標準點測量前述標準面板，以得到測試標準值，並將前述測試標準值儲存於前述電腦設備中；
（３）將前述待測觸控面板放置於前述點壓測試機中；
（４）前述電腦設備根據前述測試標準點中之一第一測試標準點，決定前述待測觸控面板的一第一測試點；
（５）前述電腦設備控制前述點壓測試機，於前述第一測試點周圍之一小區域內，測量前述待測觸控面板，並與前述第一測試標準點之測試標準值比對，以修正前述第一測試點之位置，並根據修正後之前述第一測試點，決定前述待測觸控面板之複數測試點；以及
（６）前述電腦設備控制前述點壓測試機，於前述測試點測量前述待測觸控面板，以得到測量值，並將前述測量值與前述測試標準值比對，以得到、儲存以及輸出測試結果。
（二）系爭專利係一種觸控面板之測試裝置及方法，用以測試觸控面板（含數位式觸控面板及類比式觸控面板），包括：
電腦設備、點壓測試機及一量測控制介面卡，其中點壓測試機以位置回饋控制方式決定測試點之位置，對待測觸控面板進行測試時，先使用一標準面板作為測試標準，測量標準面板之測試標準點，以得到測試標準值，並儲存於電腦設備中。再根據測試標準點，決定並修正待測觸控面板之測試點，並進行測試，將所得之測量值與測試標準值比對後得到測試結果，加以儲存與輸出。請求項第一項之構造元件為電腦設備、點壓測試機及量測控制介面卡；請求項第八項則藉由電腦設備，控制點壓測試機，以測量待測觸控面板。
（三）系爭專利說明書業已充分揭露：
１、原告主張關於系爭專利申請專利範圍第一項之電腦設備、點壓測試機、量測控制介面、第二項之位置控制介面卡、第三項至第七項之測試裝置、起始點位置、測試容許誤差值、測試壓力、脈充電壓、網路卡、路由器、類比式觸控面板、第八項之待測元件固定方式、測試方法、第九項至第十項之各元件及其連結關係等，系爭專利之說明書及圖式無法支持其申請專利範圍，且無法使熟悉該項技術者瞭解其創作內容且可據以實施，且不具產業利用性云云（見經濟部智慧財產局第00000000 N02
002 號舉發卷《下稱舉發卷第2 冊》第358 至354 頁）。
２、按專利說明書應充分揭露申請專利之標的、技術內容、特點及功效，以使熟習該項技術者能瞭解其內容並可據以實施，此乃申請專利之揭露要件。而所謂產業上利用性，係指發明之客體能在產業上製造或使用，且能產生積極、有益之效果。於判斷之邏輯順序上，以揭露要件為先，專利要件（即產業上利用性、新穎性及進步性）在後。觀諸原告此部分主張之內容，重在系爭專利說明書未能清楚說明各組成元件及彼此間之連結關係，致熟悉該項技術者無從瞭解其發明內容，且無法據以實施，此乃系爭專利說明書是否滿足充分揭露要件之問題，原告將之與產業上利用性混為一談，容有誤會。
３、關於原告所提諸多不清楚之處，系爭專利說明書及申請專利範圍已以文字及實施例詳述說明其裝置、方法及步驟，業將其技術內容予以揭露，該發明所屬技術領域中具有通常知識者得由系爭專利說明書及申請專利範圍之記載，參酌系爭專利申請時之通常知識及技術，即可明確瞭解其意義並據以實施者，並無核准審定時專利法第71條第3 款所定「說明書或圖式不載明實施必要之事項，使實施為不可能或困難」之情事。原告要求系爭專利說明書應將系爭專利之所有組成元件及連結關係鉅細靡遺地記載，實無必要。
四、本件可資援用之引證案：
（一）按舉發案，經審查不成立者，任何人不得以同一事實及同一證據，再為舉發，核准審定時專利法第72條第4 項定有明文。又行政訴訟法第125 條規定行政法院職權調查事實及審判長之闡明權；第133 條規定應依職權調查證據等有關證據之調查，於專利舉發案件之審理，均不得超越核准審定時專利法第72條第4 項之規定。換言之，於行政爭訟之救濟程序，舉發人不得再提出主要或獨立之證據，而行政爭訟程序祇能審認主要證據是否適當或合法，進而調查補強證據而已（最高行政法院93年判字第746 號判決參照）。
（二）原告於舉發時提出引證案一至八及專利侵權鑑定技服報告（原編號為「附件二」）為其舉發證據，於起訴時提出引證案一至八，經本院闡明並命原告陳明系爭專利與各引證案之關連性，以證明系爭專利不具新穎性與進步性之主張，原告先稱引證案一、二、三之結合證明系爭專利不具進步性，引證案四至八證明壓力回饋、位置回饋係屬習用技術等語（見本院97年3 月26日準備程序筆錄第2 頁），後稱引證案一已揭露作業系統、滑軌設計、位置回饋、壓力回饋等習知技術，另引證案四至八證明壓力回饋、位置回饋為習用技術等語（見本院同年4 月8 日準備程序筆錄第
2 頁）。
（三）查訴外人林昆曾以引證案一為舉發證據，主張系爭專利違反核准審定時專利法第20條第1 項第1 款、第2 項規定，對之提起舉發，案經被告審查，於93年9 月1 日為「舉發不成立」之處分，復經訴願決定駁回，而提起行政訴訟，經本院於95年3 月31日，以94年度訴字第654 號判決駁回其訴，嗣經最高行政法院於96年11月8 日，以96年度裁字第2480號裁定駁回上訴，而告確定在案。此有本院94年度訴字第654 號判決、經濟部93年12月30日經訴字第09306233100 號訴願決定附卷可稽（見訴願卷第28至35、40至43頁），且為兩造所不爭執。而原告係於92年9 月3 日，以引證案一至八及專利侵權鑑定技服報告為舉發證據，主張系爭專利違反核准審定時專利法第20條第1 項第1 款、第
2 項規定及有第71條第3 款所定情事，對之提起舉發，已於前述。是依核准審定時專利法第72條第4 項規定，本件自不得再以引證案一為單獨之舉發證據，主張系爭案不具新穎性及進步性。
（四）原告所提引證案三乃統一發票、訂購單暨合約書、Pur-chase Order ，其貨物品名為「Linearity Characteris-
tic Measurement Facility」、「機器設備Touch panel觸控面板性能量測機」（見舉發卷第1 冊第108 至110 頁），僅能證明相關貨物交易關係，無從判斷各該貨物之構造與技術內容，更無法據此與系爭專利之技術特徵加以比對，自不得為本件引證資料。
（五）引證案四係於87年10月21日申請，於92年7 月1 日公告，此有專利公報在卷足證（見舉發卷第2 冊第347 頁）。而系爭專利申請日為89年11月7 日，公告日為91年8 月11日，是以引證案四乃申請在先而公告在後之專利引證案（核准審定時專利法第20條之1 規定參照），僅得為判斷系爭專利新穎性之引證資料，而不可為判斷進步性之引證。
（六）綜上所述，本院為判斷系爭專利是否具新穎性，所應審酌之引證資料乃原告所提出之引證案二、四至八；而為判斷系爭專利是否具進步性，應審酌引證案二、五至八，或引證案一與引證案二之組合。
五、新穎性之判斷：
（一）系爭專利申請專利範圍請求項第一項部分：
１、引證案二為觸控面板之試驗裝置及試驗方法，其雖揭示電腦設備、點距測試機之裝置，惟引證案二僅以pen 末端對panel 加壓而偵測出該點座標值，並未揭露系爭專利之筆壓調整控制介面卡、位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對等特徵，故引證案二無法證明系爭專利不具新穎性。
２、引證案四（座標測量機器）包含：一起重台加型基部（該基部由一聚合物構成且具有二單獨之支柱）、一Y 軸橫桿、一X 軸橫桿及一Z 軸載運器（見舉發卷第2 冊第
290 至347 頁）。引證案五（於自動抓取機中齒輪的抓取方法）為有關於將抓取齒輪的齒溝與別的齒輪的齒溝相互齒合的抓取方法（見舉發卷第2 冊第277 至289 頁）。引證案六（壓入裝置）為關於數值控制器在作業軸中的傳動取決於設置在該作業軸的荷重變換器，用以檢測壓入頭作用壓力（荷重）（見舉發卷第2 冊第270 至
276 頁）。引證案七（伺服馬達控制裝置），將複數個伺服馬達之驅動運動加以控制，使移動體移轉至機械座標系之任意位置（見舉發卷第2 冊第244 至269 頁）。
引證案八（伺服馬達定位控制及位置記錄晶片裝置）之組成包括：模擬數位差動分析產生器、雜訊濾波器、倍率乘法器、同步及總合邏輯電路、第一可程式化計數器、上升／下降計數器、計數器及第二可程式計數器（見舉發卷第2 冊第20 2至243 頁）。姑不論引證案四至八與系爭專利非屬相同之技術領域，且引證案四至八亦未明顯揭露系爭專利之位置回饋控制、壓力回饋控制，原告空泛主張引證案四至八皆可證實位置回饋及壓力回饋，而未具體指明各該引證案之何部分有所揭露，其主張自無可取。
（二）系爭專利申請專利範圍請求項第八項部分：引證案二、四至八均未揭露系爭專利獨立項第八項所示以標準面板之測試標準值，作為待測觸控面板第一測試點及複數測試點，並與待測觸控面板之測量值互相比對等特徵，故系爭專利具有新穎性。
（三）系爭專利申請專利範圍請求項第二至七、九至十項部分：系爭專利申請專利範圍第二至七項及第九至十項等附屬項，分別依附於獨立項第一項及第八項，而獨立項第一項及第八項具有新穎性，各該附屬項即具新穎性。
（四）綜上所述，系爭專利具有新穎性，並無核准審定時專利法第20條第1 項第1 款所定情事。
六、進步性之判斷：
（一）系爭專利與引證案一、二之比對：
１、原告主張引證案一、二與三之結合可證明系爭專利不具進步性。惟如前所述，系爭專利係為改進引證案一之缺點，而以壓力回饋、位置回饋，整合習知技術，加上測量值比對，以求精密控制。而引證案二僅有以pen 末端對panel 加壓而偵測出該點座標值，並未有如系爭專利揭露位置回饋控制、壓力回饋控制及測量值比對之技術內容。而引證案三之統一發票、訂購單暨合約書、Purchase Order，不得為本件引證資料，已於前述。
２、綜上，引證案一、二均未揭示系爭專利之位置回饋控制、壓力回饋控制及測量標準面板以得到測試標準值，作為待測觸控面板第一測試點校正，或是以相同之測試參數測試標準面板與待測面板等之特徵及技術手段，熟習該項技術者無法藉由引證案一、二之結合，而輕易完成系爭專利之測試裝置及方法。故組合引證案一、二並無法證明系爭專利不具進步性。
（三）系爭專利與引證案五至八之比對：引證案五至八與系爭專利非屬相同之技術領域，且引證案五至八亦未明顯揭露系爭專利之位置回饋控制、壓力回饋控制，原告空泛主張引證案五至八皆可證實位置回饋及壓力回饋，而未具體指明各該引證案之何部分有所揭露，其主張自無可取。
七、從而，系爭專利說明書及申請專利範圍業已充分揭露其技術內容，且原告所提之引證案均不足以證明系爭專利不具新穎性及進步性，被告以系爭專利無違核准審定時專利法第20條第1 項第1 款、第2 項、第71條第3 款規定，而為「舉發不成立」之處分，參照首揭法條規定及說明，於法並無不合。
訴願決定予以維持，亦無違誤。原告主張前詞，請求撤銷訴願決定及原處分，為無理由，應予駁回。
八、本件事證已明，兩造其餘主張或答辯，已與本院判決結果無涉，爰毋庸一一論列，併此敘明。
據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依行政訴訟法第98條第1項前段，判決如主文。
中 華 民 國 97 年 4 月 22 日
臺北高等行政法院第七庭
審判長法 官 李得灶
法 官 黃秋鴻法 官 陳忠行上為正本係照原本作成。
如不服本判決，應於送達後20日內，向本院提出上訴狀並表明上訴理由，如於本判決宣示後送達前提起上訴者，應於判決送達後20日內補提上訴理由書（須按他造人數附繕本）。
中 華 民 國 97 年 4 月 22 日
書記官 蔡逸萱